0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO/TS 17915:2013

Optics and photonics — Measurement method of semiconductor lasers for sensing
25. 6. 2013.
95.99   Повучен   25. 5. 2018.

Опште информације

95.99     25. 5. 2018.

ISO

ISO/TC 172/SC 9

Техничка спецификација

31.260  

енглески  

Куповина

Повучен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

ISO/TS 17915:2013 describes methods of measuring temperature, injected current dependence and lasing spectral line width in relation to semiconductor lasers for sensing applications. ISO/TS 17915:2013 is applicable to all kinds of semiconductor lasers, such as edge-emitting type and vertical cavity surface emitting type lasers, bulk-type and (strained) quantum well lasers, and quantum cascade lasers, used for optical sensing in e.g. industrial, medical and agricultural fields. ISO/TS 17915:2013 is an application of ISO 13695, in which the physical bases are explained.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
ISO/TS 17915:2013
95.99 Повучен
25. 5. 2018.

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
ISO 17915:2018