any unexposed surface of the test specimen close to the test area but outside the Petri dish
Bilo koja slobodna površina ispitnog uzorka u blizini oblasti za ispitivanje, ali izvan Petrijeve posude.
Bilo koja slobodna površina ispitnog uzorka u blizini oblasti za ispitivanje, ali izvan Petrijeve posude.
area under the Petri dish (see 6.2.2)
Oblast ispod Petrijeve posude (videti 6.2.2).
Oblast ispod Petrijeve posude (videti 6.2.2).
part, of a size suitable for testing, taken from an element
Deo, veličine pogodne za ispitivanje, izdvojen iz elementa.
Deo, veličine pogodne za ispitivanje, izdvojen iz elementa.
either a full element or an assembly of elements to be tested
Ceo element ili sklop elemenata za ispitivanje.
Ceo element ili sklop elemenata za ispitivanje.
part of the test piece, where the test area is located NOTE For products made from small elements the test piece can be the same as the test specimen.
Deo ispitnog komada gde se nalazi oblast za ispitivanje. NAPOMENA Za proizvode napravljene od malih elemenata ispitni komad može biti isto što i uzorak za ispitivanje.
Deo ispitnog komada gde se nalazi oblast za ispitivanje. NAPOMENA Za proizvode napravljene od malih elemenata ispitni komad može biti isto što i uzorak za ispitivanje.