Објављен
IEC 62899-503-1:2020(E) specifies a test method for displacement current measurement (DCM) for printed thin film transistors (TFTs) or organic thin film transistors (OTFTs).
ОБЈАВЉЕН
IEC 62899-503-1:2020 ED1
60.60
Стандард објављен
27. 5. 2020.