system of solid or liquid particles (2.9) suspended in gas
sistem čvrstih ili tečnih čestica (2.9) suspendovanih u gasu
sistem čvrstih ili tečnih čestica (2.9) suspendovanih u gasu
collection of weakly bound particles (2.9) or aggregates (2.11) or mixtures of the two where the resulting external surface area is similar to the sum of the surface areas of the individual components Note 1 to entry: The forces holding an agglomerate together are weak forces, for example van der Waals forces, or simple physical entanglement. Note 2 to entry: Agglomerates are also termed secondary particles and the original source particles are termed primary particles.
skup slabo vezanih čestica (2.9) ili agregata (2.11) ili mešavine ova dva oblika, sa rezultujućom spoljašnjom površinom sličnom zbiru površina pojedinačnih komponenata NAPOMENA 1 uz termin: Sile koje drže aglomerat zajedno su slabe, na primer Van der Valsova sila ili jednostavna fizička privlačnost. NAPOMENA 2 uz termin: Aglomerati se takođe nazivaju sekundarnim česticama, a originalne izvorne čestice se nazivaju primarnim česticama.
skup slabo vezanih čestica (2.9) ili agregata (2.11) ili mešavine ova dva oblika, sa rezultujućom spoljašnjom površinom sličnom zbiru površina pojedinačnih komponenata NAPOMENA 1 uz termin: Sile koje drže aglomerat zajedno su slabe, na primer Van der Valsova sila ili jednostavna fizička privlačnost. NAPOMENA 2 uz termin: Aglomerati se takođe nazivaju sekundarnim česticama, a originalne izvorne čestice se nazivaju primarnim česticama.
particle (2.9) comprising strongly bonded or fused particles where the resulting external surface area may be significantly smaller than the sum of calculated surface areas of the individual components Note 1 to entry: The forces holding an aggregate together are strong forces, for example covalent bonds, or those resulting from sintering or complex physical entanglement. Note 2 to entry: Aggregates are also termed secondary particles and the original source particles are termed primary particles.
čestica (2.9) koja sadrži snažno povezane ili srasle čestice čija je dobijena spoljašnja površina znatno manja od zbira površina pojedinačnih komponenata NAPOMENA 1 uz termin: Sile koje drže agregat zajedno su jake sile, na primer kovalentne veze, ili veze koje nastaju u procesu sinterovanja, ili složene fizičke privlačnosti. NAPOMENA 2 uz termin: Agregati se takođe nazivaju sekundarnim česticama, a originalne izvorne čestice se nazivaju primarnim česticama.
čestica (2.9) koja sadrži snažno povezane ili srasle čestice čija je dobijena spoljašnja površina znatno manja od zbira površina pojedinačnih komponenata NAPOMENA 1 uz termin: Sile koje drže agregat zajedno su jake sile, na primer kovalentne veze, ili veze koje nastaju u procesu sinterovanja, ili složene fizičke privlačnosti. NAPOMENA 2 uz termin: Agregati se takođe nazivaju sekundarnim česticama, a originalne izvorne čestice se nazivaju primarnim česticama.
ratio of length of a particle (2.9) to its width
odnos dužine i širine čestice (2.9)
odnos dužine i širine čestice (2.9)
method for identifying single atoms or molecules removed from a nanofibre (2.6) by pulsed field evaporation and detection by time of flight mass spectrometry Note 1 to entry: A position-sensitive detector is used to deduce the lateral location of atoms.
metoda za identifikaciju pojedinačnih atoma ili molekula skinutih sa oštrog vrha uzorka u obliku nanovlakna (2.6), otparavanjem u pulsnom režimu, i detektovanog u masenom spektrometru sa vremenom proleta NAPOMENA 1 uz termin: Detektor osetljiv na poziciju se koristi za posredno određivanje položaja atoma.
metoda za identifikaciju pojedinačnih atoma ili molekula skinutih sa oštrog vrha uzorka u obliku nanovlakna (2.6), otparavanjem u pulsnom režimu, i detektovanog u masenom spektrometru sa vremenom proleta NAPOMENA 1 uz termin: Detektor osetljiv na poziciju se koristi za posredno određivanje položaja atoma.
scanning force microscopy (deprecated) SFM (deprecated) method for imaging surfaces by mechanically scanning their surface contours, in which the deflection of a sharp tip sensing the surface forces, mounted on a compliant cantilever, is monitored [SOURCE: ISO 18115â2, definition 4.3] Note 1 to entry: AFM can provide a quantitative height image of both insulating and conducting surfaces. Note 2 to entry: Some AFM instruments move the sample in the x-, y- and z-directions while keeping the tip position constant and others move the tip while keeping the sample position constant. Note 3 to entry: AFM can be conducted in vacuum, a liquid, a controlled atmosphere or air. Atomic resolution may be attainable with suitable samples, with sharp tips and by using an appropriate imaging mode. Note 4 to entry: Many types of force can be measured, such as the normal forces or the lateral, friction or shear force. When the latter is measured, the technique is referred to as lateral, frictional or shear force microscopy. This generic term encompasses all of these types of force microscopy. Note 5 to entry: AFMs can be used to measure surface normal forces at individual points in the pixel array used for imaging. Note 6 to entry: For typical AFM tips with radii < 100 nm, the normal force should be less than about 0,1 μN, depending on the sample material, or irreversible surface deformation and excessive tip wear occurs.
instrument za vizuelizciju površine mehaničkim prevlačenjem sonde koju nosi konzola preko reljefne površine materijala merenjem deformacije gredice sonde usled promene intenziteta sile interakcije oštrog vrha sonde (igle) i površine materijala NAPOMENA 1 uz termin: AFM omogućava topografiju površine kako provodnih, tako i električno neprovodnih materijala. NAPOMENA 2 uz termin: Neki od AFM instrumenata imaju mogućnost pomeranja uzorka u x-, y- i z-pravcu, uz zadržavanje vrha sonde u jednom položaju, dok je kod nekih omogućeno pomeranje sonde, uz zadržavanje uzorka u jednom položaju. NAPOMENA 3 uz termin: AFM je moguće izvoditi u vakuumu, tečnosti, kontrolisanoj atmosferi ili vazduhu. Atomsku rezoluciju je moguće postići na odgovrajućim uzorcima, korišćenjem oštrog vrha sonde i odgovarajućeg moda slike. NAPOMENA 4 uz termin: Moguće je meriti mnogo različitih sila, kao što su normalne, bočne, sile trenja i smicanja, i tada se koriste termini mikroskopija bočnih sila, sila trenja ili smicanja. Generički termin uključuje sve pomenute tipove. NAPOMENA 5 uz termin: AFM se može koristiti za merenje sila normalnih na površinu pojedinačnih tačaka u nizu piksela koji generišu sliku. NAPOMENA 6 uz termin: Za tipičan prečnik vrha igle < 100 nm, normalna sila treba da bude manja od 0.1 μN, u zavisnosti od svojstava uzorka, jer inače dolazi do trajne deformacije vrha igle i površine.
instrument za vizuelizciju površine mehaničkim prevlačenjem sonde koju nosi konzola preko reljefne površine materijala merenjem deformacije gredice sonde usled promene intenziteta sile interakcije oštrog vrha sonde (igle) i površine materijala NAPOMENA 1 uz termin: AFM omogućava topografiju površine kako provodnih, tako i električno neprovodnih materijala. NAPOMENA 2 uz termin: Neki od AFM instrumenata imaju mogućnost pomeranja uzorka u x-, y- i z-pravcu, uz zadržavanje vrha sonde u jednom položaju, dok je kod nekih omogućeno pomeranje sonde, uz zadržavanje uzorka u jednom položaju. NAPOMENA 3 uz termin: AFM je moguće izvoditi u vakuumu, tečnosti, kontrolisanoj atmosferi ili vazduhu. Atomsku rezoluciju je moguće postići na odgovrajućim uzorcima, korišćenjem oštrog vrha sonde i odgovarajućeg moda slike. NAPOMENA 4 uz termin: Moguće je meriti mnogo različitih sila, kao što su normalne, bočne, sile trenja i smicanja, i tada se koriste termini mikroskopija bočnih sila, sila trenja ili smicanja. Generički termin uključuje sve pomenute tipove. NAPOMENA 5 uz termin: AFM se može koristiti za merenje sila normalnih na površinu pojedinačnih tačaka u nizu piksela koji generišu sliku. NAPOMENA 6 uz termin: Za tipičan prečnik vrha igle < 100 nm, normalna sila treba da bude manja od 0.1 μN, u zavisnosti od svojstava uzorka, jer inače dolazi do trajne deformacije vrha igle i površine.
electron emitted from atoms in the relaxation, by electron emission, of an atom with a vacancy in an inner electron shell Note 1 to entry: The emitted electrons have characteristic energies.
elektron emitovan iz atoma pri relaksaciji, emisijom elektrona, iz atoma sa prazninom u unutrašnjoj elektronskoj ljusci NAPOMENA 1 uz termin: Emitovani elektroni imaju karakteristične energije.
elektron emitovan iz atoma pri relaksaciji, emisijom elektrona, iz atoma sa prazninom u unutrašnjoj elektronskoj ljusci NAPOMENA 1 uz termin: Emitovani elektroni imaju karakteristične energije.
method in which an electron spectrometer (4.13) is used to measure the energy distribution of Auger electrons (4.15) emitted from a surface Note 1 to entry: An electron beam in the energy range 2 keV to 30 keV is often used for excitation of the Auger electrons. Auger electrons can also be excited with X-rays, ions and other sources but the term Auger electron spectroscopy, without additional qualifiers, is usually reserved for electron-beam-induced excitation. Where an X-ray source is used, the Auger electron energies are referenced to the Fermi level but, where an electron beam is used, the reference may either be the Fermi level or the vacuum level. Spectra conventionally may be presented in the direct or differential forms.
metoda u kojoj se spektrometar elektrona (4.13) koristi za merenje raspodele energije Ožeovih elektrona (4.15) emitovanih sa površine uzorka NAPOMENA 1 uz termin: Snop elektrona od 2 keV do 30 keV obično se koristi za pobuđivanje emisije Ožeovih elektrona. Emisija Ožeovih elektrona može da bude izazvana i H-zracima, jonima i drugim izvorima, ali je pojam spektroskopija Ožeovih elektrona, bez dodatnih odrednica, obično rezervisan za pobuđivanje pomoću snopa elektrona. Kada se koristi izvor H-zraka, tada se energije Ožeovih elektrona porede sa Fermijevim nivoima, ali kada se koristi snop elektrona, tada poređenje može biti ili sa Fermijevim ili sa vakumskim nivoima. Uobičajeno je da spektri budu prezentovani u direktnom ili diferencijalnom obliku.
metoda u kojoj se spektrometar elektrona (4.13) koristi za merenje raspodele energije Ožeovih elektrona (4.15) emitovanih sa površine uzorka NAPOMENA 1 uz termin: Snop elektrona od 2 keV do 30 keV obično se koristi za pobuđivanje emisije Ožeovih elektrona. Emisija Ožeovih elektrona može da bude izazvana i H-zracima, jonima i drugim izvorima, ali je pojam spektroskopija Ožeovih elektrona, bez dodatnih odrednica, obično rezervisan za pobuđivanje pomoću snopa elektrona. Kada se koristi izvor H-zraka, tada se energije Ožeovih elektrona porede sa Fermijevim nivoima, ali kada se koristi snop elektrona, tada poređenje može biti ili sa Fermijevim ili sa vakumskim nivoima. Uobičajeno je da spektri budu prezentovani u direktnom ili diferencijalnom obliku.
method for the determination of the total specific external and internal surface area of disperse powders and/or porous solids by measuring the amount of physically adsorbed gas utilizing the model developed by Brunauer, Emmett and Teller for interpreting gas adsorption isotherms Note 1 to entry: Method originates from Brunauer, S., Emmett, P.H. and Teller, E.: Adsorption of gases in multimolecular layers, J. Am. Chem. Soc. 60 (1938) p. 309. Note 2 to entry: The BET method is applicable only to adsorption isotherms of type II (disperse, nonporous or macroporous solids) and type IV (mesoporous solids, pore diameter between 2 nm and 50 nm). Inaccessible pores are not detected. The BET method cannot reliably be applied to solids which absorb the measuring gas.
