Термини
SRPS CEN ISO/TS 80004-6:2022

Нанотехнологије – Речник – Део 6: Карактеризација нанообјеката

Nanotechnologies - Vocabulary - Part 6: Nano-object characterization (ISO/TS 80004-6:2021)

Термини

• 3.1. наноскала nanoscale
  енглески
  

  length range approximately from 1 nm to 100 nm Note 1 to entry: Properties that are not extrapolations from a larger size are predominantly exhibited in this length range.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  дужина опсега од приближно 1 nm до 100 nm

  1. НАПОМЕНА 1 уз термин:   Својства којa нису изведена на основу оних која имају материјали већих димензија претежно су изложена у овом опсегу дужина.
• 3.10. aгломерат agglomerate
  енглески
  

  collection of weakly or medium strongly bound particles (3.9) where the resulting external surface area is similar to the sum of the surface areas of the individual components Note 1 to entry: The forces holding an agglomerate together are weak forces, for example van der Waals forces or simple physical entanglement. Note 2 to entry: Agglomerates are also termed “secondary particles” and the original source particles are termed “primary particles”.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  скуп слабо или средње јако везаних честица (3.9) са резултујућом спољашњом површином сличном збиру површина појединачних компоненти

  Напомена 1 уз термин:   Силе које држе агломерат заједно су слабе, на пример Ван дер Валсова сила или једноставна физичка привлачност.

  Напомена 2 уз термин:   Агломерати се такође називају „секундарне честице” и оригиналне изворне честице се називају „примарне честице”.

• 3.11. aгрегат aggregate
  енглески
  

  particle (3.9) comprising strongly bonded or fused particles where the resulting external surface area is significantly smaller than the sum of surface areas of the individual components Note 1 to entry: The forces holding an aggregate together are strong forces, for example covalent or ionic bonds, or those resulting from sintering or complex physical entanglement, or otherwise combined former primary particles. Note 2 to entry: Aggregates are also termed “secondary particles” and the original source particles are termed “primary particles”.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  честица (3.9) којa садржи снажно повезане или срасле честице где је добијена спољашња површина знатно мања од збира површина појединачних компоненти

  Напомена 1 уз термин:   Силе које држе агрегат заједно су јаке силе, на пример ковалентне или јонске везе, или везе које настају у процесу синтеровања или сложене физичке привлачности, или на други начин комбиноване бивше примарне честице.

  Напомена 2 уз термин:   Агрегати се такође називају „секундарне честице” и оригиналне изворне честице се називају „примарне честице”.

• 3.12. aеросол aerosol
  енглески
  

  system of solid and/or liquid particles (3.9) suspended in gas.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  систем чврстих и/или течних честица (3.9) суспендованих у гасу

• 3.13. суспензија suspension
  енглески
  

  heterogeneous mixture of materials comprising a liquid and a finely dispersed solid material

  српски
  Нема информација

  српски
  

  хетерогена смеша коју чине фино дисперговане чврсте материје у течној фази

• 3.14. дисперзија dispersion
  енглески
  

  multi-phase system in which discontinuities of any state (solid, liquid or gas: discontinuous phase) are distributed in a continuous phase of a different composition or state Note 1 to entry: This term also refers to the act or process of producing a dispersion; in this context the term “dispersion process” should be used. Note 2 to entry: If solid particles (3.9) are distributed in a liquid, the dispersion is referred to as a suspension (3.13). If the dispersion consists of two or more immiscible liquid phases, it is termed an “emulsion”. A suspoemulsion consists of both solid and liquid phases distributed in a continuous liquid phase.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  вишефазни систем у коме се дисконтинуитети било ког стања (чврстог, течног или гасовитог: дисконтинуална фаза) дистрибуирају у континуалној фази различитог састава или стања

  Напомена 1 уз термин   Овај термин се такође односи на чин или процес производње дисперзије; у овом контексту треба користити термин „процес дисперговања”.

  Напомена 2 уз термин:   Ако су чврсте честице (3.9) распоређене у течности, дисперзија се назива суспензија (3.13). Ако се дисперзија састоји од две или више течних фаза које се не мешају, назива се „емулзија”. Суспоемулзија се састоји од чврсте и течне фазе распоређене у континуираној течној фази.

• 3.2. нанообјекат nano-object
  енглески
  

  discrete piece of material with one, two or three external dimensions in the nanoscale (3.1) Note 1 to entry: The second and third external dimensions are orthogonal to the first dimension and to each other.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  посебан комад материјала са једном, две или три спољашње димензије на наноскали (3.1)

  НАПОМЕНА 1 уз термин:  Друга и трећа спољашња димензија су ортогоналне са првом димензијом и једна са другом.

• 3.3. наночестица nanoparticle
  енглески
  

  nano-object (3.2) with all external dimensions in the nanoscale (3.1) where the lengths of the longest and the shortest axes of the nano-object do not differ significantly Note 1 to entry: If the dimensions differ significantly (typically by more than three times), terms such as nanofibre (3.6) or nanoplate (3.4) may be preferred to the term “nanoparticle”.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  нанообјекат (3.2) са свим спољашњим димензијама на наноскали (3.1) где се дужине најдуже и најкраће осе нанообјекта не разликују значајно

  Напомена 1 уз термин: Ако се димензије значајно разликују (обично више од три пута), треба користити термине као што су нановлакнo (3.5) или наноплоча(4.6) пре него термин „наночестицa”.

• 3.4. наноплоча nanoplate
  енглески
  

  nano-object (3.2) with one external dimension in the nanoscale (3.1) and the other two external dimensions significantly larger Note 1 to entry: The larger external dimensions are not necessarily in the nanoscale. Note 2 to entry: See 3.3, Note 1 to entry.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  нанообјекат (3.2) са једном спољашњом димензијом на наноскали (3.1) и друге две спољашње димензије значајно веће.

  Напомена 1 уз термин:   Веће спољашње димензије нису обавезно на наноскали.

  Напомена 2 уз термин:   Видети Напомену 1 уз термин 3.3.

• 3.5. наноштап nanorod
  енглески
  

  solid nanofibre (3.6)

  српски
  Нема информација

  српски
  

  пуно нановлакно (3.6)

• 3.6. нановлакнo nanofibre
  енглески
  

  nano-object (3.2) with two external dimensions in the nanoscale (3.1) and the third dimension significantly larger Note 1 to entry: The largest external dimension is not necessarily in the nanoscale. Note 2 to entry: The terms “nanofibril” and “nanofilament” can also be used. Note 3 to entry: See 3.3, Note 1 to entry.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  нанообјекат (3.2) са две спољашње димензије на наноскали (3.1) и трећом димензијом значајно већом.

  Напомена 1 уз термин:   Највећа спољашња димензија није нужно на наноскали.

  Напомена 2 уз  термин:   Термини „нановлакно” и „нанофиламент” се могу такође користити.

  Напомена 3 уз  термин:   Видети напомену 1 уз термин 3.3.

• 3.7. нанотуба nanotube
  енглески
  

  hollow nanofibre (3.6).

  српски
  Нема информација

  српски
  

  шупље нановлакно (3.6)

• 3.8. квантна тачка quantum dot
  енглески
  

  nanoparticle (3.3) or region which exhibits quantum confinement in all three spatial directions

  српски
  Нема информација

  српски
  

  наночестица (3.3) или регион који показује квантне ограничености у сва три просторна правца

• 3.9. честица particle
  енглески
  

  minute piece of matter with defined physical boundaries Note 1 to entry: A physical boundary can also be described as an interface. Note 2 to entry: A particle can move as a unit. Note 3 to entry: This general particle definition applies to nano-objects (3.2).

  српски
  Нема информација

  српски
  

  ситан комад материјала са дефинисаним физичким границама

  Напомена 1 уз термин:   Физичка граница може се такође описати и као интерфејс.

  Напомена 2 уз термин:   Честица може да се креће као ентитет.

  Напомена 3 уз термин:   Ова општа дефиниција честица важи за нанообјекте (3.2).

• 4.1.1. величина честице particle size
  енглески
  

  linear dimension of a particle (3.9) determined by a specified measurement method and under specified measurement conditions Note 1 to entry: Different methods of analysis are based on the measurement of different physical properties. Independent of the particle property actually measured, the particle size can be reported as a linear dimension, e.g. as the equivalent spherical diameter.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  линерана димензија честице (3.9), одређена утврђеном методом мерења, под утврђеним условима мерења

  Напомена 1 уз термин:   Различите методе анализе се заснивају на мерењима различитих физичких својстава. Независно од својства честице која се мери, њена величина се може изразити као линерана димензија, на пример као еквивалентни сферни пречник.

• 4.1.2. расподела величинe честица particle size distribution
  енглески
  

  distribution of the quantity of particles (3.9) as a function of particle size (4.1.1) Note 1 to entry: Particle size distribution may be expressed as cumulative distribution or a distribution density (distribution of the fraction of material in a size class, divided by the width of that class). Note 2 to entry: The quantity can be, for example, number, mass or volume based.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  расподела количине честица (3.9) po у функцији величине честица (4.1.1)

  Напомена 1 уз термин:   Расподела величине честица може да се изрази као кумулативна расподела или расподела густине (расподела фракција материјала по класи величине, подељена са ширином те класе).

