prSRPS EN IEC 60749-24:2026

Полупроводничке компоненте - Методе механичких и климатских испитивања - Део 24: Отпорност према убрзаном продору влаге - HAST без поларизације

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST

Апстракт

Овим документом се утврђује испитивање високоубрзаним напрезањем у влажној средини (HAST) без поларизације. HAST се спроводи ради оцењивања поузданости полупроводничких компоненти у чврстом стању које нису херметички запаковане, у влажним срединама. То је високоубрзано испитивање при којем се користе температура и влажност у условима без кондензације како би се убрзало продирање влаге кроз спољашњи заштитни материјал (инкапсулант или заптивку) или дуж границе између спољашњег заштитног материјала и металних проводника који пролазе кроз њега. Током овог испитивања не примењује се поларизација како би се омогућило откривање механизама отказа који би потенцијално били прикривени поларизацијом (нпр. галванска корозија).
Ово испитивање се користи за идентификовање механизама отказа унутар паковања и разорно је.