Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 62951-8:2023 ED1

Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 8: Test method for stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory
19. 1. 2023.

Опште информације

60.60     19. 1. 2023.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.99  

енглески  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 62951-8:2023 (E) defines terms and specifies the test method for evaluating the stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory. The test method descriptions include experimental procedures and the equipment to be used. It also includes general requirements for test conditions such as the temperature and relative humidity of the testing environment. The test method described in this document focuses on stability evaluation rather than reliability.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 62951-8:2023 ED1
60.60 Стандард објављен
19. 1. 2023.