• 4.1.3. облик честице particle shape
  енглески
  

  external geometric form of a particle (3.9).

  српски
  Нема информација

  српски
  

  спољашњи геометријски облик честице (3.9)

• 4.1.4. однос димензија aspect ratio
  енглески
  

  ratio of length of a particle (3.9) to its width

  српски
  Нема информација

  српски
  

  oднос дужине и ширине честице (3.9)

• 4.1.5. еквивалетни пречник equivalent diameter
  енглески
  

  diameter of a sphere that produces a response by a given particle-size measurement method that is equivalent to the response produced by the particle (3.9) being measured Note 1 to entry: Physical properties are, for example, the same settling velocity or electrolyte solution displacing volume or projection area under a microscope. The physical property to which the equivalent diameter refers should be indicated using a suitable subscript (see ISO 9276-1:1998), e.g. subscript “V” for equivalent volume diameter and subscript “S” for equivalent surface area diameter. Note 2 to entry: For discrete-particle-counting, light-scattering instruments, an equivalent optical diameter is used. Note 3 to entry: Other parameters, e.g. the effective density of the particle in a fluid, are used for the calculation of the equivalent diameter such as Stokes diameter or sedimentation equivalent diameter. The parameters used for the calculation should be reported additionally. Note 4 to entry: For inertial instruments, the aerodynamic diameter is used. Aerodynamic diameter is the diameter of a sphere of density 1 000 kg m−3 that has the same settling velocity as the particle in question.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  пречник сфере која за одређену методологију мерења даје исти одзив као и честица (3.9) која се мери 

  Напомена 1 уз термин:   Физичка својства су, на пример, иста брзина таложења или истискивање запремине раствора електролита или пројекције површине под микроскопом. Физичко својство на које се односи еквивалентни пречник обележава се одговарајућим индексом (видети ISО 9276-1:1998) нпр. индекс „V” за еквивалентни пречник по запремини и индекс „S” за еквивалентни пречник po површини.

  Напомена 2 уз термин:   За дискретно бројање честица расипањем светлости користи се еквивалентни оптички пречник.

  Напомена 3 уз термин:   Други параметри, нпр. ефективна густина честица у течности, користе се за израчунавање еквивалентног Стоксовог (Stokes) или седиментационог пречника. Треба да се наведу параметри коришћени за рачунање еквивалентног пречника. 

  Напомена 4 уз термин:   За инерционе инструменте се користи аеродинамички пречник. Аеродинамички пречник је пречник сфере густине од 1 000 kg m-3 која се таложи брзином једнаком брзини таложења честица неправилног облика.

• 4.2.1. радијус обртања radius of gyration
  енглески
  

  measure of the distribution of mass about a chosen axis, given as the square root of the moment of inertia about that axis divided by the mass Note 1 to entry: For nano-object (3.2) characterization, physical methods that measure radius of gyration to determine particle size (4.1.1) include static light scattering, small-angle neutron scattering (4.2.2) and small-angle X-ray scattering (4.2.4).

  српски
  Нема информација

  српски
  

  мера расподеле масе око изабране осе, изражена као квадратни корен момента инерције масе подељен масом

  НАПОМЕНА 1 уз термин:   Код карактеризације нанообјеката (3.2), физичке методе које мере радијус обртања приликом одређивања величине честица (4.1.1) укључују статичко расипање светлости, расипање неутрона под малим углом (4.2.2) и расипање X-зрака под малим углом (4.2.4).

• 4.2.2. расипање неутрона под малим углом small-angle neutron scattering
  енглески
  

  SANS method in which a beam of neutrons is scattered from a sample and the scattered neutron intensity is measured for small angle deflection Note 1 to entry: The scattering angle is usually between 0,5° and 10° in order to study the structure of a material on the length scale of approximately 1 nm to 200 nm. The method provides information on the sizes of the particles (3.9) and, to a limited extent, the shapes of the particles dispersed in a homogeneous medium.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  ЅАNЅ

  метода код које се сноп неутрона расипа у узорку, а интензитет расипања неутрона мери под малим угловима скретања

  Напомена 1 уз термин:   Угао расипања између 0,5° и 10° омогућава испитивање структуре материјала на скали дужине од приближно 1 nm до 200 nm. Метода пружа информације о величини честица (3.9) и донекле о облику честица диспергованих у хомогеном медијуму.

• 4.2.3. неутронска дифракција neutron diffraction
  енглески
  

  application of elastic neutron scattering for the determination of the atomic or magnetic structure of matter Note 1 to entry: The neutrons emerging from the experiment have approximately the same energy as the incident neutrons. A diffraction pattern is formed that provides information on the structure of the material.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  примена еластичног расипања неутрона у одређивању атомске или магнетне структуре материје

  Напомена 1 уз термин:   Неутрони који произлазе из експеримента имају приближно исту енергију као и инцидентни неутрони. Њихова дифракција пружа информације о структури материјала.

• 4.2.4. расипање X-зрака под малим углом small-angle X-ray scattering
  енглески
  

  SAXS method in which the elastically scattered intensity of X-rays is measured for small-angle deflections Note 1 to entry: The angular scattering is usually measured within the range 0,1° to 10°. This provides structural information on macromolecules as well as periodicity on length scales typically larger than 5 nm and less than 200 nm for ordered or partially ordered systems.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  SAXS

  метода у којој се интензитет еластичног расипања X-зрака мери под малим угловима скретања

  Напомена 1 уз термин:   Угаоно расипање се обично мери у опсегу од 0,1° до 10°. Ово обезбеђује структурне информације о макромолекулима, исто колико и о учесталост уређења на дужини скале већој од 5 nm и мањој од 200 nm код уређених или делимично уређених система.

• 4.2.5. расипање светлости light scattering
  енглески
  

  change in propagation of light at the interface of two media having different optical properties

  српски
  Нема информација

  српски
  

  промене у простирању светлости на граници два медијума са различитим оптичким својствима

• 4.2.6. хидродинамички пречник hydrodynamic diameter
  енглески
  

  equivalent diameter (4.1.5) of a particle (3.9) in a liquid having the same diffusion coefficient as a spherical particle with no boundary layer in that liquid Note 1 to entry: In practice, nanoparticles (3.3) in solution can be non-spherical, dynamic and solvated. Note 2 to entry: A particle in a liquid will have a boundary layer. This is a thin layer of fluid or adsorbates close to the solid surface, within which shear stresses significantly influence the fluid velocity distribution. The fluid velocity varies from zero at the solid surface to the velocity of free stream flow at a certain distance away from the solid surface.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  еквивалентни пречник (4.1.5) честице (3.9) у течности која има исти дифузиони коефицијент као сферна честица без граничног слоја у тој течности

  Напомена 1 уз термин:   У пракси, наночестице (3.3) у раствору могу бити несферичне, динамичке и солватизоване.

  Напомена 2 уз термин:   Честица у течности ће имати гранични слој. Ово је танак слој течности или адсорбата близу површине чврсте масе, унутар кога ће напон смицања значајно утицати на дистрибуцију брзине флуида. Брзина флуида варира од нуле на чврстој површини до брзине струјања слободног тока на одређеној удаљености од чврсте површине.

• 4.2.7. динамичко расипање светлости dynamic light scattering
  енглески
  

  DLS photon correlation spectroscopy PCS DEPRECATED: quasi-elastic light scattering DEPRECATED: QELS method in which particles (3.9) in a liquid suspension (3.13) are illuminated by a laser and the time dependant change in intensity of the scattered light due to Brownian motion is used to determine particle size (4.1.1) Note 1 to entry: Analysis of the time-dependent intensity of the scattered light can yield the translational diffusion coefficient and hence the particle size as the hydrodynamic diameter (4.2.6) using the Stokes–Einstein relationship. Note 2 to entry: The analysis is applicable to nanoparticles (3.3) as the size of particles detected is typically in the range 1 nm to 6 000 nm. The upper limit is due to limited Brownian motion and sedimentation. Note 3 to entry: DLS is typically used in dilute suspensions where the particles do not interact amongst themselves.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  DLS

  фотонска корелациона спектроскопија

  PCS

  ЗАСТАРЕЛО: квазиеластично расипање светлости

  ЗАСТАРЕЛО: QELS

  метода у којој су честице (3.9) које подлежу Браунијановом (Brownian) кретању у течним суспензијама (3.13) изложене ласерској светлости, те се мерењем промене интензитета расуте светлости одређује величина честица (4.1.1)

  Напомена 1 уз термин:   Анализа промене интензитета расуте светлости у функцији времена и коришћење Стокс-Ајнштајнове (Stokes–Einstein) једначине, одређују транслаторно-дифузиони коефицијент и хидродинами­чки пречник (4.2.6) честице.

  Напомена 2 уз термин:   Анализа се примењује на наночестице (3.3) чије се величине обично крећу у опсегу од 1 nm до 6 000 nm. Горња граница је уведена услед ограниченог Браунијановог кретања и седиментације.

