ISO 3785:2006 definiše metodu za određivanje osa uzoraka za ispitivanje u odnosu na teksturu proizvoda putem nekog X-Y-Z ortogonalnog koordinatnog sistema. Sistem se primenjuje podjednako na uzorke za ispitivanje bez zareza i sa zarezom. Metod je namenjen samo za metalne materijale sa jedinstvenom teksturom koja može da bude nedvosmisleno utvrđena.
ПОВУЧЕН
SRPS EN ISO 3785:2012
95.99
Повучен
30. 6. 2023.
ОБЈАВЉЕН
SRPS EN ISO 3785:2023