Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

Пројекти

Претражите српске, европске и међународне стандарде. Одредите организацију која је доносилац стандарда, изаберите ознаку стандарда или кључну реч и завршите жељену претрагу. Можете додати и фазу у изради стандарда или комитет/комисију која је израдила стандард.

Secondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes - Safety requirements for secondary lithium batteries for use in road vehicles not for the propulsion

60.60   Стандард објављен

TC 21/SC 21A Сазнај више

Switchgear and controlgear and their assemblies for low voltage - Environmental aspects

60.60   Стандард објављен

Electric energy supply networks - General aspects and methods for the maintenance of installations and equipment

60.60   Стандард објављен

Adjusted volume calculation for refrigerating appliances

60.60   Стандард објављен

TC 59/SC 59M Сазнај више

Graphical symbols for diagrams - Guidance on design for standardization in IEC 60617

60.60   Стандард објављен

Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station

60.60   Стандард објављен

Amendment 1 - Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station

60.60   Стандард објављен

Low-voltage docking connectors for removable energy storage units

60.60   Стандард објављен

TC 23/SC 23H Сазнај више

Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and tests

60.60   Стандард објављен

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects

60.60   Стандард објављен

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection

60.60   Стандард објављен

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence

60.60   Стандард објављен

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence

60.60   Стандард објављен

Industrial-process measurement, control and automation - Framework for functional safety and security

60.60   Стандард објављен

Ultrasonics - Field characterization - Infrared imaging techniques for determining temperature elevation in tissue-mimicking material and at the radiation surface of a transducer in still air

60.60   Стандард објављен

Power supplying scheme for wearable system and equipment

60.60   Стандард објављен

Photonic integrated circuits - Part 1: Introduction and roadmap for standardization

60.60   Стандард објављен

TC 86/SC 86C Сазнај више

Dedicated radionuclide imaging devices - Characteristics and test conditions - Part 1: Cardiac SPECT

60.60   Стандард објављен

TC 62/SC 62C Сазнај више