0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 62435-2:2017 ED1

Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 2: Deterioration mechanisms
24. 1. 2017.

Опште информације

60.60     24. 1. 2017.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.020  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 62435-2:2017 is related to deterioration mechanisms and is concerned with the way that components degrade over time depending on the storage conditions applied. This part also includes guidance on test methods that may be used to assess generic deterioration mechanisms. Typically, this part is used in conjunction with IEC 62435-1:2017 for any device long-term storage whose duration may be more than 12 months for product scheduled for long duration storage.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 62435-2:2017 ED1
60.60 Стандард објављен
24. 1. 2017.