0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO 22493:2014

Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Vocabulary
9. 4. 2014.

Опште информације

90.60     3. 12. 2024.

ISO

ISO/TC 202/SC 1

Међународни стандард

37.020     01.040.37  

енглески  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

ISO 22493:2014 defines terms used in the practice of scanning electron microscopy (SEM). It covers both general and specific concepts, classified according to their hierarchy in a systematic order, with those terms that have already been defined in ISO 23833 also included, where appropriate.
ISO 22493:2014is applicable to all standardization documents relevant to the practice of SEM. In addition, some clauses of ISO 22493:2014 are applicable to documents relevant to related fields (e.g. EPMA, AEM, EDS) for the definition of terms which are relevant to such fields.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
ISO 22493:2008

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
ISO 22493:2014
90.60 Завршетак поступка преиспитивања стандарда
3. 12. 2024.