0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

ISO 17109:2015/DAmd 1

Surface chemical analysis — Depth profiling — Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films — Amendment 1

Опште информације

40.98     13. 8. 2021.

ISO

ISO/TC 201/SC 4

Међународни стандард

71.040.40  

Апстракт

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
ISO 17109:2015

ТРЕНУТНО

НАПУШТЕН
ISO 17109:2015/DAmd 1
40.98 Пројекат се брише из плана рада комисије за стандарде
13. 8. 2021.