metoda za određivanje ukupne specifične spoljašnje i unutrašnje površine dispergovanih prahova i/ili poroznih čvrstih materijala, merenjem količine fizički adsorbovanog gasa pomoću modela za izračunavanje koji su razvili Brunauer, Emet i Teler za interpretaciju adsorpcionih izotermi NAPOMENA 1 uz termin: Metoda se prvi put navodi u: Brunauer, S., Emmett, P.H. and Teller, E.: Adsorption of gases in multimolecular layers, J. Am. Chem. Soc. 60 (1938) p. 309. NAPOMENA 2 uz termin: BET metoda je primenljiva samo za adsorpcione izoterme tipa II (disperzni, neporozni ili makroporozni čvrsti materijali) i IV (mezoporozni čvrsti materijali, prečnika pora između 2 nm i 50 nm). Nepristupačne pore je nemoguće detektovati. BET metoda ne može da bude pouzdano primenjena onda kada uzorak apsorbuje merni gas (hemisorpcija).
metoda za određivanje ukupne specifične spoljašnje i unutrašnje površine dispergovanih prahova i/ili poroznih čvrstih materijala, merenjem količine fizički adsorbovanog gasa pomoću modela za izračunavanje koji su razvili Brunauer, Emet i Teler za interpretaciju adsorpcionih izotermi NAPOMENA 1 uz termin: Metoda se prvi put navodi u: Brunauer, S., Emmett, P.H. and Teller, E.: Adsorption of gases in multimolecular layers, J. Am. Chem. Soc. 60 (1938) p. 309. NAPOMENA 2 uz termin: BET metoda je primenljiva samo za adsorpcione izoterme tipa II (disperzni, neporozni ili makroporozni čvrsti materijali) i IV (mezoporozni čvrsti materijali, prečnika pora između 2 nm i 50 nm). Nepristupačne pore je nemoguće detektovati. BET metoda ne može da bude pouzdano primenjena onda kada uzorak apsorbuje merni gas (hemisorpcija).
method in which a sample is separated based on size and density using a rotating disc filled with a fluid containing a density gradient Note 1 to entry: Depending on the density of the particles (2.9), the technique can measure particle size (3.1.1) and particle size distribution (3.1.2) between 2 nm and 10 μm and can resolve particles differing in size by less than 2 %.
metoda u kojoj se uzorak razdvaja u zavisnosti od veličine i gustine pomoću rotirajućeg diska ispunjenog tečnošću sa gradijentom gustine NAPOMENA 1 uz termin: U zavisnsti od gustine čestica (2.9), ovom metodom se može meriti veličina čestica (3.1.1) i raspodela veličine čestica (3.1.2) u opsegu između 2 nm i 10 μm, sa preciznošću diferencijacije veličina manje od 2 %.
metoda u kojoj se uzorak razdvaja u zavisnosti od veličine i gustine pomoću rotirajućeg diska ispunjenog tečnošću sa gradijentom gustine NAPOMENA 1 uz termin: U zavisnsti od gustine čestica (2.9), ovom metodom se može meriti veličina čestica (3.1.1) i raspodela veličine čestica (3.1.2) u opsegu između 2 nm i 10 μm, sa preciznošću diferencijacije veličina manje od 2 %.
instrument that measures the particle (2.9) number concentration of an aerosol (2.12) Note 1 to entry: The sizes of particles detected are usually smaller than several hundred nanometres and larger than a few nanometres. Note 2 to entry: A CPC is one possible detector suitable for use with a differential electrical mobility classifier (DEMC) (3.3.2). Note 3 to entry: In some cases, a condensation particle counter may be called a condensation nucleus counter (CNC).
instrument koji meri koncentraciju/broj čestica (2.9) u aerosolu (2.1.2) NAPOMENA 1 uz termin: Veličina detektovanih čestica je obično manja od nekoliko stotina nanometara i veća od nekoliko nanometara. NAPOMENA 2 uz termin: CPC se može koristiti u sprezi sa diferencijalnim klasifikatorom električne pokretljivosti (DEMC) (3.3.2). NAPOMENA 3 uz termin: U nekim slučajevima se kondenzacioni brojač čestica može nazvati i kondenzacionim brojačem nukleusa (CNC).
instrument koji meri koncentraciju/broj čestica (2.9) u aerosolu (2.1.2) NAPOMENA 1 uz termin: Veličina detektovanih čestica je obično manja od nekoliko stotina nanometara i veća od nekoliko nanometara. NAPOMENA 2 uz termin: CPC se može koristiti u sprezi sa diferencijalnim klasifikatorom električne pokretljivosti (DEMC) (3.3.2). NAPOMENA 3 uz termin: U nekim slučajevima se kondenzacioni brojač čestica može nazvati i kondenzacionim brojačem nukleusa (CNC).
method for microscopy in which, ideally, a point in the object plane is illuminated by a diffraction-limited spot of light, and light emanating from this point is focused upon and detected from an area smaller than the central area of the diffraction disc situated in the corresponding position in a subsequent field plane Note 1 to entry: An image of an extended area is formed either by scanning the object, or by scanning the illuminated and detected spots simultaneously. Note 2 to entry: The confocal principle leads to improved contrast and axial resolution by suppression of light from out-of-focus planes.
metoda u kojoj se, u idealnim uslovima, otvor u ravni objekta osvetljava difrakciono ograničenim snopom svetla, a svetlo emitovano sa ove tačke se fokusira i detektuje sa površine manje od centralne površine difrakcionog diska smeštenog u odgovarajuću poziciju za fokusiranje slike NAPOMENA 1 uz termin: Slika proširenog polja se formira ili skeniranjem uzorka, ili skeniranjem i osvetljenih i detektovanih tačaka istovremeno. NAPOMENA 2 uz termin: Konfokalna tehnika*) omogućava poboljšan kontrast i aksijalnu rezoluciju odbacivanjem svetla koje je izvan fokusnih ravni.
metoda u kojoj se, u idealnim uslovima, otvor u ravni objekta osvetljava difrakciono ograničenim snopom svetla, a svetlo emitovano sa ove tačke se fokusira i detektuje sa površine manje od centralne površine difrakcionog diska smeštenog u odgovarajuću poziciju za fokusiranje slike NAPOMENA 1 uz termin: Slika proširenog polja se formira ili skeniranjem uzorka, ili skeniranjem i osvetljenih i detektovanih tačaka istovremeno. NAPOMENA 2 uz termin: Konfokalna tehnika*) omogućava poboljšan kontrast i aksijalnu rezoluciju odbacivanjem svetla koje je izvan fokusnih ravni.
classifier that is able to select aerosol (2.12)particles (2.9) according to their electrical mobility and pass them to its exit Note 1 to entry: A DEMC classifies aerosol particles by balancing the electrical force on each particle with its aerodynamic drag force in an electrical field. Classified particles are in a narrow range of electrical mobility determined by the operating conditions and physical dimensions of the DEMC, while they can have different sizes due to difference in the number of charges that they have.
klasifikator koji odvaja čestice (2.9) aerosola (2.12) prema njihovoj električnoj pokretljivosti i propušta ih da izađu NAPOMENA 1 uz termin: DEMC klasifikuje čestice aerosola balansiranjem dejstva električne sile koja deluje na česticu i aerodinamičke sile privlačenja čestica u električnom polju. Klasifikovane čestice imaju sličnu električnu pokretljivost pri zadatim uslovima merenja i dimenzijama DEMC-a, ali mogu da imaju različite veličine usled razlike u njihovom naelektrisanju.
klasifikator koji odvaja čestice (2.9) aerosola (2.12) prema njihovoj električnoj pokretljivosti i propušta ih da izađu NAPOMENA 1 uz termin: DEMC klasifikuje čestice aerosola balansiranjem dejstva električne sile koja deluje na česticu i aerodinamičke sile privlačenja čestica u električnom polju. Klasifikovane čestice imaju sličnu električnu pokretljivost pri zadatim uslovima merenja i dimenzijama DEMC-a, ali mogu da imaju različite veličine usled razlike u njihovom naelektrisanju.
system to measure the size distribution of submicrometre aerosol (2.12)particles (2.9) consisting of a DEMC (3.3.2), flow meters, a particle detector, interconnecting plumbing, a computer and suitable software
sistem za merenje raspodele veličina submikrometarskih čestica (2.9) aerosola (2.12) koji se sastoji od DEMC-a (3.3.2), merača protoka, detektora čestica, protočnog sistema, kompjutera i odgovarajućeg softvera
sistem za merenje raspodele veličina submikrometarskih čestica (2.9) aerosola (2.12) koji se sastoji od DEMC-a (3.3.2), merača protoka, detektora čestica, protočnog sistema, kompjutera i odgovarajućeg softvera
method in which the difference in energy inputs into a substance and a reference material is measured as a function of temperature while the substance and reference material are subjected to a controlled temperature programme
metoda u kojoj se meri razlika između energije koja se prenosi u uzorak i one koja se prenosi u referentni materijal kao funkcija temperature, pri čemu se temperatura uzorka i referentnog materijala podvrgava kontrolisanom temperaturskom programu
metoda u kojoj se meri razlika između energije koja se prenosi u uzorak i one koja se prenosi u referentni materijal kao funkcija temperature, pri čemu se temperatura uzorka i referentnog materijala podvrgava kontrolisanom temperaturskom programu
method in which the evanescent wave of a laser beam is used to probe molecular scale layers adsorbed to the surface of a waveguide Note 1 to entry: The polarization can be switched rapidly, allowing real-time measurements of chemical reactions taking place on a chip surface in a flow-through system. Note 2 to entry: Typically used to measure the conformational change in proteins or other biomolecules as they interact with their environment.
metoda u kojoj prolazni talas laserskog snopa ekscituje monomolekulski sloj uzorka, adsorbovanog na površini talasovoda NAPOMENA 1 uz termin: Polarizacija sistema može se brzo menjati, što omogućava merenja u realnom vremenu, praćenje hemijskih reakcija koje se odvijaju na površini čipa u protočnom sistemu. NAPOMENA 2 uz termin: Ova metoda se obično koristi za merenje promena sastava u proteinima ili drugim biomolekulima tokom njihove interakcije sa okolinom.
metoda u kojoj prolazni talas laserskog snopa ekscituje monomolekulski sloj uzorka, adsorbovanog na površini talasovoda NAPOMENA 1 uz termin: Polarizacija sistema može se brzo menjati, što omogućava merenja u realnom vremenu, praćenje hemijskih reakcija koje se odvijaju na površini čipa u protočnom sistemu. NAPOMENA 2 uz termin: Ova metoda se obično koristi za merenje promena sastava u proteinima ili drugim biomolekulima tokom njihove interakcije sa okolinom.
method in which particles (2.9) undergoing Brownian motion in a liquid suspension (2.13) are illuminated by a laser and the change in intensity of the scattered light is used to determine particle size (3.1.1) Note 1 to entry: Analysis of the time-dependent intensity of the scattered light can yield the translational diffusion coefficient and hence the particle size as the hydrodynamic diameter (3.2.6) via the StokesâEinstein relationship. Note 2 to entry: The analysis is applicable to nanoparticles (2.3) as the size of particles detected is typically in the range 1 nm to 6000 nm. The upper limit is due to limited Brownian motion and sedimentation.
metoda u kojoj su čestice (2.9) koje podležu Braunijanovom (Brownian) kretanju u tečnim suspenzijama (2.13) izložene laserskoj svetlosti, te se merenjem promene intenziteta rasute svetlosti određuje veličina čestica (3.1.1) NAPOMENA 1 uz termin: Analiza promene intenziteta rasute svetlosti u funkciji vremena i korišćenje Stoks-Ajnštajnove (Stokes–Einstein) jednačine, određuju translatorno-difuzioni koeficijent i hidrodinamički prečnik (3.2.6) čestice. NAPOMENA 2 uz termin: Analiza se primenjuje na nanočestice (2.3) čije se dimenzije obično kreću u opsegu od 1 nm do 6 000 nm. Gornja granica je uvedena usled ograničenog Braunijanovog kretanja i sedimentacije.
metoda u kojoj su čestice (2.9) koje podležu Braunijanovom (Brownian) kretanju u tečnim suspenzijama (2.13) izložene laserskoj svetlosti, te se merenjem promene intenziteta rasute svetlosti određuje veličina čestica (3.1.1) NAPOMENA 1 uz termin: Analiza promene intenziteta rasute svetlosti u funkciji vremena i korišćenje Stoks-Ajnštajnove (Stokes–Einstein) jednačine, određuju translatorno-difuzioni koeficijent i hidrodinamički prečnik (3.2.6) čestice. NAPOMENA 2 uz termin: Analiza se primenjuje na nanočestice (2.3) čije se dimenzije obično kreću u opsegu od 1 nm do 6 000 nm. Gornja granica je uvedena usled ograničenog Braunijanovog kretanja i sedimentacije.
charges on an interface per area due to specific adsorption of ions from the liquid bulk, or due to dissociation of the surface groups Note 1 to entry: Electric surface charge density is expressed in coulombs per square metre.
