Повучен
Ova tehnička specifikacija daje standardu metodu ispitivanja za određivanje zostalih napona u polikristalnim materijalima pomoću neutronske radiografije. Primenjuje se na homogene i nehomogene materijale i ispitne komade koji sadrže različite faze.
ПОВУЧЕН
SRPS CEN ISO/TS 21432:2008
95.99
Повучен
30. 11. 2020.
ОБЈАВЉЕН
SRPS EN ISO 21432:2020