  Напомена 3 уз термин:   DLS се обично користи у разблаженим суспензијама где међу честицама не долази до интеракције.

• 4.2.8. анализа праћења наночестица nanoparticle tracking analysis
  енглески
  

  NTA particle tracking analysis PTA method in which particles (3.9) undergoing Brownian and/or gravitational motion in a suspension (3.13) are illuminated by a laser and the change in position of individual particles is used to determine particle size (4.1.1) Note 1 to entry: Analysis of the time-dependent particle position yields the translational diffusion coefficient and hence the particle size as the hydrodynamic diameter (4.2.6) using the Stokes-Einstein relationship. Note 2 to entry: The analysis is applicable to nanoparticles (3.3) as the size of particles detected is typically in the range 10 nm to 2 000 nm. The lower limit requires particles with high refractive index and the upper limit is due to limited Brownian motion and sedimentation. Note 3 to entry: NTA is often used to describe PTA. NTA is a subset of PTA since PTA covers larger range of particle sizes than nanoscale (3.1).

  српски
  Нема информација

  српски
  

  NTA

  анализа праћења честица

  PTA

  метода у којој су честице (3.9) које подлежу Браунијановом и/или гравитационом кретању у суспензијама (3.13) изложене ласерској светлости, те се праћењем промене положаја индивидуалне честице одређује величина честица (4.1.1)

  Напомена 1 уз термин:   Анализа промене положаја индивидуалне честице у функцији времена коришћењем расипања светлости и Стокс-Ајнштајнове једначине одређује транслаторно-дифузиони коефицијент и хидроди­намички пречник (4.2.6) честице.

  Напомена 2 уз термин:   Анализа се примењује на наночестице (3.3) чије се димензије обично крећу у опсегу од 10 nm до 2 000 nm. Доња граница је уведена због честица са високим индексом преламања, а горња услед ограниченог Браунијановог кретања и седиментације.

  Напомена 3 уз термин:   NTA се често користи да опише PTA. NTA је подскуп PTA пошто PTA обухвата већи опсег величина честица од наноскале (3.1).

• 4.2.9. статичко вишеструко расипање светлости static multiple light scattering
  енглески
  

  SMLS technique in which transmitted or backscattered light intensity is measured after multiple successive scattering events of incident light in a random scattering medium.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  SMLS

  техника у којој се интензитет пропуштене или повратно расејане светлости мери након вишеструких узастопних расејања упадне светлости у насумичном медијуму за расејавање.

• 4.3.1. кондензaциони бројач честица condensation particle counter
  енглески
  

  CPC instrument that measures the particle (3.9) number concentration of an aerosol (3.12) using a condensation effect to increase the size of the aerosolized particles Note 1 to entry: The sizes of particles detected are usually smaller than several hundred nanometres and larger than a few nanometres. Note 2 to entry: A CPC is one possible detector suitable for use with a differential electrical mobility classifier (DEMC) (4.3.2). Note 3 to entry: In some cases, a condensation particle counter may be called a “condensation nucleus counter (CNC)”.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  СРС

  инструмент који мери концентрацију/број честица (3.9) у аеросолу (3.12)користећи ефекат кондензације за повећање величине честица у аеросолу

  Напомена 1 уз термин:   Величина детектованих честица је обично мања од неколико стотина нанометара и већа од неколико нанометара.

  Напомена 2 уз термин:   CPC се може користити у спрези са диференцијалним класификатором електричне покретљивости (DEMC) (4.3.2).

  Напомена 3 уз термин:   У неким случајевима се кондензациони бројач честица може назвати и „кондензационим бројачем нуклеуса (CNC)”.

• 4.3.2. диференцијални класификатор електричне покретљивости differential electrical mobility classifier
  енглески
  

  DEMC classifier able to select aerosol (3.12) particles (3.9) according to their electrical mobility and pass them to its exit Note 1 to entry: A DEMC classifies aerosol particles by balancing the electrical force on each particle with its aerodynamic drag force in an electrical field. Classified particles are in a narrow range of electrical mobility determined by the operating conditions and physical dimensions of the DEMC, while they can have different sizes due to difference in the number of charges that they have.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  DEMC

  класификатор који одваја честице (3.9) аеросола (3.12) према њиховој електричној покретљивости и пропушта их да изађу

  Напомена 1 уз термин:   DEMC класификује честице аеросола балансирањем дејства електричне силе која делује на честицу и аеродинамичке силе привлачења честица у електричном пољу. Класификоване честице имају сличну електричну покретљивост при задатим условима мерења и димензијама DEMC-а, али могу да имају различите величине услед разлике у њиховом наелектрисању.

• 4.3.3. диференцијални анализатор покретљивости differential mobility analysing system
  енглески
  

  DMAS system to measure the size distribution of submicrometre aerosol (3.12) particles (3.9) consisting of a differential electrical mobility classifier (DEMC) (4.3.2), flow meters, a particle detector, interconnecting plumbing, a computer and suitable software.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  DMAS

  систем за мерење расподеле величина субмикрометарских честица (3.9) аеросола (3.12) који се састоји од диференцијалног класификатора електричне покретљивости (DEMC) (4.3.2), мерача протока, детектора честица, проточног система, рачунара и одговарајућег софтвера.

• 4.3.4. Фарадејев електрометар аеросола Faraday-cup aerosol electrometer
  енглески
  

  FCAE system designed for the measurement of electrical charges carried by aerosol (3.12) particles (3.9) Note 1 to entry: A FCAE consists of an electrically conducting and electrically grounded cup as a guard to cover the sensing element that includes aerosol filtering media to capture charged aerosol particles, an electrical connection between the sensing element and an electrometer circuit, and a flow meter. [SOURCE: ISO 15900:2020, 3.15, “system” has replaced “electrometer” and “aerosol particles” has replaced “an aerosol” in the definition.]

  српски
  Нема информација

  српски
  

  FCAE

  систем пројектован за мерење наелектрисања које носе честице (3.9) аеросола (3.12)

  Напомена 1 уз термин:             FCAE се састоји од Фарадејевог кавеза који штити мерни елемент – филтер који задржава налектрисане честице аеросола, конектора који повезује филтер са електричним колом и од мерача протока.

• 4.4.1. раздвајање у проточном пољу field-flow fractionation
  енглески
  

  FFF separation technique whereby a field is applied to a suspension (3.13) passing along a narrow channel in order to cause separation of the particles (3.9) present in the liquid, dependent on their differing mobility under the force exerted by the field Note 1 to entry: The field can be, for example, gravitational, centrifugal, a liquid flow, electrical or magnetic. Note 2 to entry: Using a suitable detector after or during separation allows determination of the size and size distribution of nano-objects (3.2).

  српски
  Нема информација

  српски
  

  FFF

  техника одвајања у којој примена поља на суспензију (3.13) која тече уским каналима изазива одвајање честица (3.9) присутних у течној фази, у зависности од њихове покретљивости под дејством примењеног поља

  Напомена 1 уз термин:   Поље може да буде, на пример, гравитационо, центрифугално, проточно, електрично или магнетно.

  Напомена 2 уз термин:   Коришћењем одговарајућег детектора након или током одвајања омогућава се одређивање величине и расподеле величине нанообјеката (3.2).

• 4.4.2. асиметрично-проточно раздвајање у проточном пољу asymmetrical-flow field-flow fractionation
  енглески
  

  AF4 separation technique that uses a cross flow field applied perpendicular to the channel flow to achieve separation based on analyte diffusion coefficient or size Note 1 to entry: Cross flow occurs by means of a semipermeable (accumulation) wall in the channel, while cross flow is zero at an opposing nonpermeable (depletion) wall. Note 2 to entry: By comparison, in symmetrical flow, the cross flow enters through a permeable wall (frit) and exits through an opposing semipermeable wall and is generated separately from the channel flow. Note 3 to entry: Nano-objects (3.2) generally fractionate by the “normal” mode, where diffusion dominates and the smallest species elute first. In the micrometre size range, the “steric-hyperlayer” mode of fractionation is generally dominant, with the largest species eluting first. The transition from normal to steric-hyperlayer mode can be affected by material properties or measurement parameters, and therefore is not definitively identified; however, the transition can be defined explicitly for a given experimental set of conditions; typically, the transition occurs over a particle size (4.1.1) range from about 0,5 µm to 2 µm. Note 4 to entry: Including both normal and steric-hyperlayer modes, the technique has the capacity to separate particles (3.9) ranging in size from approximately 1 nm to about 50 µm.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  AF4

  техника одвајања која користи поље унакрсног тока примењено вертикално на ток канала да би се постигло одвајање на основу коефицијента дифузије или величине аналита

  Напомена 1 уз термин:   Попречни ток се јавља услед полупропусног (акумулационог) зида у каналу, док је попречни ток нула на супротном непропустљивом (деплеционом) зиду.

  Напомена 2 уз термин:   Ради поређења, у симетричном току, попречни ток улази кроз пропусни зид (фрит) и излази кроз супротни полупропусни зид и ствара се одвојено од каналапротока.

