Пројекти
Претражите српске, европске и међународне стандарде. Одредите организацију која је доносилац стандарда, изаберите ознаку стандарда или кључну реч и завршите жељену претрагу. Можете додати и фазу у изради стандарда или комитет/комисију која је израдила стандард.
Semiconductor devices - Part 14-12: Semiconductor sensors - Performance test methods for CMOS imager-based gas sensors
50.00
Евидентирање података о дефинитивном тексту нацрта стандарда
Semiconductor devices - Part 14-13: Semiconductor sensors - Performance test methods for spectral sensors
20.99
Преднацрт стандарда прихвата се као нацрт стандарда
Semiconductor devices - Part 16-11: Microwave integrated circuits - Power detectors
60.00
Стандард у поступку објављивања
Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation
30.60
Завршетак изјашњавања о нацрту комисије стандарда
Semiconductor devices - Part 5-17: Optoelectronic devices - Light emitting diode - Measuring methods of optoelectronic parameters of micro scale light emitting diode array
30.99
Нацрт комисије стандарда одобрава се за јавну расправу
Semiconductor devices - Part 5-18: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the macro photoluminescence for epitaxial wafers of micro light emitting diodes
50.20
Почетак поступка одобравања дефинитивног текста нацрта стандарда
Semiconductor devices - Part 5-19: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the micro photoluminescence for chip wafers of micro light emitting diodes
50.99
Дефинитивни текст нацрта стандарда одобрен за објављивање
Amendment 1 - Semiconductor devices - Part 5-6: Optoelectronic devices - Light emitting diodes
30.60
Завршетак изјашњавања о нацрту комисије стандарда
Amendment 2 - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors
20.99
Преднацрт стандарда прихвата се као нацрт стандарда
Amendment 1 - Semiconductor devices - Part 9: Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)
20.99
Преднацрт стандарда прихвата се као нацрт стандарда
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
40.20
Нацрт на јавној расправи 60 дана
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
20.99
Преднацрт стандарда прихвата се као нацрт стандарда
Radiation protection instrumentation - Equipment for continuous monitoring of radioactivity in gaseous effluents - Part 1: General requirements
40.20
Нацрт на јавној расправи 60 дана
Radiation protection instrumentation - Equipment for continuous monitoring of radioactivity in gaseous effluents - Part 2: Specific requirements for radioactive aerosol monitors including transuranic aerosols
60.00
Стандард у поступку објављивања
Nuclear facilities - Electrical equipment important to safety - Qualification
40.20
Нацрт на јавној расправи 60 дана
Optical fibres - Part 1-20: Measurement methods and test procedures - Fibre geometry
20.99
Преднацрт стандарда прихвата се као нацрт стандарда
Optical fibres - Part 1-21: Measurement methods and test procedures - Coating geometry
20.99
Преднацрт стандарда прихвата се као нацрт стандарда
Optical fibres - Part 1-47: Measurement methods and test procedures - Macrobending loss
40.20
Нацрт на јавној расправи 60 дана