naelektrisanje na granici faza po jediničnoj površini kao posledica adsorpcije jona iz mase tečnosti ili disocijacije na površini NAPOMENA 1 uz termin: Gustina električnog površinskog naelektrisanja se izražava u kulonima po kvadratnom metru.
naelektrisanje na granici faza po jediničnoj površini kao posledica adsorpcije jona iz mase tečnosti ili disocijacije na površini NAPOMENA 1 uz termin: Gustina električnog površinskog naelektrisanja se izražava u kulonima po kvadratnom metru.
method for counting and sizing particles (2.9) in electrolytes by measuring a drop in electrical current as a particle passes through an aperture between two chambers Note 1 to entry: The drop in current is proportional to the particle volume. Note 2 to entry: The particles are driven through the aperture by pressure or an electric field. Note 3 to entry: The aperture can be nanoscale (2.1) in size allowing the sizing of individual nano-objects (2.2).
metoda brojanja i razdvajanja po veličini čestica (2.9) u elektrolitima, merenjem pada električne struje usled prolaska čestica kroz otvor između dveju komora NAPOMENA 1 uz termin: Pad struje je proporcionalan zapremini čestica. NAPOMENA 2 uz termin: Kretanje čestica kroz otvor je omogućeno pritiskom ili električnim poljem. NAPOMENA 3 uz termin: Otvor može biti na nanoskali (2.1) u onoj veličini koja omogućava izdvajanje pojedinačnih nanoobjekata (2.2).
metoda brojanja i razdvajanja po veličini čestica (2.9) u elektrolitima, merenjem pada električne struje usled prolaska čestica kroz otvor između dveju komora NAPOMENA 1 uz termin: Pad struje je proporcionalan zapremini čestica. NAPOMENA 2 uz termin: Kretanje čestica kroz otvor je omogućeno pritiskom ili električnim poljem. NAPOMENA 3 uz termin: Otvor može biti na nanoskali (2.1) u onoj veličini koja omogućava izdvajanje pojedinačnih nanoobjekata (2.2).
difference in electric potential between that at the slipping plane and that of the bulk liquid Note 1 to entry: Electrokinetic potential is expressed in volts.
zeta potencijal razlika u električnom potencijalu između ravni smicanja i mase tečnosti NAPOMENA 1 uz termin: Elektrokinetički potencijal se izražava u voltima.
zeta potencijal razlika u električnom potencijalu između ravni smicanja i mase tečnosti NAPOMENA 1 uz termin: Elektrokinetički potencijal se izražava u voltima.
diffraction process that arises between the backscattered electrons and the atomic planes of a highly tilted crystalline specimen when illuminated by a stationary incident electron beam
difrakcioni proces koji nastaje sudarom povratno rasejanih elektrona i atomskih ravni vrlo tiltovanog kristalnog uzorka, onda kada se ozrači stacionarnim upadnim elektronskim snopom
difrakcioni proces koji nastaje sudarom povratno rasejanih elektrona i atomskih ravni vrlo tiltovanog kristalnog uzorka, onda kada se ozrači stacionarnim upadnim elektronskim snopom
method in which an electron spectrometer (4.13) measures the energy spectrum of electrons from a nominally monoenergetic source emitted after inelastic interactions with the sample, often exhibiting peaks due to specific inelastic loss processes Note 1 to entry: The spectrum obtained using an incident-electron beam of about the same energy as in Auger electron spectroscopy (AES) (4.16) or X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) (4.18) peak approximates to the energy loss spectrum associated with that peak. Note 2 to entry: The electron energy loss spectrum, measured with an incident-electron beam, is a function of the beam energy, the angle of incidence of the beam, the angle of emission and the electronic properties of the sample.
metoda u kojoj spektrometar elektrona (4.13) meri energetski spektar elektrona iz nominalno monoenergetskog izvora koji su emitovani posle neelastične interakcije sa uzorkom, često sa pikovima usled specifičnih neelastičnih procesa gubitaka energije NAPOMENA 1 uz termin: Spektar dobijen korišćenjem upadnog elektronskog snopa sa energijom pribižno istom kao u spektrometriji Ožeovih elektrona (AES) (4.16) ili fotoelektronskoj spektroskopiji H-zraka (XPS) (4.18) ima pikove koji se nalaze na približno istim mestima kao i u slučaju spektra gubitka energije elektrona. NAPOMENA 2 uz termin: Spektar gubitka energije elektrona, meren sa upadnim elektronskim snopom, zavisan je od energije tog snopa, njegovog ugla upada, ugla pod kojim se meri emisija i od elektronskih svojstava uzorka.
metoda u kojoj spektrometar elektrona (4.13) meri energetski spektar elektrona iz nominalno monoenergetskog izvora koji su emitovani posle neelastične interakcije sa uzorkom, često sa pikovima usled specifičnih neelastičnih procesa gubitaka energije NAPOMENA 1 uz termin: Spektar dobijen korišćenjem upadnog elektronskog snopa sa energijom pribižno istom kao u spektrometriji Ožeovih elektrona (AES) (4.16) ili fotoelektronskoj spektroskopiji H-zraka (XPS) (4.18) ima pikove koji se nalaze na približno istim mestima kao i u slučaju spektra gubitka energije elektrona. NAPOMENA 2 uz termin: Spektar gubitka energije elektrona, meren sa upadnim elektronskim snopom, zavisan je od energije tog snopa, njegovog ugla upada, ugla pod kojim se meri emisija i od elektronskih svojstava uzorka.
method for studying chemical species that have one or more unpaired electrons through resonant excitation of electron spin Note 1 to entry: Similar to NMR but measuring electron spin.
metoda za proučavanje hemijskih materijala koji imaju jedan ili više nesparenih elektrona primenom rezonantnog pobuđivanja elektronskih spinova NAPOMENA 1 uz termin: Metoda slična NMR, s tim što se meri spin elektrona.
metoda za proučavanje hemijskih materijala koji imaju jedan ili više nesparenih elektrona primenom rezonantnog pobuđivanja elektronskih spinova NAPOMENA 1 uz termin: Metoda slična NMR, s tim što se meri spin elektrona.
device, the essential part of which is used for measuring the number of electrons, or an intensity proportional to that number, as a function of the electron kinetic energy Note 1 to entry: The term electron spectrometer may be used either as a synonym for electron energy analyser or to describe a more complex instrument based on an electron energy analyser and additional electron-optical components. Occasionally, the term is used to describe a complete working system with an energy analyser, possible electron-optical components, an electron detector, excitation sources, vacuum pumps, control electronics and a data-processing system. The meaning will normally be made clear by the context.
instrument čiji je glavni deo merač broja elektrona ili intenziteta koji je proporcionalan tom broju, u funkciji kinetičke energije elektrona NAPOMENA 1 uz termin: Pojam spektrometar elektrona može da se koristi ili kao sinonim za analizator energije elektrona ili za opisivanje kompleksnijeg instrumenta koji se zasniva na analizatoru energije elektrona i dodatnih elektronsko-optičkih komponenata. Povremeno se ovaj termin koristi za opisivanje kompletnog sistema uređaja sa analizatorom elektrona, mogućim elektrooptičkim komponentama, detektorom elektrona, izvorom pobuđivanja, vakuum-pumpama, kontrolnom elektronikom i sistemom za obradu podataka. Značenje će biti pojašnjeno kontekstom.
instrument čiji je glavni deo merač broja elektrona ili intenziteta koji je proporcionalan tom broju, u funkciji kinetičke energije elektrona NAPOMENA 1 uz termin: Pojam spektrometar elektrona može da se koristi ili kao sinonim za analizator energije elektrona ili za opisivanje kompleksnijeg instrumenta koji se zasniva na analizatoru energije elektrona i dodatnih elektronsko-optičkih komponenata. Povremeno se ovaj termin koristi za opisivanje kompletnog sistema uređaja sa analizatorom elektrona, mogućim elektrooptičkim komponentama, detektorom elektrona, izvorom pobuđivanja, vakuum-pumpama, kontrolnom elektronikom i sistemom za obradu podataka. Značenje će biti pojašnjeno kontekstom.
electrophoretic velocity per electric field strength Note 1 to entry: Electrophoretic mobility is positive if the particles (2.9) move toward lower potential (negative electrode) and negative in the opposite case. Note 2 to entry: Electrophoretic mobility is expressed in metres squared per volt second.
brzina elektroforeze pri jediničnoj jačini polja NAPOMENA 1 uz termin: Elektroforetska pokretljivost je pozitivna ako se čestica (2.9) kreće prema nižem potencijalu (negativna elektroda) i negativna u obrnutom smeru. NAPOMENA 2 uz termin: Elektroforetska pokretljivost se izražava u kvadratnim metrima po volt sekundama.
brzina elektroforeze pri jediničnoj jačini polja NAPOMENA 1 uz termin: Elektroforetska pokretljivost je pozitivna ako se čestica (2.9) kreće prema nižem potencijalu (negativna elektroda) i negativna u obrnutom smeru. NAPOMENA 2 uz termin: Elektroforetska pokretljivost se izražava u kvadratnim metrima po volt sekundama.
particle (2.9) velocity during electrophoresis Note 1 to entry: Electrophoretic velocity is expressed in metres per second.
brzina čestica (2.9) tokom elektroforeze NAPOMENA 1 uz termin: Brzina elektroforeze se izražava u metrima po sekundi.
brzina čestica (2.9) tokom elektroforeze NAPOMENA 1 uz termin: Brzina elektroforeze se izražava u metrima po sekundi.
X-ray spectrometry in which the energy of individual photons are measured by a parallel detector and used to build up a histogram representing the distribution of X-rays with energy
energodisperzivna spektroskopija H-zracima spektroskopija H-zraka u kojoj se meri energija emitovanih individualnih fotona pomoću paralelnog detektora, uz stvaranje histograma koji predstavlja raspodelu H-zraka u zavisnosti od njihove energije
energodisperzivna spektroskopija H-zracima spektroskopija H-zraka u kojoj se meri energija emitovanih individualnih fotona pomoću paralelnog detektora, uz stvaranje histograma koji predstavlja raspodelu H-zraka u zavisnosti od njihove energije
diameter of a sphere that produces a response by a given particle-sizing method, that is equivalent to the response produced by the particle (2.9) being measured Note 1 to entry: The physical property to which the equivalent diameter refers is indicated using a suitable subscript (see ISO 9276â1:1998). Note 2 to entry: For discrete-particle-counting, light-scattering instruments, an equivalent optical diameter is used. Note 3 to entry: Other material constants like density of the particle are used for the calculation of the equivalent diameter like Stokes diameter or sedimentation equivalent diameter. The material constants, used for the calculation, should be reported additionally. Note 4 to entry: For inertial instruments, the aerodynamic diameter is used. Aerodynamic diameter is the diameter of a sphere of density 1 000 kg mâ3 that has the same settling velocity as the irregular particle.
prečnik sfere koja za određenu metodologiju merenja daje isti odziv kao i čestica (2.9) koja se meri NAPOMENA 1 uz termin: Fizičko svojstvo na koje se odnosi ekvivalentni prečnik obeležava se odgovarajućim indeksom (videti ISO 9276-1:1998). NAPOMENA 2 uz termin: Za diskretno brojanje čestica rasipanjem svetlosti koristi se ekvivalentni optički prečnik. NAPOMENA 3 uz termin: Druge konstante materijala, kao što je gustina čestice, koriste se za izračunavanje ekvivalentnog Stoksovog (Stokes) ili sedimentacionog prečnika. Treba da bude navedena konstanta materijala korišćena za računanje ekvivalentnog prečnika. NAPOMENA 4 uz termin: Za inercione instrumente se koristi aerodinamički prečnik. Aerodinamički prečnik je prečnik sfere gustine od 1 000 kg m-3 koja se taloži brzinom jednakom brzini taloženja čestice nepravilnog oblika.
prečnik sfere koja za određenu metodologiju merenja daje isti odziv kao i čestica (2.9) koja se meri NAPOMENA 1 uz termin: Fizičko svojstvo na koje se odnosi ekvivalentni prečnik obeležava se odgovarajućim indeksom (videti ISO 9276-1:1998). NAPOMENA 2 uz termin: Za diskretno brojanje čestica rasipanjem svetlosti koristi se ekvivalentni optički prečnik. NAPOMENA 3 uz termin: Druge konstante materijala, kao što je gustina čestice, koriste se za izračunavanje ekvivalentnog Stoksovog (Stokes) ili sedimentacionog prečnika. Treba da bude navedena konstanta materijala korišćena za računanje ekvivalentnog prečnika. NAPOMENA 4 uz termin: Za inercione instrumente se koristi aerodinamički prečnik. Aerodinamički prečnik je prečnik sfere gustine od 1 000 kg m-3 koja se taloži brzinom jednakom brzini taloženja čestice nepravilnog oblika.
