prSRPS EN IEC 60749-7:2026

Полупроводничке компоненте — Методе механичких и климатских испитивања — Део 7: Мерење садржаја унутрашње влаге и анализа других заосталих гасова

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

Апстракт

Овим документом се утврђује испитивање и мерење садржаја водене паре и других гасова у атмосфери унутар херметички затворене компоненте од метала или керамике. Испитивање се користи као показатељ квалитета поступка херметичког затварања и за добијање информација о дугорочној хемијској стабилности атмосфере унутар паковања. Примењује се на полупроводничке компоненте које су затворене на такав начин, али се углавном користи само за примене са високим захтевима за поузданост, као што су војне или ваздухопловне примене.