0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 62215-3:2013 ED1

Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method
17. 7. 2013.

Опште информације

60.60     17. 7. 2013.

IEC

TC 47/SC 47A

Међународни стандард

31.200  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 62215-3:2013 specifies a method for measuring the immunity of an integrated circuit (IC) to standardized conducted electrical transient disturbances. The disturbances, not necessarily synchronized to the operation of the device under test (DUT), are applied to the IC pins via coupling networks. This method enables understanding and classification of interaction between conducted transient disturbances and performance degradation induced in ICs regardless of transients within or beyond the specified operating voltage range.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 62215-3:2013 ED1
60.60 Стандард објављен
17. 7. 2013.