method in which the nature and/or amount of volatile product(s) released by a substance is (are) measured as a function of temperature while the substance is subjected to a controlled temperature programme
metoda u kojoj se određuje priroda i/ili količina gasovitih produkata oslobođenih iz uzorka u funkciji temperature kojoj je uzorak kontrolisano izložen
metoda u kojoj se određuje priroda i/ili količina gasovitih produkata oslobođenih iz uzorka u funkciji temperature kojoj je uzorak kontrolisano izložen
system designed for the measurement of electrical charges carried by aerosol (2.12)particles (2.9) Note 1 to entry: A Faraday-cup aerosol electrometer consists of an electrically conducting and electrically grounded cup as a guard to cover the sensing element that includes aerosol filtering media to capture charged aerosol particles, an electrical connection between the sensing element and an electrometer circuit, and a flow meter.
sistem za merenje naelektrisanja koje nose čestice (2.9) aerosola (2.12) NAPOMENA 1 uz termin: Faradejev elektrometar aerosola se sastoji od Faradejevog kaveza koji štiti merni element – filter koji zadržava nalektrisane čestice aerosola, konektora koji povezuje filter sa elekričnim kolom i od merača protoka.
sistem za merenje naelektrisanja koje nose čestice (2.9) aerosola (2.12) NAPOMENA 1 uz termin: Faradejev elektrometar aerosola se sastoji od Faradejevog kaveza koji štiti merni element – filter koji zadržava nalektrisane čestice aerosola, konektora koji povezuje filter sa elekričnim kolom i od merača protoka.
separation technique where a field is applied to a liquid suspension (2.13) passing along a narrow channel in order to cause separation of the particles (2.9) present in the liquid, dependent on their differing mobility under the force exerted by the field Note 1 to entry: The field can be, for example, gravitational, centrifugal, a liquid flow, electrical or magnetic. Note 2 to entry: Using a suitable detector after or during separation allows determination of the size and size distribution of nano-objects (2.2).
separaciona tehnika u kojoj primena polja na suspenziju (2.13) koja teče uskim kanalima izaziva separaciju čestica (2.9) prisutnih u tečnoj fazi, u zavisnosti od njihove pokretljivosti pod dejtvom primenjenog polja NAPOMENA 1 uz termin: Polje može biti gravitaciono, centrifugalno, protočno, električno, ili magnetno. NAPOMENA 2 uz termin: Korišćenjem odgovarajućeg detektora nakon ili tokom separacije omogućava se određivanje veličine i raspodele veličine nanoobjekata (2.2).
separaciona tehnika u kojoj primena polja na suspenziju (2.13) koja teče uskim kanalima izaziva separaciju čestica (2.9) prisutnih u tečnoj fazi, u zavisnosti od njihove pokretljivosti pod dejtvom primenjenog polja NAPOMENA 1 uz termin: Polje može biti gravitaciono, centrifugalno, protočno, električno, ili magnetno. NAPOMENA 2 uz termin: Korišćenjem odgovarajućeg detektora nakon ili tokom separacije omogućava se određivanje veličine i raspodele veličine nanoobjekata (2.2).
phenomenon in which absorption of light of a given wavelength by a substance is followed by the emission of light at a longer wavelength
pojava u kojoj je apsorpcija svetlosti određene talasne dužine određenog materijala praćena emisijom svetlosti veće talasne dužine
pojava u kojoj je apsorpcija svetlosti određene talasne dužine određenog materijala praćena emisijom svetlosti veće talasne dužine
spectroscopy using a correlation analysis of the fluctuation in the fluorescence (3.5.12) intensity Note 1 to entry: The analysis gives the average number of fluorescent particles (2.9) and average diffusion time, when the particle is passing through the measurement volume. Eventually, both the concentration and size of the particle (molecule) are determined.
spektroskopija koja koristi korelacionu analizu za opis promena u intenzitetu fluorescencije (3.5.12) NAPOMENA 1 uz termin: Analiza daje srednji broj fluorescentnih čestica (2.9) i srednje vreme difuzije, onda kada čestica prolazi kroz mernu zapreminu. Ponekad mogu biti određenne i koncentracija i veličina čestica (molekula).
spektroskopija koja koristi korelacionu analizu za opis promena u intenzitetu fluorescencije (3.5.12) NAPOMENA 1 uz termin: Analiza daje srednji broj fluorescentnih čestica (2.9) i srednje vreme difuzije, onda kada čestica prolazi kroz mernu zapreminu. Ponekad mogu biti određenne i koncentracija i veličina čestica (molekula).
method of optical microscopy in which fluorescence (3.5.12) emitted by the sample is imaged Note 1 to entry: A light source is required to excite fluorescence from the sample. This is typically at a shorter wavelength than the light used to form the image. Usually filters are used to separate the excitation and emission light. Note 2 to entry: Fluorescence microscopy has many variants, including wide-field (epifluorescence), confocal, total internal reflection fluorescence microscopy (TIRF) (3.5.14) and super-resolution microscopy (3.5.15) methods. Note 3 to entry: The fluorescence observed may be intrinsic to the sample or imparted by the use of fluorescent dyes.
optička mikroskopija u kojoj se vizuelizacija vrši na osnovu fluorescencije (3.5.12) koju emituje uzorak NAPOMENA 1 uz termin: Za pobuđivanje fluorescencije uzorka zahteva se izvor svetlosti. Obično je potrebna svetlost talasne dužine kraće od očekivane emitujuće svetlosti pomoću koje se vrši vizuelizacija. Često se koriste filteri za separaciju ekscitacione i emisione svetlosti. NAPOMENA 2 uz termin: Fluorescentna mikroskopija ima mnogo varijanti, uključujući širokoopsežnu (epifluorescenciju), konfokalnu, totalnu unutarreflektujuću fluorescentnu mikroskopiju (TIRF) (3.5.14) i superrezolucionu mikroskopiju (3.5.15). NAPOMENA 3 uz termin: Detektovana fluorescencija može biti svojstvo uzorka ili dodate fluorescentne boje.
optička mikroskopija u kojoj se vizuelizacija vrši na osnovu fluorescencije (3.5.12) koju emituje uzorak NAPOMENA 1 uz termin: Za pobuđivanje fluorescencije uzorka zahteva se izvor svetlosti. Obično je potrebna svetlost talasne dužine kraće od očekivane emitujuće svetlosti pomoću koje se vrši vizuelizacija. Često se koriste filteri za separaciju ekscitacione i emisione svetlosti. NAPOMENA 2 uz termin: Fluorescentna mikroskopija ima mnogo varijanti, uključujući širokoopsežnu (epifluorescenciju), konfokalnu, totalnu unutarreflektujuću fluorescentnu mikroskopiju (TIRF) (3.5.14) i superrezolucionu mikroskopiju (3.5.15). NAPOMENA 3 uz termin: Detektovana fluorescencija može biti svojstvo uzorka ili dodate fluorescentne boje.
spectroscopy of emitted light from a substance that has been illuminated
spektroskopija emitovane svetlosti iz uzoraka koji su bili osvetljeni
spektroskopija emitovane svetlosti iz uzoraka koji su bili osvetljeni
method in which a sample is subjected to excitation of molecular bonds by pulsed, broad-band infra-red radiation, and the Fourier transform mathematical method is used to obtain an absorption spectrum
metoda u kojoj se u uzorku pobuđuju vibracije atoma oko veza u molekulu pomoću pulsnog infracrvenog zračenja širokog spektralnog opsega, a Furijeova matematička transformacija se koristi za obradu rezultata i dobijanje apsorpcionog spektra
metoda u kojoj se u uzorku pobuđuju vibracije atoma oko veza u molekulu pomoću pulsnog infracrvenog zračenja širokog spektralnog opsega, a Furijeova matematička transformacija se koristi za obradu rezultata i dobijanje apsorpcionog spektra
equivalent diameter (3.1.5) of a particle (2.9) in a liquid having the same diffusion coefficient as the real particle in that liquid
ekvivalentni prečnik (3.1.5) čestice (2.9) u tečnosti, sa difuzionim koeficijentom jednakim difuzionom koeficijentu stvarne čestice u toj tečnosti
ekvivalentni prečnik (3.1.5) čestice (2.9) u tečnosti, sa difuzionim koeficijentom jednakim difuzionom koeficijentu stvarne čestice u toj tečnosti
method in which a high-temperature discharge generated in flowing argon by an alternating magnetic field induced by a radio-frequency (RF) load coil that surrounds the tube carrying the gas is detected using a mass spectrometer
ICP-MS metoda u kojoj se visokotemperaturno pražnjenje od uzorka koje se generiše u argonskoj plazmi, naizmeničnim magnetnim poljem indukovanim radiofrekventnim (RF) namotajem koji obuhvata cev kroz koju protiče gas, detektuje pomoću masenog spektrometra
ICP-MS metoda u kojoj se visokotemperaturno pražnjenje od uzorka koje se generiše u argonskoj plazmi, naizmeničnim magnetnim poljem indukovanim radiofrekventnim (RF) namotajem koji obuhvata cev kroz koju protiče gas, detektuje pomoću masenog spektrometra
change in propagation of light at the interface of two media having different optical properties
promene u prostiranju svetlosti na granici dva medijuma sa različitim optičkim svojstvima
promene u prostiranju svetlosti na granici dva medijuma sa različitim optičkim svojstvima
method of super-resolution microscopy (3.5.15) in which the precise localization of individual (usually fluorescent) molecules is used to reconstruct an image Note 1 to entry: Many different localization microscopy techniques have been developed. They differ mainly in the type of probes that are used. Examples include photoactivation localization microscopy (PALM) which relies on photoactivatable molecules (usually fluorescent proteins) and stochastic optical reconstruction microscopy (STORM) which relies on intermittent fluorescence (âblinkingâ or âswitchingâ) of fluorophores. Note 2 to entry: Typically, to achieve precise localization of fluorophore molecules, their images must not overlap. Therefore to reconstruct a complete image, many molecules must be localized in sequential frames, and the molecules must in some way be âswitched offâ.
metoda superrezolucione mikroskopije (3.5.15) u kojoj se precizno određivanje mesta pojedinačnih (obično fluorescentnih) molekula koristi za rekonstrukciju slike NAPOMENA 1 uz termin: Razvijeno je mnogo različitih lokalizacionih mikroskopskih tehnika. One se uglavnom razlikuju po tipu sonde koji koriste. Primeri uključuju fotoaktivacionu lokalizacionu mikroskopiju (photoactivation localization microscopy – PALM) koja se oslanja na mogućnost fotoaktivacije molekula (obično fluorescentnih proteina) i stohastičnu optičku rekonstruktivnu mikroskopiju (stochastic optical reconstruction microscopy – STORM) koja se bazira na periodičnoj fluorescenciji („treptanje” ili „prekidanje”) fluorofora. NAPOMENA 2 uz termin: Da bi se odredio položaj fluorescentnih molekula, njihove slike obično ne smeju da se poklapaju. Prema tome, za rekonstrukciju cele slike treba da bude pojedinačno lokalizovano mnogo molekula, pa fluorescencija pojedinih molekula mora da bude povremeno isključena.
metoda superrezolucione mikroskopije (3.5.15) u kojoj se precizno određivanje mesta pojedinačnih (obično fluorescentnih) molekula koristi za rekonstrukciju slike NAPOMENA 1 uz termin: Razvijeno je mnogo različitih lokalizacionih mikroskopskih tehnika. One se uglavnom razlikuju po tipu sonde koji koriste. Primeri uključuju fotoaktivacionu lokalizacionu mikroskopiju (photoactivation localization microscopy – PALM) koja se oslanja na mogućnost fotoaktivacije molekula (obično fluorescentnih proteina) i stohastičnu optičku rekonstruktivnu mikroskopiju (stochastic optical reconstruction microscopy – STORM) koja se bazira na periodičnoj fluorescenciji („treptanje” ili „prekidanje”) fluorofora. NAPOMENA 2 uz termin: Da bi se odredio položaj fluorescentnih molekula, njihove slike obično ne smeju da se poklapaju. Prema tome, za rekonstrukciju cele slike treba da bude pojedinačno lokalizovano mnogo molekula, pa fluorescencija pojedinih molekula mora da bude povremeno isključena.
method that examines surfaces where images and/or diffraction patterns of the surfaces are formed by low-energy elastically backscattered electrons generated by a non-scanning electron beam Note 1 to entry: The method is typically used for the imaging and analysis of very flat, clean surfaces. Note 2 to entry: Low energy electrons have energies typically in the range 1 eV to 100 eV.
