Пројекти
Претражите српске, европске и међународне стандарде. Одредите организацију која је доносилац стандарда, изаберите ознаку стандарда или кључну реч и завршите жељену претрагу. Можете додати и фазу у изради стандарда или комитет/комисију која је израдила стандард.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
60.60
Стандард објављен
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
60.60
Стандард објављен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22-1: Bond strength - Wire bond pull test methods
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22-2: Bond strength - Wire bond shear test methods
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
60.60
Стандард објављен
