prSRPS EN IEC 60749-7:2026

Полупроводничке компоненте — Методе механичких и климатских испитивања — Део 7: Мерење садржаја унутрашње влаге и анализа других заосталих гасова

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

Апстракт

Овим документом се утврђује испитивање и мерење садржаја водене паре и других гасова у атмосфери унутар херметички заптивене компоненте са металним или керамичким кућиштем. Испитивање се користи за оцену квалитета поступка херметичког заптивања и за добијање информација о дугорочној хемијској стабилности атмосфере унутар кућишта. Примењује се на полупроводничке компоненте које су заптивене на такав начин, али се углавном користи само за примене са високим захтевима за поузданост, као што су војне или ваздухопловне примене.