metoda kojom se ispituju površine na kojima se slike i/ili difrakcione strukture uzorka formiraju korišćenjem niskoenergetskih elektrona, elastično povratno rasejanih, dobijenih od neskenirajućih elektronskih snopova NAPOMENA 1 uz termin: Ova instrumentalna tehnika se koristi za vizuelizaciju i analizu veoma ravnih i čistih površina. NAPOMENA 2 uz termin: Niskoenergetski elektroni imaju energiju u opsegu od 1 eV do 100 eV.
metoda kojom se ispituju površine na kojima se slike i/ili difrakcione strukture uzorka formiraju korišćenjem niskoenergetskih elektrona, elastično povratno rasejanih, dobijenih od neskenirajućih elektronskih snopova NAPOMENA 1 uz termin: Ova instrumentalna tehnika se koristi za vizuelizaciju i analizu veoma ravnih i čistih površina. NAPOMENA 2 uz termin: Niskoenergetski elektroni imaju energiju u opsegu od 1 eV do 100 eV.
emission, by atoms, molecules or ions in a material, of optical radiation which for certain wavelengths or regions of the spectrum is in excess of the radiation due to thermal emission from that material at the same temperature, as a result of these particles being excited by energy other than thermal agitation
emisija, atomska, molekulska ili jonska, u materijalu, optičkog zračenja koje za neke talasne dužine i spektralne oblasti može biti dodatak na emisiju termalnog zračenja materijala na istoj temperaturi, kao rezultat pobuđivanja energijom različitom od termalne energije
emisija, atomska, molekulska ili jonska, u materijalu, optičkog zračenja koje za neke talasne dužine i spektralne oblasti može biti dodatak na emisiju termalnog zračenja materijala na istoj temperaturi, kao rezultat pobuđivanja energijom različitom od termalne energije
absolute surface area of the sample divided by sample mass Note 1 to entry: Mass specific surface area has units of m2/kg.
apsolutna površina uzorka, podeljena sa masom uzorka NAPOMENA 1 uz termin: Specifična površina jedinične mase ima jedinice m2/kg.
apsolutna površina uzorka, podeljena sa masom uzorka NAPOMENA 1 uz termin: Specifična površina jedinične mase ima jedinice m2/kg.
recoil-free nuclear emission and resonant absorption of gamma radiation
nuklearna emisija i rezonantna apsorpcija gama zračenja bez trzaja jezgra
nuklearna emisija i rezonantna apsorpcija gama zračenja bez trzaja jezgra
material with one, two or three external dimensions in the nanoscale (2.1) Note 1 to entry: Generic term for all discrete nanoscale objects.
materijal sa jednom, dve ili tri spoljašnje dimenzije na nanoskali (2.1) NAPOMENA 1 uz termin: Generički termin za sve pojedinačne objekte na nanoskali.
materijal sa jednom, dve ili tri spoljašnje dimenzije na nanoskali (2.1) NAPOMENA 1 uz termin: Generički termin za sve pojedinačne objekte na nanoskali.
nano-object (2.2) with two similar external dimensions in the nanoscale (2.1) and the third dimension significantly larger Note 1 to entry: A nanofibre can be flexible or rigid. Note 2 to entry: The two similar external dimensions are considered to differ in size by less than three times and the significantly larger external dimension is considered to differ from the other two by more than three times. Note 3 to entry: The largest external dimension is not necessarily in the nanoscale.
nanoobjekat (2.2) sa dve slične spoljašnje dimenzije na nanoskali (2.1) i trećom značajno većom NAPOMENA 1 uz termin: Nanovlakno može da bude fleksibilno ili kruto. NAPOMENA 2 uz termin: Smatra se da su dve slične spoljašnje dimenzije različite u veličini ako su manje za tri puta, a značajno veće ako su različite od druge dve dimenzije na nanoskali za više od tri puta. NAPOMENA 3 uz termin: Najveća spoljašnje dimenzije ne moraju se nužno nalaziti na nanoskali.
nanoobjekat (2.2) sa dve slične spoljašnje dimenzije na nanoskali (2.1) i trećom značajno većom NAPOMENA 1 uz termin: Nanovlakno može da bude fleksibilno ili kruto. NAPOMENA 2 uz termin: Smatra se da su dve slične spoljašnje dimenzije različite u veličini ako su manje za tri puta, a značajno veće ako su različite od druge dve dimenzije na nanoskali za više od tri puta. NAPOMENA 3 uz termin: Najveća spoljašnje dimenzije ne moraju se nužno nalaziti na nanoskali.
nano-object (2.2) with all three external dimensions in the nanoscale (2.1) Note 1 to entry: If the lengths of the longest to the shortest axes of the nano-object differ significantly (typically by more than three times), the terms nanofibre (2.6) or nanoplate (2.4) are intended to be used instead of the term nanoparticle.
nanoobjekat (2.2) sa sve tri spoljašne dimenzije na nanoskali (2.1) NAPOMENA 1 uz termin: Ako se dužine najduže i najkraće ose nanoobjekta značajno razlikuju (obično za više od tri puta), onda je bolje koristiti termine kao što su nanovlakno (2.6) ili nanoploča (2.4), nego termin nanočestica.
nanoobjekat (2.2) sa sve tri spoljašne dimenzije na nanoskali (2.1) NAPOMENA 1 uz termin: Ako se dužine najduže i najkraće ose nanoobjekta značajno razlikuju (obično za više od tri puta), onda je bolje koristiti termine kao što su nanovlakno (2.6) ili nanoploča (2.4), nego termin nanočestica.
method where particles (2.9) undergoing Brownian motion in a liquid suspension (2.13) are illuminated by a laser and the change in position of individual particles is used to determine particle size (3.1.1) Note 1 to entry: Analysis of the time-dependent position of individual particles by means of scattered light can yield the translational diffusion coefficient and hence the particle size as the hydrodynamic diameter (3.2.6) using the StokesâEinstein relationship Note 2 to entry: The analysis is applicable to nanoparticles (2.3) as the size of particles detected is typically in the range 10 nm to 2000 nm. The lower limit requires particles with high refractive index and the upper limit is due to limited Brownian motion and sedimentation.
metoda u kojoj su čestice (2.9) koje podležu Braunijanovom kretanju u tečnim suspenzijama (2.13) izložene laserskoj svetlosti, te se praćenjem promene položaja individualne čestice određuje veličina čestica (3.1.1) NAPOMENA 1 uz termin: Analiza promene položaja individualne čestice u funkciji vremena korišćenjem rasipanja svetlosti i Stoks-Ajnštajnove jednačine, određuje translatorno-difuzioni koeficijent i hidrodinamički prečnik (3.2.6) čestice. NAPOMENA 2 uz termin: Analiza se primenjuje na nanočestice (2.3) čije se dimenzije obično kreću u opsegu od 10 nm do 2 000 nm. Donja granica je uvedena zbog čestica sa visokim indeksom prelamanja, a gornja usled ograničenog Braunijanovog kretanja i sedimentacije.
metoda u kojoj su čestice (2.9) koje podležu Braunijanovom kretanju u tečnim suspenzijama (2.13) izložene laserskoj svetlosti, te se praćenjem promene položaja individualne čestice određuje veličina čestica (3.1.1) NAPOMENA 1 uz termin: Analiza promene položaja individualne čestice u funkciji vremena korišćenjem rasipanja svetlosti i Stoks-Ajnštajnove jednačine, određuje translatorno-difuzioni koeficijent i hidrodinamički prečnik (3.2.6) čestice. NAPOMENA 2 uz termin: Analiza se primenjuje na nanočestice (2.3) čije se dimenzije obično kreću u opsegu od 10 nm do 2 000 nm. Donja granica je uvedena zbog čestica sa visokim indeksom prelamanja, a gornja usled ograničenog Braunijanovog kretanja i sedimentacije.
nano-object (2.2) with one external dimension in the nanoscale (2.1) and the two other external dimensions significantly larger Note 1 to entry: The smallest external dimension is the thickness of the nanoplate. Note 2 to entry: The two significantly larger dimensions are considered to differ from the nanoscale dimension by more than three times. Note 3 to entry: The larger external dimensions are not necessarily in the nanoscale.
nanoobjekat (2.2) sa jednom spoljašnjom dimenzijom na nanoskali (2.1) i druge dve značajno veće spoljašnje dimenzije NAPOMENA 1 uz termin: Najmanja spoljašnja dimenzija je debljina nanoploče. NAPOMENA 2 uz termin: Smatra se da su dve dimenzije značajno veće ako su različite od dimenzija na nanoskali za više od tri puta. NAPOMENA 3 uz termin: Veće spoljašnje dimenzije ne moraju se nužno nalaziti na nanoskali.
nanoobjekat (2.2) sa jednom spoljašnjom dimenzijom na nanoskali (2.1) i druge dve značajno veće spoljašnje dimenzije NAPOMENA 1 uz termin: Najmanja spoljašnja dimenzija je debljina nanoploče. NAPOMENA 2 uz termin: Smatra se da su dve dimenzije značajno veće ako su različite od dimenzija na nanoskali za više od tri puta. NAPOMENA 3 uz termin: Veće spoljašnje dimenzije ne moraju se nužno nalaziti na nanoskali.
solid nanofibre (2.6)
puno nanovlakno (2.6)
puno nanovlakno (2.6)
size range from approximately 1 nm to 100 nm Note 1 to entry: Properties that are not extrapolations from a larger size will typically, but not exclusively, be exhibited in this size range. For such properties the size limits are considered approximate. Note 2 to entry: The lower limit in this definition (approximately 1 nm) is introduced to avoid single and small groups of atoms from being designated as nano-objects (2.2) or elements of nanostructures, which might be implied by the absence of a lower limit.
dužina opsega od približno 1 nm do 100 nm NAPOMENA 1 uz termin: Svojstva koja nisu izvedena na osnovu onih koje imaju materijali većih dimenzija, a uglavnom su vidljiva u ovoj dužini opsega. Za takva svojstva se granične veličine smatraju približnim. NAPOMENA 2 uz termin: Donja granica važenja ove definicije (približno 1 nm) uvodi se da bi se izbeglo uključivanje atoma i malih grupa atoma u nanoobjekte (2.2) ili elemente koji pripadaju nanostrukturama, što bi se moglo desiti bez definisanja donje granice.
dužina opsega od približno 1 nm do 100 nm NAPOMENA 1 uz termin: Svojstva koja nisu izvedena na osnovu onih koje imaju materijali većih dimenzija, a uglavnom su vidljiva u ovoj dužini opsega. Za takva svojstva se granične veličine smatraju približnim. NAPOMENA 2 uz termin: Donja granica važenja ove definicije (približno 1 nm) uvodi se da bi se izbeglo uključivanje atoma i malih grupa atoma u nanoobjekte (2.2) ili elemente koji pripadaju nanostrukturama, što bi se moglo desiti bez definisanja donje granice.
hollow nanofibre (2.6)
šuplje nanovlakno (2.6)
šuplje nanovlakno (2.6)
method of imaging surfaces optically in transmission or reflection by mechanically scanning an optically active probe much smaller than the wavelength of light over the surface whilst monitoring the transmitted or reflected light or an associated signal in the near-field regime Note 1 to entry: Topography is important and the probe is scanned at constant height. Usually the probe is oscillated in the shear mode to detect and set the height. Note 2 to entry: Where the extent of the optical probe is defined by an aperture, the aperture size is typically in the range 10 nm to 100 nm, and this largely defines the resolution. This form of instrument is often called an aperture NSOM or aperture SNOM to distinguish it from a scattering NSOM or scattering SNOM (previously called apertureless NSOM or apertureless SNOM) although, generally, the adjective âapertureâ is omitted. In the apertureless form, the extent of the optically active probe is defined by an illuminated sharp metal or metalcoated tip with a radius typically in the range 10 nm to 100 nm, and this largely defines the resolution. Note 3 to entry: In addition to the optical image, NSOM can provide a quantitative image of the surface contours similar to that available in AFM (3.5.2) and allied scanning-probe techniques.