  Напомена 3 уз термин:   Нанообјекти (3.2) генерално се раздвајају по „нормалном” режиму, где доминира дифузија и први елуирају објекти најмањих димензија. У микрометарском распону величине, генерално доминира „стерички хиперслој” принцип раздвајања тако да највеће честице прве елуирају. На прелазак из нормалног у „стерички хиперслој“ режим могу утицати својства материјала или параметри мерења, и стога није дефинитивно идентификован; међутим, прелаз се може експлицитно дефинисати за дати скуп експерименталних услова; типично, прелаз се дешава у опсегу величина честица (4.1.1) од око 0,5 µm до 2 µm.

  Напомена 4 уз термин:   Укључујући и нормалне и „стерички хиперслој” режиме, техника има капацитет да одвоји честице (3.9) величине од приближно 1 nm до око 50 µm.

• 4.4.3. центрифугално раздвајање у проточном пољу centrifugal field-flow fractionation
  енглески
  

  CF3 separation technique that uses a centrifugal field applied perpendicular to a circular channel that spins around its axis to achieve size separation of particles (3.9) from roughly 10 nm to roughly 50 µm Note 1 to entry: Separation is governed by a combination of size and effective particle density. Note 2 to entry: Applicable size range is dependent on and limited by the effective particle density.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  CF3

  техника одвајања која користи центрифугално поље примењено управно на кружни канал који се окреће око своје осе да би се постигло раздвајање величине честица (3.9) од отприлике 10 nm до отприлике 50 µm

  Напомена 1 уз термин:   Одвајање је регулисано комбинацијом величине честица и ефективне густине честица.

  Напомена 2 уз термин:   Применљиви опсег величина зависи од ефективне густине честица и ограничен је њоме.

• 4.4.4. аналитичко центрифугирање analytical centrifugation
  енглески
  

  centrifugal liquid sedimentation CLS method in which the size or effective density of particles (3.9) in a suspension (3.13) is measured based on their sedimentation rates in a centrifugal field Note 1 to entry: This includes both line-start (where the sample is introduced at a defined position) and homogeneous start (where the sample is introduced with an initial equilibrium distribution) instruments. Note 2 to entry: This includes both disc-type and cuvette-type instruments.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  центрифугална седиментација течности

  CLS

  метода у којој се величина или ефективна густина честица (3.9) у суспензији (3.13) мери на основу њихових брзина седиментације у центрифугалном пољу

  Напомена 1 уз термин: Ово укључује инструменте са линијским стартом (када се поставља на дефинисану позицију) и хомогеним стартом (када се узорак уводи са почетном равномерном дистрибуцијом).

  Напомена 2 уз термин: Ово укључује оба типа инструмената: са диском и са киветом.

• 4.4.5. линијски стартована, постепена, центрифугална течна седиментација типа диска line-start incremental disc-type centrifugal liquid sedimentation
  енглески
  

  line-start incremental disc-type CLS differential centrifugal sedimentation DCS analytical centrifugation (4.4.4) in which the sample is introduced at a defined position in a rotating disc partially filled with a fluid Note 1 to entry: Normally the fluid has a density gradient to ensure uniform sedimentation Note 2 to entry: Normally there is one detector at a pre-determined position and the times taken for the particles (3.9) to reach this detector are recorded. Note 3 to entry: Depending on the effective density of the particles, the technique can measure particle size (4.1.1) and particle size distribution (4.1.2) between 2 nm and 10 µm, and can resolve particles differing in size by less than 2 %.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  линијски стартован, постепенCLS типа диска (line-start incremental disc-type CLS)

  диференцијална центрифугална седиментација (differential centrifugal sedimentation; DCS)

  DCS

  аналитичко центрифугирање (4.4.4) у коме се узорак поставља на дефинисану позицију у ротирајући диск делимично испуњен флуидом

  Напомена 1 уз термин:   Обично течност има градијент густине да би се обезбедила уједначена седиментација.

  Напомена 2 уз термин:   Обично постоји један детектор на унапред одређеној позицији и бележи се време потребно да честице (3.9) стигну до овог детектора.

  Напомена 3 уз термин:   У зависности од густине честица, овом методом се може мерити величина честица (4.1.1) и расподела величине честица (4.1.2) у опсегу између 2 nm и 10 mm, са прецизношћу диференцијације величина честица за мање од 2 %.

• 4.4.5. скенирајућа електронска микроскопија scanning electron microscopy
  енглески
  

  SEM method that examines and analyses the physical information (such as secondary electron, backscattered electron, absorbed electron and X-ray radiation) obtained by generating electron beams and scanning the surface of the sample in order to determine the structure, composition and topography of the sample.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  SEM

  метода којом се испитују и анализирају физичке информације (као што су секундарни електрони, повратно-расејани електрони, апсорбовани електрони и Х-зрачење), добијене помоћу створеног снопа електрона који скенира површину узорка да би му се одредили структура, хемијски састав и топографија

• 4.4.6. хроматографско издвајање према величини size-exclusion chromatography
  енглески
  

  SEC liquid chromatographic technique in which the separation is based on the hydrodynamic volume of molecules eluting in a column packed with porous non-adsorbing material having pore dimensions that are similar in size to the molecules being separated Note 1 to entry: SEC can be coupled with a detector, e.g. dynamic light scattering (DLS) (4.2.7), for determination of the size and size distribution of the eluting species.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  SEC

  техника течне хроматографије у којој је раздвајање по величини базирано на хидродинамичкој запремини молекула, елуирањем кроз колону испуњену порозним материјалом ниске адсорпције, са порама величине сличне величини молекула који се раздвајају

  Напомена 1 уз термин:   SEC може бити повезан са детектором, нпр. динамичко расипање светлости (DLS) (4.2.7) ради одређивања величине и расподеле величине елуираних молекула.

• 4.4.7. испитивање отпорности импулсним сигналом resistive pulse sensing
  енглески
  

  RPS electrical sensing zone method Coulter counter DEPRECATED: electrical zone sensing method for counting and size measurement of particles (3.9) in electrolytes by measuring a drop in electrical current or voltage as a particle passes through an aperture between two chambers Note 1 to entry: The drop in current or voltage is proportional to the particle volume (Coulter principle).

  Note 2 to entry: The particles are driven through the aperture by pressure or an electric field. Note 3 to entry: The aperture can be nanoscale (3.1) in size allowing the size measurement of individual nanoobjects (3.2).

  српски
  Нема информација

  српски
  

  RPS

  метода очитавања електричне зоне (electrical sensing zone method)

  Колтеров бројач (Coulter counter)

  ЗАСТАРЕЛО: очитавање електричне зоне

  метода бројања и раздвајања по величини честица (3.9) у електролитима, мерењем пада електричне струје услед проласка честица кроз отвор између двеју комора

  Напомена 1 уз термин:  Пад струје је пропорционалан запремини честица (Колтеров принцип).

  Напомена 2 уз термин:   Кретање честица кроз отвор је омогућено притиском или електричним пољем.

  Напомена 3 уз термин:   Отвор може бити на наноскали (3.1) у оној величини која омогућава издвајање појединачних нанообјеката (3.2).

• 4.4.8. масена спектрометрија појединачних честица са индуктивно спрегнутом плазмом single-particle inductively coupled plasma mass spectrometry
  енглески
  

  sp-ICP-MS method using inductively coupled plasma mass spectrometry (5.23) whereby a dilute suspension (3.13) of nano-objects (3.2) is analysed and the ICP-MS signals collected at high time resolution, allowing particleby-particle detection at specific mass peaks and number concentration, size and size distribution to be determined.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  sp-ICP-MS

  метода која користи масену спектрометрију са индуктивно спрегнутом плазмом (5.23) при чему се анализира разблажена суспензија (3.13) нанообјеката (3.2) и ICP-MS сигнали се прикупљају у високој временској резолуцији омогућавајући детекцију честицу по честицу на специфичним пиковима масе и одређивању концентрације броја, величине и расподеле величине

• 4.5.1. микроскопија скенирајућом сондом scanning probe microscopy
  енглески
  

  SPM method of imaging surfaces by mechanically scanning a probe over the surface under study, in which the concomitant response of a detector is measured Note 1 to entry: This generic term encompasses many methods including atomic-force microscopy (AFM) (4.5.2), scanning near-field optical microscopy (SNOM) (4.5.4), scanning ion conductance microscopy (SICM) and scanning tunnelling microscopy (STM) (4.5.3). Note 2 to entry: The resolution varies from that of STM, where individual atoms can be resolved, to scanning thermal microscopy (SThM), in which the resolution is generally limited to around 1 μm.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  SPM

  инструмент који визуализује површину која се испитује механичким превлачењем сонде преко ње, уз истовремено очитавање сигнала

  Напомена 1 уз термин:   Генерички термин обухвата и методе као што су микроскопија атомских сила (АFМ) (4.5.2), скенирајућа оптичка микроскопија блиског поља (SNOМ) (4.5.4), скенирајућа микроскопија проводним јонима (SICM) и скенирајућа тунелска микроскопија (SТМ) (4.5.3).

  Напомена 2 уз термин:   Резолуција микроскопа варира од величине атома у STM-у до око 1 mm у скенирајућој термалној микросопији (SThM).

