0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO 21222:2020

Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
29. 1. 2020.

Опште информације

90.60     5. 6. 2025.

ISO

ISO/TC 201/SC 9

Међународни стандард

71.040.40  

енглески  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

This document describes a procedure for the determination of elastic modulus for compliant materials using atomic force microscope (AFM). Force-distance curves on the surface of compliant materials are measured and the analysis uses a two-point method based on Johnson-Kendall-Roberts (JKR) theory. This document is applicable to compliant materials with elastic moduli ranging from 100 kPa to 1 GPa. The spatial resolution is dependent on the contact radius between the AFM probe and the surface and is typically approximately10-20 nm.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
ISO 21222:2020
90.60 Завршетак поступка преиспитивања стандарда
5. 6. 2025.