instrument za optičku vizuelizaciju površine u transmisiji ili refleksiji, pomoću mehaničkog prevlačenja optički aktivne sonde mnogo manjih dimenzija od talasne dužine svetlosti, preko površine uzorka, uz istovremeno praćenje propuštene ili reflektovane svetlosti ili novih signala u oblasti bliskog polja NAPOMENA 1 uz termin: Topografija je važna, a skenirajuća sonda se drži na konstantnoj visini. Uobičajeno je da visina sonde osciluje u režimu smicanja da bi se detektovala i podesila njena visina. NAPOMENA 2 uz termin: Kada je veličina optičke sonde definisana otvorom, tada je veličina otvora tipično u opsegu od 10 nm do 100 nm, a to mnogo utiče na rezoluciju. Ovaj tip instrumenta se ponekad naziva NSOM ili SNOM sa otvorom da bi se razlikovali od NSOM ili SNOM koji rade na bazi rasejanja (nekad su se nazivali NSOM ili SNOM bez otvora), čime se, uopšte uzevši, izbacuje termin „otvor”. U obliku bez otvora, veličinu optički aktivne sonde definiše osvetljeni, metalni ili metalizirani vrh sa poluprečnikom od 10 nm do 100 nm, a ovo definiše osetljivost instrumenta. NAPOMENA 3 uz termin: Osim optičke slike, NSOM može dati i numeričke podatke o obliku površine, slične onima koji se dobijaju AFM (3.5.2) i sličnim tehnikama na bazi skenirajuće sonde.
instrument za optičku vizuelizaciju površine u transmisiji ili refleksiji, pomoću mehaničkog prevlačenja optički aktivne sonde mnogo manjih dimenzija od talasne dužine svetlosti, preko površine uzorka, uz istovremeno praćenje propuštene ili reflektovane svetlosti ili novih signala u oblasti bliskog polja NAPOMENA 1 uz termin: Topografija je važna, a skenirajuća sonda se drži na konstantnoj visini. Uobičajeno je da visina sonde osciluje u režimu smicanja da bi se detektovala i podesila njena visina. NAPOMENA 2 uz termin: Kada je veličina optičke sonde definisana otvorom, tada je veličina otvora tipično u opsegu od 10 nm do 100 nm, a to mnogo utiče na rezoluciju. Ovaj tip instrumenta se ponekad naziva NSOM ili SNOM sa otvorom da bi se razlikovali od NSOM ili SNOM koji rade na bazi rasejanja (nekad su se nazivali NSOM ili SNOM bez otvora), čime se, uopšte uzevši, izbacuje termin „otvor”. U obliku bez otvora, veličinu optički aktivne sonde definiše osvetljeni, metalni ili metalizirani vrh sa poluprečnikom od 10 nm do 100 nm, a ovo definiše osetljivost instrumenta. NAPOMENA 3 uz termin: Osim optičke slike, NSOM može dati i numeričke podatke o obliku površine, slične onima koji se dobijaju AFM (3.5.2) i sličnim tehnikama na bazi skenirajuće sonde.
application of elastic neutron scattering for the determination of the atomic or magnetic structure of matter Note 1 to entry: The neutrons emerging from the experiment have approximately the same energy as the incident neutrons. A diffraction pattern is formed that provides information on the structure of the material.
primena elastičnog rasipanja neutrona u određivanju atomske ili magnetne strukture materije NAPOMENA 1 uz termin: Neutroni koji proizlaze iz eksperimenta imaju približno istu energiju kao i incidentni neutroni. Njihova difrakcija pruža informacije o strukturi materijala.
primena elastičnog rasipanja neutrona u određivanju atomske ili magnetne strukture materije NAPOMENA 1 uz termin: Neutroni koji proizlaze iz eksperimenta imaju približno istu energiju kao i incidentni neutroni. Njihova difrakcija pruža informacije o strukturi materijala.
method where the resonance magnetic properties of atomic nuclei are used to determine physical and chemical properties of atoms and molecules
metoda u kojoj se rezonantna magnetna svojstva atomskog jezgra koriste za određivanje fizičkih i hemijskih svojstava atoma i molekula
metoda u kojoj se rezonantna magnetna svojstva atomskog jezgra koriste za određivanje fizičkih i hemijskih svojstava atoma i molekula
spectroscopy where the radiation consists of electromagnetic radiation in the visible, ultraviolet or infrared wavelengths
spektroskopija u kojoj se zračenje sastoji od elektromagnetnog zračenja u infracrvenoj, vidljivoj, ili ultraljubičastoj oblasti talasnih dužina
spektroskopija u kojoj se zračenje sastoji od elektromagnetnog zračenja u infracrvenoj, vidljivoj, ili ultraljubičastoj oblasti talasnih dužina
minute piece of matter with defined physical boundaries Note 1 to entry: A physical boundary can also be described as an interface. Note 2 to entry: A particle can move as a unit. Note 3 to entry: This general particle definition applies to nano-objects (2.2).
sitan komad materijala sa definisanim fizičkim granicama NAPOMENA 1 uz termin: Fizička granica može se takođe opisati i kao interfejs. NAPOMENA 2 uz termin: Čestica može da se kreće kao entitet. NAPOMENA 3 uz termin: Ova opšta definicija čestica važi za nanoobjekte (2.2).
sitan komad materijala sa definisanim fizičkim granicama NAPOMENA 1 uz termin: Fizička granica može se takođe opisati i kao interfejs. NAPOMENA 2 uz termin: Čestica može da se kreće kao entitet. NAPOMENA 3 uz termin: Ova opšta definicija čestica važi za nanoobjekte (2.2).
external geometric form of a particle (2.9)
spoljašnji geometrijski oblik čestice (2.9)
spoljašnji geometrijski oblik čestice (2.9)
linear dimension of a particle (2.9) determined by a specified measurement method and under specified measurement conditions Note 1 to entry: Different methods of analysis are based on the measurement of different physical properties. Independent of the particle property actually measured, the particle size can be reported as a linear dimension, e.g. as the equivalent spherical diameter.
linerana dimenzija čestice (2.9), određena definisanom metodom merenja, pod utvrđenim uslovima merenja NAPOMENA 1 uz termin: Različite metode analize se zasnivaju na merenjima različitih fizičkih svojstava. Nezavisno od svojstva čestice koja se meri, njena veličina se može izraziti kao linerana dimenzija, odnosno ekvivalentni sferni prečnik.
linerana dimenzija čestice (2.9), određena definisanom metodom merenja, pod utvrđenim uslovima merenja NAPOMENA 1 uz termin: Različite metode analize se zasnivaju na merenjima različitih fizičkih svojstava. Nezavisno od svojstva čestice koja se meri, njena veličina se može izraziti kao linerana dimenzija, odnosno ekvivalentni sferni prečnik.
distribution of particles (2.9) as a function of particle size (3.1.1) Note 1 to entry: Particle size distribution may be expressed as cumulative distribution or a distribution density (distribution of the fraction of material in a size class, divided by the width of that class).
raspodela čestica (2.9) u funkciji veličine čestica (3.1.1) NAPOMENA 1 uz termin: Raspodela veličine čestica može da se izrazi kao kumulativna raspodela ili raspodela gustine (raspodela frakcija materijala po klasi veličine, podeljena sa širinom te klase).
raspodela čestica (2.9) u funkciji veličine čestica (3.1.1) NAPOMENA 1 uz termin: Raspodela veličine čestica može da se izrazi kao kumulativna raspodela ili raspodela gustine (raspodela frakcija materijala po klasi veličine, podeljena sa širinom te klase).
luminescence (4.2) caused by absorption of optical radiation
luminiscencija (4.2) uzrokovana apsorpcijom optičkog zračenja
luminiscencija (4.2) uzrokovana apsorpcijom optičkog zračenja
spectroscopy of adsorbed and re-radiated photons
spektroskopija apsorbovanih i reemitovanih fotona
spektroskopija apsorbovanih i reemitovanih fotona
crystalline nanoparticle (2.3) that exhibits size-dependent properties due to quantum confinement effects on the electronic states
kristalna nanočestica (2.3) čija svojstva zavise od veličine usled efekta kvantne ograničenosti elektronskih stanja
kristalna nanočestica (2.3) čija svojstva zavise od veličine usled efekta kvantne ograničenosti elektronskih stanja
method in which the change in frequency of a quartz crystal resonator is measured to determine a change in mass Note 1 to entry: Can be used under vacuum, in gas phase or in liquid environments.
metoda rada vage se zasniva na promeni frekvencije rezonatora kristala kvarca radi određivanja promena mase NAPOMENA 1 uz termin: Vaga može da se koristi u vakuumu, u gasovitoj ili u tečnoj sredini.
metoda rada vage se zasniva na promeni frekvencije rezonatora kristala kvarca radi određivanja promena mase NAPOMENA 1 uz termin: Vaga može da se koristi u vakuumu, u gasovitoj ili u tečnoj sredini.
measure of the distribution of mass about a chosen axis, given as the square root of the moment of inertia about that axis divided by the mass Note 1 to entry: For nano-object (2.2) characterization, physical methods that measure radius of gyration to determine particle size (3.1.1) include static light scattering, small angle neutron scattering (3.2.2) and small angle X-ray scattering (3.2.4).
mera raspodele mase oko izabrane ose, izražena kao kvadratni koren momenta inercije mase podeljen masom NAPOMENA 1 uz termin: Kod karakterizacije nanoobjekata (2.2), fizičke metode koje mere radijus obrtanja prilikom određivanja veličine čestica (3.1.1) uključuju statičko rasipanje svetlosti, rasipanje neutrona pod malim uglom (3.2.2) i rasipanje X-zraka pod malim uglom (3.2.4).
mera raspodele mase oko izabrane ose, izražena kao kvadratni koren momenta inercije mase podeljen masom NAPOMENA 1 uz termin: Kod karakterizacije nanoobjekata (2.2), fizičke metode koje mere radijus obrtanja prilikom određivanja veličine čestica (3.1.1) uključuju statičko rasipanje svetlosti, rasipanje neutrona pod malim uglom (3.2.2) i rasipanje X-zraka pod malim uglom (3.2.4).
emitted radiation, associated with molecules illuminated with monochromatic radiation, characterized by an energy loss or gain arising from rotational or vibrational excitations
emitovano zračenje koje potiče od molekula osvetljenih monohromatskim zračenjem, sa karakterističnim porastom ili smanjenjem energije koje potiče od rotacionog ili vibracionog pobuđivanja
emitovano zračenje koje potiče od molekula osvetljenih monohromatskim zračenjem, sa karakterističnim porastom ili smanjenjem energije koje potiče od rotacionog ili vibracionog pobuđivanja
spectroscopy in which the Raman effect (4.9) is used to investigate molecular energy levels
spektroskopija u kojoj je Ramanov efekat (4.9) korišćen za ispitivanje molekulskih energetskih nivoa
spektroskopija u kojoj je Ramanov efekat (4.9) korišćen za ispitivanje molekulskih energetskih nivoa
method that produces magnified images or diffraction patterns of the sample by a finely focused electron beam, scanned over the surface and which passes through the sample and interacts with it Note 1 to entry: Typically uses an electron beam with a diameter of less than 1 nm. Note 2 to entry: Provides high-resolution imaging of the inner microstructure and the surface of a thin sample [or small particles (2.9)], as well as the possibility of chemical and structural characterization of micrometre and sub-micrometre domains through evaluation of the X-ray spectra and the electron diffraction pattern.
metoda kojom se stvaraju uvećane slike ili difrakcione strukture uzorka pomoću fino usmerenog snopa elektrona kojim se površina uzorka skenira i koji prolazi kroz uzorak i uzajamno reaguje sa njim NAPOMENA 1 uz termin: Obično se koristi snop elektrona sa prečnikom manjim od 1 nm. NAPOMENA 2 uz termin: Omogućava stvaranje slika sa velikom rezolucijom unutrašnje mikrostrukture i površine tankih uzoraka [ili malih čestica (2.9)] i omogućava hemijsko i strukturno ispitivanje mikrometarskih i submikrometarskih domena korišćenjem dobijenih spektara H-zraka i elektronskih difrakcionih struktura.
metoda kojom se stvaraju uvećane slike ili difrakcione strukture uzorka pomoću fino usmerenog snopa elektrona kojim se površina uzorka skenira i koji prolazi kroz uzorak i uzajamno reaguje sa njim NAPOMENA 1 uz termin: Obično se koristi snop elektrona sa prečnikom manjim od 1 nm. NAPOMENA 2 uz termin: Omogućava stvaranje slika sa velikom rezolucijom unutrašnje mikrostrukture i površine tankih uzoraka [ili malih čestica (2.9)] i omogućava hemijsko i strukturno ispitivanje mikrometarskih i submikrometarskih domena korišćenjem dobijenih spektara H-zraka i elektronskih difrakcionih struktura.