• 4.5.10. конфокална оптичка микроскопија confocal optical microscopy
  енглески
  

  method for microscopy in which, ideally, a point in the object plane is illuminated by a diffraction-limited spot of light, and light emanating from this point is focused upon and detected from an area smaller than the central area of the diffraction disc situated in the corresponding position in a subsequent field plane Note 1 to entry: An image of an extended area is formed either by scanning the object, or by scanning the illuminated and detected spots simultaneously. Note 2 to entry: The confocal principle leads to improved contrast and axial resolution by suppression of light from out-of-focus planes.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  метода у којој се, у идеалним условима, отвор у равни објекта осветљава дифракционо ограниченим снопом светла, а светло емитовано са ове тачке се фокусира и детектује са површине мање од централне површине дифракционог диска смештеног у одговарајућу позицију за фокусирање слике

  Напомена 1 уз термин:   Слика проширеног поља се формира или скенирањем узорка, или скенирањем осветљених и детектованих тачака истовремено.

  Напомена 2 уз термин:   Конфокална техника) омогућава побољшан контраст и аксијалну резолуцију одбацивањем светла које је изван фокусних равни.

• 4.5.11. површински појачана елипсометријска контрастна микроскопија surface enhanced ellipsometric contrast microscopy
  енглески
  

  SEEC microscopy method of optical imaging using the association of contrast-enhancing surfaces as sample slides and a reflected light optical microscope with crossed polarizers Note 1 to entry: The contrast-enhancing slides are designed to become anti-reflecting when used in these conditions, leading to an increase in the axial sensitivity of the optical microscope by a factor of around 100.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  SEEC микроскопија 

  метода оптичке визуелизације која користи комбинацију слојева узорка за појачање контраста и рефлектујућих оптичких микроскопа са поларизаторима светлости

  Напомена 1 уз термин:   Слојеви са појачањем контраста су пројектовани тако да постају антирефлексиони онда када се користе у овим условима, што доводи до појачане аксијалне осетљивости оптичког микроскопа за фактор од око 100.

• 4.5.12. флуоресценција fluorescence
  енглески
  

  phenomenon in which absorption of light of a given wavelength by a substance is followed by the emission of light at a longer wavelength

  српски
  Нема информација

  српски
  

  појава у којој је апсорпција светлости одређене таласне дужине одређеног материјала праћена емисијом светлости веће таласне дужине

• 4.5.13. флуоресцентна микроскопија fluorescence microscopy
  енглески
  

  method of optical microscopy in which fluorescence (4.5.12) emitted by the sample is imaged Note 1 to entry: A light source is required to excite fluorescence from the sample. This is typically at a shorter wavelength than the light used to form the image. Usually filters are used to separate the excitation and emission light. Note 2 to entry: Fluorescence microscopy has many variants, including wide-field (epifluorescence), confocal, total internal reflection fluorescence microscopy (TIRF microscopy) (4.5.14) and super-resolution microscopy (4.5.15) methods. Note 3 to entry: The fluorescence observed can be intrinsic to the sample or imparted by the use of fluorescent dyes.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  оптичка микроскопија у којој се визуелизација врши на основу флуоресценције (4.5.12) коју емитује узорак

  Напомена 1 уз термин:   За побуђивање флуоресценције узорка захтева се извор светлости. Обично је потребна светлост таласне дужине краће од очекиване емитујуће светлости помоћу које се врши визуелизација. Често се користе филтери за одвајање ексцитационе и емисионе светлости.

  Напомена 2 уз термин:   Флуоресцентна микроскопија има много варијанти, укључујући широкоопсежну (епифлуоресценцију), конфокалну, тоталну унутаррефлектујућу флуоресцентну микроскопију (TIRF микроскопију) (4.5.14) и суперрезолуциону микроскопију (4.5.15).

  Напомена 3 уз термин:   Детектована флуоресценција може бити својствo узоркa или додате флуоресцентне боје.

• 4.5.14. тотална унутаррефлектујућа флуоресцентна микроскопија total internal reflection fluorescence microscopy
  енглески
  

  TIRF microscopy method in which fluorescence (4.5.12) is excited in a thin layer by an evanescent wave produced by total internal reflection.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  TIRF микроскопија

  метода у којој се флуоресценција (4.5.12) побуђује у танком слоју помоћу пролазног таласа створеног тоталном унутрашњом рефлексијом

• 4.5.15. суперрезолуциона микроскопија super-resolution microscopy
  енглески
  

  method of microscopy in which a spatial resolution finer than the limit normally imposed by diffraction is achieved Note 1 to entry: The most common super-resolution microscopy approaches include localization microscopy (4.5.16), stimulated emission depletion (STED) microscopy and structured illumination microscopy (SIM). Note 2 to entry: Most super-resolution microscopy techniques rely on fluorescence (4.5.12).

  српски
  Нема информација

  српски
  

  метода микроскопије у којој се постиже просторна резолуција боља од граничне, наметнуте дифракцијом.

  Напомена 1 уз термин:   Највише коришћен приступ у суперрезолуционој микроскопији укључује локализациону микроскопију (4.5.16), микроскопију на бази гашења стимулисане емисије (STED) и микроскопију на бази структурираног осветљавања (SIM).

  Напомена 2 уз термин:   Већина суперрезолуционих микроскопских техника се ослања на флуоресценцију (4.5.12).

• 4.5.16. локализациона микроскопија localization microscopy
  енглески
  

  method of super-resolution microscopy (4.5.15) in which the precise localization of individual (usually fluorescent) molecules is used to reconstruct an image Note 1 to entry: Many different localization microscopy techniques have been developed. They differ mainly in the type of probes that are used. Examples include photoactivation localization microscopy (PALM), which relies on photoactivatable molecules (usually fluorescent proteins) and stochastic optical reconstruction microscopy (STORM), which relies on intermittent fluorescence (4.5.12) (“blinking” or “switching”) of fluorophores. Note 2 to entry: Typically, to achieve precise localization of fluorophore molecules, their images must not overlap. Therefore, to reconstruct a complete image, many molecules must be localized in sequential frames, and the molecules must in some way be “switched off”.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  метода суперрезолуционе микроскопије (4.5.15) у којој се прецизно одређивање места појединачних (обично флуоресцентних) молекула користи за реконструкцију слике

  Напомена 1 уз термин:   Развијено је много различитих локализационих микроскопских техника. Оне се углавном разликују по типу сонде који користе. Примери укључују фотоактивациону локализациону микроскопију (PALM) која се ослања на могућност фотоактивације молекула (обично флуоресцентних протеина) и стохастичну оптичку реконструктивну микроскопију (STORM) која се базира на периодичној флуоресценцији (4.5.12). („трептање” или „прекидање”) флуорофора.

  Напомена 2 уз термин:   Да би се одредио положај флуоресцентних молекула, њихове слике обично не смеју да се поклапају. Према томе, за реконструкцију целе слике треба да буде појединачно локализовано много молекула, па флуоресценција појединих молекула мора да буде повремено „искључена”.

• 4.5.2. микроскопија атомских сила atomic-force microscopy
  енглески
  

  AFM DEPRECATED: scanning force microscopy DEPRECATED: SFM method for imaging surfaces by mechanically scanning their surface contours, in which the deflection of a sharp tip sensing the surface forces, mounted on a compliant cantilever, is monitored Note 1 to entry: AFM can provide a quantitative height image of both insulating and conducting surfaces. Note 2 to entry: Some AFM instruments move the sample in the x-, y- and z-directions while keeping the tip position constant and others move the tip while keeping the sample position constant. Note 3 to entry: AFM can be conducted in vacuum, a liquid, a controlled atmosphere or air. Atomic resolution may be attainable with suitable samples, with sharp tips and by using an appropriate imaging mode. Note 4 to entry: Many types of force can be measured, such as the normal forces or the lateral, friction or shear force. When the latter is measured, the technique is referred to as lateral, frictional or shear force microscopy. This generic term encompasses all of these types of force microscopy. Note 5 to entry: AFMs can be used to measure surface normal forces at individual points in the pixel array used for imaging. Note 6 to entry: For typical AFM tips with radii \< 100 nm, the normal force should be less than about 0,1 μN, depending on the sample material, or irreversible surface deformation and excessive tip wear occurs.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  AFM

  ЗАСТАРЕЛО: скенирајућа микроскопија сила

  ЗАСТАРЕЛО: SFМ

  инструмент за визуализацију површине механичким превлачењем сонде коју носи конзола преко рељефне површине материјала мерењем деформације гредице сонде услед промене интензитета силе интеракције оштрог врха сонде (игле) и површине материјала 

  Напомена 1 уз термин:   AFM омогућава топографију површине како проводних, тако и електрично непроводних материјала.

  Напомена 2 уз термин:   Неки од AFM инструмената имају могућност померања узорка у x, y и z правцу, уз задржавање врха сонде у једном положају, док је код неких омогућено померање сонде, уз задржавање узорка у једном положају.

  Напомена 3 уз термин:   AFM је могуће изводити у вакууму, течности, контролисаној атмосфери или ваздуху. Атомску резолуцију је могуће постићи на одговрајућим узорцима, коришћењем оштрог врха сонде и одговарајућег мода слике.

