Повучен
Utvrđuje se metoda za određivanje lokalne debljine metalnih, oksidnih i prevlaka emajla pomoću optičkog mikroskopa, na odgovarajuće pripremljenom uzorku (preseku). Pri dobrim uslovima metoda omogućava određivanje sa apsolutnom tačnošcu od 0,8 milimikrona, što metodu čini pogodnom za određivanje debljine tankih prevlaka.
ПОВУЧЕН
SRPS C.A6.031:1990
95.99
Повучен
28. 2. 2013.
ПОВУЧЕН
SRPS EN ISO 1463:2013