method that examines and analyses the physical information (such as secondary electron, backscattered electron, absorbed electron and X-ray radiation) obtained by generating electron beams and scanning the surface of the sample in order to determine the structure, composition and topography of the sample
metoda kojom se ispituju i analiziraju fizičke informacije (kao što su sekundarni elektroni, povratno-rasejani elektroni, apsorbovani elektroni i H-zračenje), dobijene pomoću stvorenog snopa elektrona koji skenira površinu uzorka da bi mu se odredili struktura, hemijski sastav i topografija
metoda kojom se ispituju i analiziraju fizičke informacije (kao što su sekundarni elektroni, povratno-rasejani elektroni, apsorbovani elektroni i H-zračenje), dobijene pomoću stvorenog snopa elektrona koji skenira površinu uzorka da bi mu se odredili struktura, hemijski sastav i topografija
method in which an ion beam focused into a sub-nanometre scale spot is scanned over a surface to create an image Note 1 to entry: A variety of different ion sources can be used for imaging, including helium, neon and argon.
metoda u kojoj se fokusiranim jonskim snopom, prečnika manjeg od nanometra, skenira površina uzorka kako bi se dobila slika NAPOMENA 1 uz termin: Za ovu tehniku mogu da se koriste različiti jonski izvori i joni, uključujući helijum, neon i argon.
metoda u kojoj se fokusiranim jonskim snopom, prečnika manjeg od nanometra, skenira površina uzorka kako bi se dobila slika NAPOMENA 1 uz termin: Za ovu tehniku mogu da se koriste različiti jonski izvori i joni, uključujući helijum, neon i argon.
method of imaging surfaces by mechanically scanning a probe over the surface under study, in which the concomitant response of a detector is measured Note 1 to entry: This generic term encompasses many methods including atomic force microscopy (AFM) (3.5.2), scanning near field optical microscopy (SNOM) (3.5.4), scanning ion conductance microscopy (SICM) and scanning tunnelling microscopy (STM) (3.5.3). Note 2 to entry: The resolution varies from that of STM, where individual atoms can be resolved, to scanning thermal microscopy (SThM) in which the resolution is generally limited to around 1 μm.
instrument koji vizuelizuje površinu koja se ispituje mehaničkim prevlačenjem sonde preko nje, uz istovremeno očitavanje signala NAPOMENA 1 uz termin: Generički termin obuhvata i metode kao što su mikroskopija atomskih sila (AFM) (3.5.2), skenirajuća optička mikroskopija bliskog polja (SNOM) (3.5.4), skenirajuća mikroskopija provodnim jonima (SICM) i skenirajuća tunelska mikroskopija (STM) (3.5.3). NAPOMENA 2 uz termin: Rezolucija mikroskopa varira od veličine atoma u STM-u do oko 1 μm u skenirajućoj termalnoj mikrosopiji (SThM).
instrument koji vizuelizuje površinu koja se ispituje mehaničkim prevlačenjem sonde preko nje, uz istovremeno očitavanje signala NAPOMENA 1 uz termin: Generički termin obuhvata i metode kao što su mikroskopija atomskih sila (AFM) (3.5.2), skenirajuća optička mikroskopija bliskog polja (SNOM) (3.5.4), skenirajuća mikroskopija provodnim jonima (SICM) i skenirajuća tunelska mikroskopija (STM) (3.5.3). NAPOMENA 2 uz termin: Rezolucija mikroskopa varira od veličine atoma u STM-u do oko 1 μm u skenirajućoj termalnoj mikrosopiji (SThM).
SPM (3.5.1) mode for imaging conductive surfaces by mechanically scanning a sharp, voltage-biased, conducting probe tip over their surface, in which the data of the tunnelling current and the tip-surface separation are used in generating the image Note 1 to entry: STM can be conducted in vacuum, a liquid or air. Atomic resolution can be achieved with suitable samples and sharp probes and can, with ideal samples, provide localized bonding information around surface atoms. Note 2 to entry: Images can be formed from the height data at a constant tunnelling current or the tunnelling current at a constant height or other modes at defined relative potentials of the tip and sample. Note 3 to entry: STM can be used to map the densities of states at surfaces or, in ideal cases, around individual atoms. The surface images can differ significantly, depending on the tip bias, even for the same topography.
SPM (3.5.1) način za vizuelizaciju elektroprovodne površine mehaničkim prevlačenjem oštre sonde pod naponom i generisanja struje tunelovanja između vrha sonde i površine materijala NAPOMENA 1 uz termin: STM se može izvoditi u vakuumu, tečnosti ili vazduhu. Atomsku rezoluciju je moguće postići sa pogodnim uzorcima i oštrom sondom, čime se, u idealnim uslovima, dobijaju informacije o prirodi veza atoma na površini. NAPOMENA 2 uz termin: Slike se mogu formirati iz podataka o visini pri konstantnoj struji tunelovanja ili iz promenljive struje tunelovanja na konstantnoj visini, ali i drugim načinima rada pri definisanim relativnim potencijalima vrha sonde i uzorka. NAPOMENA 3 uz termin: STM se može koristiti za mapiranje gustine elektronskih stanja na površini ili, u idealnim slučajevima, oko pojedinačnih atoma. Slike površine se mogu znatno razlikovati, čak i za iste topografije, jer zavise od osetljivosti vrha sonde.
SPM (3.5.1) način za vizuelizaciju elektroprovodne površine mehaničkim prevlačenjem oštre sonde pod naponom i generisanja struje tunelovanja između vrha sonde i površine materijala NAPOMENA 1 uz termin: STM se može izvoditi u vakuumu, tečnosti ili vazduhu. Atomsku rezoluciju je moguće postići sa pogodnim uzorcima i oštrom sondom, čime se, u idealnim uslovima, dobijaju informacije o prirodi veza atoma na površini. NAPOMENA 2 uz termin: Slike se mogu formirati iz podataka o visini pri konstantnoj struji tunelovanja ili iz promenljive struje tunelovanja na konstantnoj visini, ali i drugim načinima rada pri definisanim relativnim potencijalima vrha sonde i uzorka. NAPOMENA 3 uz termin: STM se može koristiti za mapiranje gustine elektronskih stanja na površini ili, u idealnim slučajevima, oko pojedinačnih atoma. Slike površine se mogu znatno razlikovati, čak i za iste topografije, jer zavise od osetljivosti vrha sonde.
method in which a mass spectrometer is used to measure the mass-to-charge quotient and abundance of secondary ions emitted from a sample as a result of bombardment by energetic ions Note 1 to entry: SIMS is, by convention, generally classified as dynamic, in which the material surface layers are continually removed as they are being measured, and static, in which the ion areic dose during measurement is restricted to less than 1016 ions/m2 in order to retain the surface in an essentially undamaged state.
metoda u kojoj se masena spektrometrija koristi za merenje broja sekundarnih jona u funkciji njihovog odnosa masa–naelektrisanje, pri čemu se sekundarni joni emituju iz uzorka kao rezultat bombardovanja jonima visoke energije NAPOMENA 1 uz termin: SIMS je kao metoda, na osnovu dogovora, klasifikovan kao dinamičan, u slučaju da se površinski sloj uzorka kontinualno pomera kako traje merenje, i statičan, onda kada se jonska površinska doza tokom merenja ograničava na manje od 1016 jona/m2 da bi se očuvala površina uzorka u neoštećenom stanju.
metoda u kojoj se masena spektrometrija koristi za merenje broja sekundarnih jona u funkciji njihovog odnosa masa–naelektrisanje, pri čemu se sekundarni joni emituju iz uzorka kao rezultat bombardovanja jonima visoke energije NAPOMENA 1 uz termin: SIMS je kao metoda, na osnovu dogovora, klasifikovan kao dinamičan, u slučaju da se površinski sloj uzorka kontinualno pomera kako traje merenje, i statičan, onda kada se jonska površinska doza tokom merenja ograničava na manje od 1016 jona/m2 da bi se očuvala površina uzorka u neoštećenom stanju.
liquid chromatographic technique in which the separation is based on the hydrodynamic volume of molecules eluting in a column packed with porous non-adsorbing material having pore dimensions that are similar in size to the molecules being separated Note 1 to entry: SEC can be coupled with a detector, for example dynamic light scattering (DLS) (3.2.7), for determination of the size and size distribution of the eluting species.
tehnika tečne hromatografije u kojoj je razdvajanje po veličini bazirano na hidrodinamičkoj zapremini molekula, eluiranjem kroz kolonu ispunjenu poroznim materijalom niske adsorpcije, sa porama veličine slične veličini molekula koji se razdvajaju NAPOMENA 1 uz termin: SEC može biti povezan sa detektorom, npr. dinamičkog rasejanja svetlosti (DLS ) (3.2.7) radi odrđivanja veličine i raspodele veličine eluiranih molekula.
tehnika tečne hromatografije u kojoj je razdvajanje po veličini bazirano na hidrodinamičkoj zapremini molekula, eluiranjem kroz kolonu ispunjenu poroznim materijalom niske adsorpcije, sa porama veličine slične veličini molekula koji se razdvajaju NAPOMENA 1 uz termin: SEC može biti povezan sa detektorom, npr. dinamičkog rasejanja svetlosti (DLS ) (3.2.7) radi odrđivanja veličine i raspodele veličine eluiranih molekula.
abstract plane in the vicinity of the liquid/solid interface where liquid starts to slide relative to the surface under influence of a shear stress
apstraktna ravan u neposrednoj blizini granice faza tečno/čvrsto u kojoj tečnost počinje da klizi relativno prema površini pod uticajem napona smicanja
apstraktna ravan u neposrednoj blizini granice faza tečno/čvrsto u kojoj tečnost počinje da klizi relativno prema površini pod uticajem napona smicanja
method in which a beam of neutrons is scattered from a sample and the scattered neutron intensity is measured for small angle deflection Note 1 to entry: The scattering angle is usually between 0,5° and 10° in order to study the structure of a material on the length scale of 1 nm to 100 nm. The method provides information on the sizes of the particles (2.9) and to a limited extent the shapes of the particles dispersed in homogeneous medium.
metoda kod koje se snop neutrona rasipa u uzorku, a intenzitet rasipanja neutrona meri pod malim uglovima skretanja NAPOMENA 1 uz termin: Ugao rasipanja između 0,5° i 10° omogućava ispitivanje strukture materijala na skali dužine od 1 nm do 100 nm. Metoda pruža informacije o veličini čestica (2.9) i donekle o obliku čestica dispergovanih u homogenom medijumu.
metoda kod koje se snop neutrona rasipa u uzorku, a intenzitet rasipanja neutrona meri pod malim uglovima skretanja NAPOMENA 1 uz termin: Ugao rasipanja između 0,5° i 10° omogućava ispitivanje strukture materijala na skali dužine od 1 nm do 100 nm. Metoda pruža informacije o veličini čestica (2.9) i donekle o obliku čestica dispergovanih u homogenom medijumu.
method in which the elastically scattered intensity of X-rays is measured for small-angle deflections Note 1 to entry: The angular scattering is usually measured within the range 0,1° to 10°. This provides structural information on macromolecules as well as periodicity on length scales typically larger than 5 nm and less than 200 nm for ordered or partially ordered systems.
metoda u kojoj se intenzitet elastičnog rasipanja X-zraka meri pod malim uglovima skretanja NAPOMENA 1 uz termin: Ugaono rasipanje se obično meri u opsegu od 0,1° do 10°. Ovo obezbeđuje strukturne informacije o makromolekulima, isto koliko i o učestalost uređenja na dužini skale većoj od 5 nm i manjoj od 200 nm kod uređenih ili delimično uređenih sistema.
metoda u kojoj se intenzitet elastičnog rasipanja X-zraka meri pod malim uglovima skretanja NAPOMENA 1 uz termin: Ugaono rasipanje se obično meri u opsegu od 0,1° do 10°. Ovo obezbeđuje strukturne informacije o makromolekulima, isto koliko i o učestalost uređenja na dužini skale većoj od 5 nm i manjoj od 200 nm kod uređenih ili delimično uređenih sistema.
method of microscopy in which a spatial resolution finer than the limit normally imposed by diffraction is achieved Note 1 to entry: The most common super-resolution microscopy approaches include localization microscopy (3.5.16), stimulated emission depletion (STED) microscopy and structured illumination microscopy (SIM). Note 2 to entry: Most super-resolution microscopy techniques rely on fluorescence (3.5.12).
metoda mikroskopije u kojoj se postiže prostorna rezolucija bolja od granične, nametnute difrakcijom NAPOMENA 1 uz termin: Najviše korišćen pristup u superrezolucionoj mikroskopiji uključuje lokalizacionu mikroskopiju (3.5.16), mikroskopiju na bazi gašenja stimulisane emisije (STED) i mikroskopiju na bazi strukturiranog osvetljavanja (SIM). NAPOMENA 2 uz termin: Većina superrezolucionih mikroskopskih tehnika se oslanja na fluorescenciju (3.5.12).