  Напомена 4 уз термин:   Могуће је мерити много различитих сила, као што су нормалне, бочне, силе трења и смицања, и тада се користе термини микроскопија бочних сила, сила трења или смицања. Генерички термин укључује све поменуте типове.

  Напомена 5 уз термин:   AFM се може користити за мерење сила нормалних на површину појединачних тачака у низу пиксела који генеришу слику.

  Напомена 6 уз термин:   За типичан пречник врха игле \< 100 nm, нормална сила треба да буде мања од 0,1 mN, у зависности од својстава узорка, или долази до трајне деформације врха игле и површине.

• 4.5.3. скенирајућа тунелска микроскопија scanning tunnelling microscopy
  енглески
  

  STM scanning probe microscopy (SPM) (4.5.1) mode for imaging conductive surfaces by mechanically scanning a sharp, voltage-biased, conducting probe tip over their surface, in which the data of the tunnelling current and the tip-surface separation are used in generating the image Note 1 to entry: STM can be conducted in vacuum, a liquid or air. Atomic resolution can be achieved with suitable samples and sharp probes and can, with ideal samples, provide localized bonding information around surface atoms. Note 2 to entry: Images can be formed from the height data at a constant tunnelling current or the tunnelling current at a constant height or other modes at defined relative potentials of the tip and sample. Note 3 to entry: STM can be used to map the densities of states at surfaces or, in ideal cases, around individual atoms. The surface images can differ significantly, depending on the tip bias, even for the same topography.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  STM

  начин микроскопије скенирајућом сондом (SPM) (4.5.1) за визуелизацију електропроводне површине механичким превлачењем оштре сонде под напоном и генерисања струје тунеловања између врха сонде и површине материјала

  Напомена 1 уз термин: STM се може изводити у вакууму, течности или ваздуху. Атомску резолуцију је могуће постићи са погодним узорцима и оштром сондом, и она може, у идеалним условима, обезбедити информације о природи веза атома на површини.

  Напомена 2 уз термин:   Слике се могу формирати из података о висини при константној струји тунеловања или из променљиве струје тунеловања на константној висини, али и другим начинима рада при дефинисаним релативним потенцијалима врха сонде и узорка.

  Напомена 3 уз термин:   STM се може користити за мапирање густине електронских стања на површини или, у идеалним случајевима, око појединачних атома. Слике површине се могу знатно разликовати, чак и за исту топографију, јер зависе од осетљивости врха сонде.

• 4.5.4. скенирајућа оптичка микроскопија блиског поља near-field scanning optical microscopy
  енглески
  

  NSOM scanning near-field optical microscopy SNOM method of imaging surfaces optically in transmission or reflection by mechanically scanning an optically active probe much smaller than the wavelength of light over the surface whilst monitoring the transmitted or reflected light or an associated signal in the near-field regime Note 1 to entry: Topography is important and the probe is scanned at constant height. Usually the probe is oscillated in the shear mode to detect and set the height. Note 2 to entry: Where the extent of the optical probe is defined by an aperture, the aperture size is typically in the range 10 nm to 100 nm, and this largely defines the resolution. This form of instrument is often called an aperture NSOM or aperture SNOM to distinguish it from a scattering NSOM or scattering SNOM (previously called apertureless NSOM or apertureless SNOM) although, generally, the adjective “aperture” is omitted. In the apertureless form, the extent of the optically active probe is defined by an illuminated sharp metal or metalcoated tip with a radius typically in the range 10 nm to 100 nm, and this largely defines the resolution. Note 3 to entry: In addition to the optical image, NSOM can provide a quantitative image of the surface contours similar to that available in atomic-force microscopy (AFM) (4.5.2) and allied scanning-probe techniques.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  NSOM

  SNOM

  инструмент за оптичку визуелизацију површине у трансмисији или рефлексији, помоћу механичког превлачења оптички активне сонде много мањих димензија од таласне дужине светлости преко површине узорка, уз истовремено праћење пропуштене или рефлектоване светлости или нових сигнала у области блиског поља

  Напомена 1 уз термин:   Топографија је важна и скенирајућа сонда се држи на константној висини. Уобичајено је да висина сонде осцилује у режиму смицања да би се детектовала и подесила њена висина.

  Напомена 2 уз термин:   Када је величина оптичке сонде дефинисана отвором, тада је величина отвора типично у опсегу од 10 nm до 100 nm, а то много утиче на резолуцију. Овај тип инструмента се понекад назива NSOM или SNOM са отвором да би се разликовали од NSOM или SNOM који раде на бази расејања (некад су се називали NSOM или SNOM без отвора), чиме се, уопште узевши, избацује термин „отвор”. У облику без отвора, величину оптички активне сонде дефинише осветљени, метални или метализирани врх са полупречником од 10 nm до 100 nm, а ово дефинише осетљивост инструмента.

  Напомена 3 уз термин:   Осим оптичке слике, NSOM може дати и нумеричке податке о облику површине, сличне онима који се добијају микроскопија атомских сила (AFM) (4.5.2) и сличним техникама на бази скенирајуће сонде.

• 4.5.6. трансмисиона електронска микроскопија transmission electron microscopy
  енглески
  

  TEM method that produces magnified images or diffraction patterns of the sample by an electron beam which passes through the sample and interacts with it

  српски
  Нема информација

  српски
  

  TEM

  метода којом се стварају увеличане слике или дифракционе структуре узорка помоћу снопа електрона који пролази кроз узорак и узајамно реагује са њим

• 4.5.7. скенирајућа трансмисиона електронска микроскопија scanning transmission electron microscopy
  енглески
  

  STEM method that produces magnified images or diffraction patterns of the sample by a finely focused electron beam, scanned over the surface and which passes through the sample and interacts with it Note 1 to entry: Typically uses an electron beam with a diameter of less than 1 nm. Note 2 to entry: Provides high-resolution imaging of the inner microstructure and the surface of a thin sample [or small particles (3.9)], as well as the possibility of chemical and structural characterization of micrometre and sub-micrometre domains through evaluation of the X-ray spectra and the electron diffraction pattern. [SOURCE: ISO/TS 10797:2012, 3.10, modified — In the term, “microscopy” has replaced “microscope".

  српски
  Нема информација

  српски
  

  STEM

  метода којом се стварају увећане слике или дифракционе структуре узорка помоћу фино усмереног снопа електрона којим се површина узорка скенира и који пролази кроз узорак и узајамно реагује са њим

  Напомена 1 уз термин:   Обично се користи сноп електрона са пречником мањим од 1 nm.

  Напомена 2 уз термин:   Омогућава стварање слика са великом резолуцијом унутрашње микроструктуре и површине танких узорака [или малих честица (3.9)] и омогућава хемијско и структурно испитивање микрометарских и субмикрометарских домена коришћењем добијених спектара Х-зрака и електронских дифракционих структура.

• 4.5.8. нискоенергетска електронска микроскопија low energy electron microscopy
  енглески
  

  LEEM method that examines surfaces, whereby images and/or diffraction patterns of the surfaces are formed by low energy elastically backscattered electrons generated by a non-scanning electron beam Note 1 to entry: The method is typically used for the imaging and analysis of very flat, clean surfaces. Note 2 to entry: Low energy electrons have energies typically in the range 1 eV to 100 eV.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  LЕЕМ

  метода којом се испитују површине на којима се слике и/или дифракционе структуре узорка формирају коришћењем нискоенергетских електрона, еластично повратно расејаних, добијених од нескенирајућих електронских снопова

  Напомена 1 уз термин:   Ова инструментална техника се користи за визуелизацију и анализу веома равних и чистих површина.

  Напомена 2 уз термин:   Нискоенергетски електрони имају енергију у опсегу од 1 eV до 100 eV.

• 4.5.9. скенирајућа јонска микроскопија scanning ion microscopy
  енглески
  

  method in which an ion beam focused into a sub-nanometre scale spot is scanned over a surface to create an image Note 1 to entry: A variety of different ion sources can be used for imaging, including helium, neon and argon.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  метода у којој се фокусираним јонским снопом, пречника мањег од нанометра, скенира површина узорка како би се добила слика

  Напомена 1 уз термин:   За ову технику могу да се користе различити јонски извори и јони, укључујући хелијум, неон и аргон.

• 4.6.1. површина јединичне масе узорка mass-specific surface area
  енглески
  

  absolute surface area of the sample divided by sample mass Note 1 to entry: The mass-specific surface area has units of m2/kg.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  апсолутна површина узорка, подељена са масом узорка

  Напомена 1 уз термин:   Специфична површина јединичне масе има јединице m2/kg.

• 4.6.2. површина јединичне запремине узорка volume-specific surface area
  енглески
  

  absolute surface area of the sample divided by sample volume Note 1 to entry: The volume-specific surface area has units of m−1.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  апсолутна површина узорка, подељена са запремином узорка

  Напомена 1 уз термин:   Специфична површина по запремини има јединице m-1.