metoda mikroskopije u kojoj se postiže prostorna rezolucija bolja od granične, nametnute difrakcijom NAPOMENA 1 uz termin: Najviše korišćen pristup u superrezolucionoj mikroskopiji uključuje lokalizacionu mikroskopiju (3.5.16), mikroskopiju na bazi gašenja stimulisane emisije (STED) i mikroskopiju na bazi strukturiranog osvetljavanja (SIM). NAPOMENA 2 uz termin: Većina superrezolucionih mikroskopskih tehnika se oslanja na fluorescenciju (3.5.12).
method of optical imaging using the association of contrast-enhancing surfaces as sample slides and a reflected light optical microscope with crossed polarizers Note 1 to entry: The contrast-enhancing slides are designed to become anti-reflecting when used in these conditions, leading to an increase in the axial sensitivity of the optical microscope by a factor of around 100.
mikroskopija metoda optičke vizuelizacije koja koristi kombinaciju slojeva uzorka za pojačanje kontrasta i reflektujućih optičkih mikroskopa sa polarizatorima svetlosti NAPOMENA 1 uz termin: Slojevi sa pojačanjem kontrasta su projektovani tako da postaju antirefleksioni onda kada se koriste u ovim uslovima, što dovodi do pojačane aksijalne osetljivosti optičkog mikroskopa za faktor od oko 100.
mikroskopija metoda optičke vizuelizacije koja koristi kombinaciju slojeva uzorka za pojačanje kontrasta i reflektujućih optičkih mikroskopa sa polarizatorima svetlosti NAPOMENA 1 uz termin: Slojevi sa pojačanjem kontrasta su projektovani tako da postaju antirefleksioni onda kada se koriste u ovim uslovima, što dovodi do pojačane aksijalne osetljivosti optičkog mikroskopa za faktor od oko 100.
enhanced Raman effect (4.9) observed for certain molecules or nano-objects (2.2) adsorbed to particular metal surfaces whose roughness is in the nanoscale (2.1) when illuminated with suitable light Note 1 to entry: Typically metals where varying degrees of enhancement is observed include gold, silver, copper, and aluminium. Note 2 to entry: The roughness of a surface is typically in the range of a few tens of nanometres for enhancement to occur.
pojačanje Ramanovog efekta (4.9) primećeno je kod nekih molekula i nanoobjekata (2.2), adsorbovanih na specijalnim metalnim površinama hrapavosti na nanoskali (2.1), onda kada se osvetle svetlošću odgovarajuće talasne dužine NAPOMENA 1 uz termin: Metali kod kojih su primećeni različiti stepeni pojačanja su zlato, srebro, bakar i aluminijum. NAPOMENA 2 uz termin: Potrebna hrapavost površine za pojavu pojačanja je obično reda veličine od nekoliko desetina nanometara.
pojačanje Ramanovog efekta (4.9) primećeno je kod nekih molekula i nanoobjekata (2.2), adsorbovanih na specijalnim metalnim površinama hrapavosti na nanoskali (2.1), onda kada se osvetle svetlošću odgovarajuće talasne dužine NAPOMENA 1 uz termin: Metali kod kojih su primećeni različiti stepeni pojačanja su zlato, srebro, bakar i aluminijum. NAPOMENA 2 uz termin: Potrebna hrapavost površine za pojavu pojačanja je obično reda veličine od nekoliko desetina nanometara.
heterogeneous mixture of materials comprising a liquid and a finely dispersed solid material
heterogena smeša koju čine fino dispergovane čvrste materije u tečnoj fazi
heterogena smeša koju čine fino dispergovane čvrste materije u tečnoj fazi
method in which the change in mass of a sample is measured as a function of temperature while the sample is subjected to a controlled temperature programme
metoda u kojoj se promena mase uzorka meri u funkciji temperature koja je kontrolisana temperaturskim programom
metoda u kojoj se promena mase uzorka meri u funkciji temperature koja je kontrolisana temperaturskim programom
enhanced Raman effect (4.9) observed with a metal tip in close proximity to a sample surface illuminated with suitably polarized light
pojačani Ramanov efekat (4.9) primećen sa oštrim metalnim vrhom u neposrednoj blizini površine uzorka koja je osvetljena odgovarajućom polarizovanom svetlošću
pojačani Ramanov efekat (4.9) primećen sa oštrim metalnim vrhom u neposrednoj blizini površine uzorka koja je osvetljena odgovarajućom polarizovanom svetlošću
method in which fluorescence (3.5.12) is excited in a thin layer by an evanescent wave produced by total internal reflection
metoda u kojoj se fluorescencija (3.5.12) pobuđuje u tankom sloju pomoću prolaznog talasa stvorenog totalnom unutrašnjom refleksijom
metoda u kojoj se fluorescencija (3.5.12) pobuđuje u tankom sloju pomoću prolaznog talasa stvorenog totalnom unutrašnjom refleksijom
method that produces magnified images or diffraction patterns of the sample by an electron beam which passes through the sample and interacts with it
metoda kojom se stvaraju uveličane slike ili difrakcione strukture uzorka pomoću snopa elektrona koji prolazi kroz uzorak i uzajamno reaguje sa njim
metoda kojom se stvaraju uveličane slike ili difrakcione strukture uzorka pomoću snopa elektrona koji prolazi kroz uzorak i uzajamno reaguje sa njim
method in which an electron spectrometer (4.13) is used to measure the energy distribution of photoelectrons emitted from a surface irradiated by ultraviolet photons Note 1 to entry: Ultraviolet sources in common use include various types of discharges that can generate the resonance lines of various gases (e.g. the He I and He II emission lines at energies of 21,2 eV and 40,8 eV, respectively). For variable energies, synchrotron radiation is used.
metoda u kojoj se spektrometar elektrona (4.13) koristi za merenje raspodele energija fotoelektrona emitovanih sa površine uzorka osvetljene fotonima iz ultraljubičastog spektra NAPOMENA 1 uz termin: Izvori ultraljubičaste svetlosti koji se najčešće koriste obuhvataju različite vrste uređaja na bazi elektromagnetnog pražnjenja u gasovima koji emituju rezonantne linije (na primer He I i He II emisione linije na energijama od 21,2 eV i 40,8 eV, tim redom). Za neke druge energije može da se koristi sinhrotronsko zračenje.
metoda u kojoj se spektrometar elektrona (4.13) koristi za merenje raspodele energija fotoelektrona emitovanih sa površine uzorka osvetljene fotonima iz ultraljubičastog spektra NAPOMENA 1 uz termin: Izvori ultraljubičaste svetlosti koji se najčešće koriste obuhvataju različite vrste uređaja na bazi elektromagnetnog pražnjenja u gasovima koji emituju rezonantne linije (na primer He I i He II emisione linije na energijama od 21,2 eV i 40,8 eV, tim redom). Za neke druge energije može da se koristi sinhrotronsko zračenje.
spectroscopy of radiation that consists of electromagnetic radiation with wavelengths in the ultraviolet and/or visible regions
spektroskopija zračenja koje se sastoji od elektromagnetnog zračenja talasnih dužina u ultraljubičastom i/ili vidljivom delu spektra
spektroskopija zračenja koje se sastoji od elektromagnetnog zračenja talasnih dužina u ultraljubičastom i/ili vidljivom delu spektra
absolute surface area of the sample divided by sample volume Note 1 to entry: Volume specific surface area has units of mâ1.
apsolutna površina uzorka, podeljena sa zapreminom uzorka NAPOMENA 1 uz termin: Specifična površina po zapremini ima jedinice m-1.
apsolutna površina uzorka, podeljena sa zapreminom uzorka NAPOMENA 1 uz termin: Specifična površina po zapremini ima jedinice m-1.
method in which the absorption of X-rays passing through matter is measured as a function of X-ray energy Note 1 to entry: The method is used to determine local geometric and/or electronic structure of matter. Note 2 to entry: X-ray absorption fine structure spectroscopy (XAFS), X-ray absorption near-edge spectroscopy (XANES), near-edge extended X-ray absorption fine structure spectroscopy (NEXAFS) are all types of X-ray absorption spectroscopy.
metoda u kojoj se meri apsorpcija H-zraka prilikom prolaska kroz materiju u funkciji energije H-zraka NAPOMENA 1 uz termin: Ova metoda se koristi za određivanje lokalne geometrije i/ili elektronske strukture materije. NAPOMENA 2 uz termin: Apsorpciona spektroskopija H-zraka fine strukture (X-ray absorption fine structure spectroscopy – XAFS), apsorpciona spektroskopija graničnih H-zraka (X-ray absorption near-edge spectroscopy – XANES), apsorpciona spektroskopija graničnih produženih H-zraka fine strukture (near-edge extended X-ray absorption fine structure spectroscopy – NEXAFS) su podtipovi apsorpcione spektroskopije H-zraka.
metoda u kojoj se meri apsorpcija H-zraka prilikom prolaska kroz materiju u funkciji energije H-zraka NAPOMENA 1 uz termin: Ova metoda se koristi za određivanje lokalne geometrije i/ili elektronske strukture materije. NAPOMENA 2 uz termin: Apsorpciona spektroskopija H-zraka fine strukture (X-ray absorption fine structure spectroscopy – XAFS), apsorpciona spektroskopija graničnih H-zraka (X-ray absorption near-edge spectroscopy – XANES), apsorpciona spektroskopija graničnih produženih H-zraka fine strukture (near-edge extended X-ray absorption fine structure spectroscopy – NEXAFS) su podtipovi apsorpcione spektroskopije H-zraka.
method to obtain crystallographic information about a sample by observing the diffraction pattern due to an X-ray beam hitting a sample Note 1 to entry: The method can be used to estimate the size of coherent scattering regions.
metoda za dobijanje kristalografskih informacija o uzorku preko difrakcionog spektra dobijenog nakon udara snopa H-zraka u uzorak NAPOMENA 1 uz termin: Metoda može da se koristi i za određivanje veličine koherentne zapremine rasejanja.
metoda za dobijanje kristalografskih informacija o uzorku preko difrakcionog spektra dobijenog nakon udara snopa H-zraka u uzorak NAPOMENA 1 uz termin: Metoda može da se koristi i za određivanje veličine koherentne zapremine rasejanja.
secondary radiation occurring when a high intensity incident X-ray beam impinges upon a material placed in the path of the incident beam Note 1 to entry: The secondary emission has wavelengths and energies characteristic of that material.
metoda zasnovana na merenju sekundarnog zračenja koje nastaje onda kada snop H-zraka visokog intenziteta udari u materijal smešten na put upadnog snopa NAPOMENA 1 uz termin: Emitovano sekundarno zračenje ima talasne dužine i energije karakteristične za dati materijal.
metoda zasnovana na merenju sekundarnog zračenja koje nastaje onda kada snop H-zraka visokog intenziteta udari u materijal smešten na put upadnog snopa NAPOMENA 1 uz termin: Emitovano sekundarno zračenje ima talasne dužine i energije karakteristične za dati materijal.
method in which an electron spectrometer (4.13) is used to measure the energy distribution of photoelectrons and Auger electrons (4.15) emitted from a surface irradiated by X-ray photons Note 1 to entry: X-ray sources in common use are unmonochromated Al Ka and Mg Ka X-rays at 1 486,6 eV and 1 253,6 eV, respectively. Modern instruments also use monochromated Al Ka X-rays. Some instruments make use of various X-ray sources with other anodes or of synchrotron radiation.
metoda u kojoj se spektrometar elektrona (4.13) koristi za merenje raspodele energije fotoelektrona i Ožeovih elektrona (4.15), emitovanih sa površine uzorka ozračene H-zracima NAPOMENA 1 uz termin: Izvori H-zraka koji se obično koriste su nemonohromatski, Al Ka i Mg Ka X-zračenje, energije 1 486,6 eV i 1 253,6 eV, tim redom. Moderni instrumenti koriste i monohromatsko Al Ka H-zračenje. Neki instrumenti mogu da koriste različite izvore H-zraka sa različitim anodama ili sinhrotronsko zračenje.
metoda u kojoj se spektrometar elektrona (4.13) koristi za merenje raspodele energije fotoelektrona i Ožeovih elektrona (4.15), emitovanih sa površine uzorka ozračene H-zracima NAPOMENA 1 uz termin: Izvori H-zraka koji se obično koriste su nemonohromatski, Al Ka i Mg Ka X-zračenje, energije 1 486,6 eV i 1 253,6 eV, tim redom. Moderni instrumenti koriste i monohromatsko Al Ka H-zračenje. Neki instrumenti mogu da koriste različite izvore H-zraka sa različitim anodama ili sinhrotronsko zračenje.