• 4.6.3. Брунауер-Емет-Телер метода Brunauer–Emmett–Teller method
  енглески
  

  BET method method for the determination of the total specific external and internal surface area of disperse powders and/or porous solids by measuring the amount of physically adsorbed gas utilizing the model developed by Brunauer, Emmett and Teller for interpreting gas adsorption isotherms Note 1 to entry: The method originates from Reference [28]. Note 2 to entry: The BET method is applicable only to adsorption isotherms of type II (disperse, nonporous or macroporous solids) and type IV (mesoporous solids, pore diameter between 2 nm and 50 nm). Inaccessible pores are not detected. The BET method cannot reliably be applied to solids that absorb the measuring gas.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  BET метода

  метода за одређивање укупне специфичне спољашње и унутрашње површине диспергованих прахова и/или порозних чврстих материјала, мерењем количине физички адсорбованог гаса помоћу модела за израчунавање који су развили Брунауер, Емет и Телер за интерпретацију адсорпционих изотерми

  Напомена 1 уз термин:   Метода потиче из референце [28].

  Напомена 2 уз термин:   BET метода је применљива само за адсорпционе изотерме типа II (дисперзни, непорозни или макропорозни чврсти материјали) и IV (мезопорозни чврсти материјали, пречника пора између 2 nm и 50 nm). Неприступачне поре је немогуће детектовати. BET метода не може да се поуздано примени када узорак апсорбује мерни гас.

• 5.1. оптичка спектроскопија optical spectroscopy
  енглески
  

  spectroscopy in which the radiation consists of electromagnetic radiation in the visible, ultraviolet or infrared wavelengths.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  спектроскопија у којој се зрачење састоји од електромагнетног зрачења у видљивим, инфрацрвеним или ултраљубичастим таласним дужинама

• 5.10. Раманова спектроскопија Raman spectroscopy
  енглески
  

  spectroscopy in which the Raman effect (5.9) is used to investigate molecular energy levels

  српски
  Нема информација

  српски
  

  спектроскопија у којој је Раманов ефекат (5.9) коришћен за испитивање молекулских енергетских нивоа

• 5.11. површински појачана Раманова спектроскопија surface-enhanced Raman spectroscopy
  енглески
  

  SERS spectroscopy in which an enhanced Raman effect (5.9) is observed for certain molecules or nano-objects (3.2) adsorbed to particular metal surfaces whose roughness is in the nanoscale (3.1) when illuminated with suitable light Note 1 to entry: Typically metals for which varying degrees of enhancement are observed include gold, silver, copper and aluminium. Note 2 to entry: The roughness of a surface is typically in the range of a few tens of nanometres for enhancement to occur.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  SERS

  спектроскопија у којој је појачани Раманов ефекат (5.9) примећен код неких молекула и нанообјеката (3.2), адсорбованих на специјалним металним површинама храпавости на наноскали (3.1), онда када се осветле светлошћу одговарајуће таласне дужине

  Напомена 1 уз термин:   Метали код којих су примећени различити степени појачања су злато, сребро, бакар и алуминијум.

  Напомена 2 уз термин:   Потребна храпавост површине за појаву појачања је обично реда величине од неколико десетина нанометара.

• 5.12. појачана Раманова спектроскопија помоћу оштрог металног врха tip-enhanced Raman spectroscopy
  енглески
  

  TERS spectroscopy in which an enhanced Raman effect (5.9) is observed with a metal tip in close proximity to a sample surface illuminated with suitably polarized light.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  TERS

  спектроскопија у којој је појачани Раманов ефекат (5.9) примећен са оштрим металним врхом у непосредној близини површине узорка која је осветљена одговарајућом поларизованом светлошћу

• 5.13. електронски спектрометар electron spectrometer
  енглески
  

  device, the essential part of which is used for measuring the number of electrons, or an intensity proportional to that number, as a function of the electron kinetic energy Note 1 to entry: The term “electron spectrometer” can be used either as a synonym for “electron energy analyser” or to describe a more complex instrument based on an electron energy analyser and additional electronoptical components. Occasionally, the term is used to describe a complete working system with an energy analyser, possible electron-optical components, an electron detector, excitation sources, vacuum pumps, control electronics and a data-processing system. The meaning will normally be made clear by the context.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  инструмент чији је главни део мерач броја електрона, или интензитета који је пропорционалан том броју, у функцији кинетичке енергије електрона

  Напомена 1 уз термин:   Појам „електронски спектрометар” може да се користи или као синоним за „анализатор енергије електрона” или за описивање комплекснијег инструмента који се заснива на анализатору енергије електрона и додатних електронско-оптичких компонената. Повремено се овај термин користи за описивање комплетног система уређаја са анализатором електрона, могућим електрооптичким компонентама, детектором електрона, извором побуђивања, вакуум-пумпама, контролном електроником и системом за обраду података. Значење ће бити појашњено контекстом.

• 5.14. спектроскопија на бази губитка енергије електрона electron energy loss spectroscopy
  енглески
  

  EELS method in which an electron spectrometer (5.13) measures the energy spectrum of electrons from a nominally monoenergetic source emitted after inelastic interactions with the sample, often exhibiting peaks due to specific inelastic loss processes Note 1 to entry: The spectrum obtained using an incident-electron beam of about the same energy as in Auger electron spectroscopy (AES) (5.16) or X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) (5.19) peak approximates to the energy loss spectrum associated with that peak. Note 2 to entry: The electron energy loss spectrum, measured with an incident-electron beam, is a function of the beam energy, the angle of incidence of the beam, the angle of emission and the electronic properties of the sample.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  EELS

  метода у којој електронски спектрометар (5.13) мери енергетски спектар електрона из номинално моноенергетског извора који су емитовани после нееластичне интеракције са узорком, често са пиковима услед специфичних нееластичних процеса губитака енергије

  Напомена 1 уз термин:   Спектар добијен коришћењем упадног електронског снопа са енергијом прибижно истом као у спектрометрији Ожеових електрона (AES) (5.16) или фотоелектронској спектроскопији Х-зрака (XPS) (5.19) има пикове који се налазе на приближно истим местима као и у случају спектра губитка енергије електрона.

  Напомена 2 уз термин:   Спектар губитка енергије електрона, мерен упадним електронским снопом, зависан је од енергије тог снопа, његовог угла упада, угла под којим се мери емисија и од електронских својстава узорка.

• 5.15. Ожеов електрон Auger electron
  енглески
  

  electron emitted from atoms in the relaxation, by electron emission, of an atom with a vacancy in an inner electron shell Note 1 to entry: The emitted electrons have characteristic energies.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  електрон емитован из атома при релаксацији, емисијом електрона, из атома са празнином у унутрашњој електронској љусци

  Напомена 1 уз термин:   Емитовани електрони имају карактеристичне енергије.

• 5.16. спектрометрија Ожеових електрона Auger electron spectroscopy
  енглески
  

  AES method in which an electron spectrometer (5.13) is used to measure the energy distribution of Auger electrons (5.15) emitted from a surface Note 1 to entry: An electron beam in the energy range 2 keV to 30 keV is often used for excitation of the Auger electrons. Auger electrons can also be excited with X-rays, ions and other sources but the term “Auger electron spectroscopy”, without additional qualifiers, is usually reserved for electron-beam-induced excitation. Where an X-ray source is used, the Auger electron energies are referenced to the Fermi level, but where an electron beam is used, the reference may either be the Fermi level or the vacuum level. Spectra conventionally can be presented in the direct or differential forms.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  AES

  метода у којој се електронски спектрометар (5.13) користи за мерење расподеле енергије Ожеових електрона (5.15) емитованих са површине узорка

  Напомена 1 уз термин:   Сноп електрона од 2 keV дo 30 keV обично се користи за побуђивање емисије Ожеових електрона. Емисија Ожеових електрона може да буде изазвана и Х-зрацима, јонима и другим изворима, али је појам „спектроскопија Ожеових електрона”, без додатних одредница, обично резервисан за побуђивање помоћу снопа електрона. Када се користи извор Х-зрака, тада се енергије Ожеових електрона пореде са Фермијевим нивоима, али када се користи сноп електрона, тада поређење може бити или са Фермијевим или са вакумским нивоима. Уобичајено је да спектри буду презентовани у директном или диференцијалном облику.

• 5.17. фотоелектронска спектроскопија побуђена ултраљубичастим светлом ultraviolet photoelectron spectroscopy
  енглески
  

  UPS method in which an electron spectrometer (5.13) is used to measure the energy distribution of photoelectrons (5.18) emitted from a surface irradiated by ultraviolet photons Note 1 to entry: Ultraviolet sources in common use include various types of discharges that can generate the resonance lines of various gases (e.g. the He I and He II emission lines at energies of 21,2 eV and 40,8 eV, respectively). For variable energies, synchrotron radiation is used.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  UPS

  метода у којој се електронски спектрометар (5.13) користи за мерење расподеле енергија фотоелектрона емитованих са површине узорка осветљене фотонима из ултраљубичастог спектра

  Напомена 1 уз термин:   Извори ултраљубичасте светлости који се најчешће користе обухватају различите врсте уређаја на бази електромагнетног пражњења у гасовима који емитују резонантне линије (на пример He I и He II емисионе линије на енергијама од 21,2 еV и 40,8 еV, тим редом). За неке друге енергије може да се користи синхротронско зрачење.

• 5.18. фотоелектрон photoelectron
  енглески
  

  electron emitted from a surface of a material following the absorption of electromagnetic radiation

  српски
  Нема информација

  српски
  

  електрон емитован са површине материјала након апсорпције електромагнетног зрачења

• 5.19. фотоелектронска спектроскопија побуђена Х-зрацима X-ray photoelectron spectroscopy
  енглески
  

  XPS method in which an electron spectrometer (5.13) is used to measure the energy distribution of photoelectrons (5.18) and Auger electrons (5.15) emitted from a surface irradiated by X-ray photons Note 1 to entry: X-ray sources in common use are unmonochromated Al Kα and Mg Kα X-rays at 1 486,6 eV and 1 253,6 eV, respectively. Modern instruments also use monochromated Al Kα X-rays. Some instruments make use of various X-ray sources with other anodes or of synchrotron radiation.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  XPS

  метода у којој се електронски спектрометар (5.13) користи за мерење расподеле енергије фотоелектрона (5.18) и Ожеових електрона (5.15), емитованих са површине узорка озрачене Х-зрацима

  Напомена 1 уз термин:   Извори Х-зрака који се обично користе су немонохроматски, Al Kα и Mg Kα X-зрачење, енергије 1 486,6 еV и 1 253,6 еV, тим редом. Модерни инструменти користе и монохроматско Al Kα Х-зрачење. Неки инструменти могу да користе различите изворе Х-зрака са различитим анодама или синхротронско зрачење.

• 5.2. луминисценција luminescence
  енглески
  

  emission, by atoms, molecules or ions in a material, of optical radiation which for certain wavelengths or regions of the spectrum is in excess of the radiation due to thermal emission from that material at the same temperature, as a result of these particles (3.9) being excited by energy other than thermal agitation.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  емисија оптичког зрачења која потиче од атома, молекула или јона у материјалу, које се за одређене таласне дужине и спектралне области додатно увећава зрачењем помоћу емисије топлотног зрачења из тог материјала на истој температури тако што се ове честице (3.9)побуђују топлотном енергијом која није резултат њиховог непрекидног, насумичног кретања

• 5.20. апсорпциона спектроскопија Х-зрака X-ray absorption spectroscopy
  енглески
  

  XAS method in which the absorption of X-rays passing through matter is measured as a function of X-ray energy Note 1 to entry: The method is used to determine local geometric and/or electronic structure of matter. Note 2 to entry: X-ray absorption fine structure spectroscopy (XAFS), X-ray absorption near-edge spectroscopy (XANES) and near-edge extended X-ray absorption fine structure spectroscopy (NEXAFS) are all types of X-ray absorption spectroscopy.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  XAS

  метода у којој се мери апсорпција Х-зрака приликом проласка кроз материју у функцији енергије Х-зрака

  Напомена 1 уз термин:   Ова метода се користи за одређивање локалне геометрије и/или електронске структуре материје.

  Напомена 2 уз термин:   Апсорпциона спектроскопија Х-зрака фине структуре (XAFS), апсорпциона спектроскопија граничних Х-зрака (XANES), апсорпциона спектроскопија граничних продужених Х-зрака фине структуре (NEXAFS) јесу подтипови апсорпционе спектроскопије Х-зрака.

• 5.21. флуоресценција Х-зрака X-ray fluorescenc
  енглески
  

  XRF secondary radiation occurring when a high intensity incident X-ray beam impinges upon a material placed in the path of the incident beam Note 1 to entry: The secondary emission has wavelengths and energies characteristic of that material.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  XRF

  метода заснована на мерењу секундарног зрачења које настаје када сноп Х-зрака високог интензитета удари у материјал смештен на пут упадног снопа

  Напомена 1 уз термин:   Емитовано секундарно зрачење има таласне дужине и енергије карактеристичне за дати материјал.

• 5.22. спектроскопија Х-зрака са расподелом енергијe energy-dispersive X-ray spectroscopy
  енглески
  

  EDX X-ray spectroscopy in which the energy of individual photons is measured by a parallel detector and used to build up a histogram representing the distribution of X-rays with energy.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  EDX

  енергодисперзивна спектроскопија Х-зрацима

  спектроскопија Х-зрака у којој се мери енергија емитованих индивидуалних фотона помоћу паралелног детектора, уз стварање хистограма који представља расподелу Х-зрака у зависности од њихове енергије

• 5.23. масена спектрометрија са индуктивно спрегнутом плазмом inductively coupled plasma mass spectrometry
  енглески
  

  ICP-MS analytical technique comprising a sample introduction system, an inductively coupled plasma source for ionization of the analytes, a plasma/vacuum interface and a mass spectrometer comprising an ion focusing, separation and detection system

  српски
  Нема информација

  српски
  

  ICP-MS

  аналитичка техника која се састоји од система за увођење узорка/аналита, индуктивно спрегнутог извора плазме за јонизацију аналита, плазма/вакум интерфејса и масеног спектрометра који садржи систем за фокусирање, одвајање и детекцију јона

• 5.24. масена спектрометрија секундарних јона secondary-ion mass spectrometry
  енглески
  

  SIMS method in which a mass spectrometer is used to measure the mass-to-charge quotient and abundance of secondary ions emitted from a sample as a result of bombardment by energetic ions Note 1 to entry: SIMS is, by convention, generally classified as dynamic, in which the material surface layers are continually removed as they are being measured, and static, in which the ion areic dose during measurement is restricted to less than 1016 ions/m2 in order to retain the surface in an essentially undamaged state.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  SIMS

  метода у којој се масена спектрометрија користи за мерење броја секундарних јона у функцији њиховог односа маса-наелектрисање, при чему се секундарни јони емитују из узорка као резултат бомбардовања јонима високе енергије

  Напомена 1 уз термин:   SIMS је као метода, на основу договора, класификована као динамична, у случају да се површински слој узорка континуално помера како траје мерење, и статична, када се јонска површинска доза током мерења ограничава на мање од 1016 јона/m2 да би се очувала површина узорка у неоштећеном стању.

• 5.25. тoмографија атома atom-probe tomography
  енглески
  

  method for identifying single atoms or molecules removed from a nanofibre (3.6) by pulsed field evaporation and detection by time of flight mass spectrometry Note 1 to entry: A position-sensitive detector is used to deduce the lateral location of atoms.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  метода за идентификацију појединачних атома или молекула скинутих са оштрог врха узорка у облику нановлакна (3.6), отпаравањем у пулсном режиму и детекцијом у масеном спектрометру са временом прeлета

  Напомена 1 уз термин:   Детектор осетљив на позицију користи се за користи се за одређивање бочнoг положаја атома.

• 5.26. анализа ослобођеног гаса evolved-gas analysis
  енглески
  

  EGA method in which the nature and/or amount of volatile product(s) released by a substance is (are) measured as a function of temperature while the substance is subjected to a controlled temperature programme.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  EGA

  метода у којој се одређује природа и/или количина гасовитих продуката ослобођених из узорка у функцији температуре која је контролисана температурним програмом

• 5.27. нуклеарно-магнетно резонантна спектроскопија nuclear magnetic resonance spectroscopy
  енглески
  

  NMR spectroscopy method in which the resonance magnetic properties of atomic nuclei are used to determine physical and chemical properties of atoms and molecules.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  NMR спектроскопија

  метода у којој се резонантна магнетна својства атомског језгра користе за одређивање физичких и хемијских својстава атома и молекула

• 5.28. електронска парамагнетна резонанца electron paramagnetic resonance
  енглески
  

  EPR electron spin resonance ESR method for studying chemical species that have one or more unpaired electrons through resonant excitation of electron spin Note 1 to entry: Similar to nuclear magnetic resonance but measuring electron spin.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  EPR

  електронска спин резонанца

  ESR

  метода за проучавање хемијских материјала који имају један или више неспарених електрона применом резонантног побуђивања електронских спинова

  Напомена 1 уз термин:   Метода слична нуклеарно-магнетној резонанци, с тим што се мери спин електрона.

• 5.29. интерферометрија дупле поларизације dual polarization interferometry
  енглески
  

  DPI method in which the evanescent wave of a laser beam is used to probe molecular scale layers adsorbed to the surface of a waveguide Note 1 to entry: The polarization can be switched rapidly, allowing real-time measurements of chemical reactions taking place on a chip surface in a flow-through system. Note 2 to entry: It is typically used to measure the conformational change in proteins or other biomolecules as they interact with their environment.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  DPI

  метода у којој пролазни талас ласерског снопа ексцитује слојеве молекуларне скале узорка адсорбоване на површини таласовода

  Напомена 1 уз термин:   Поларизација система може се брзо мењати, што омогућава мерења у реалном времену, праћење хемијских реакција које се одвијају на површини чипа у проточном систему.

  Напомена 2 уз термин:   Ова метода се обично користи за мерење промена састава у протеинима или другим биомолекулима током њихове интеракције са околином.

• 5.3. фотолуминисценција photoluminescence
  енглески
  

  luminescence (5.2) caused by absorption of optical radiation

  српски
  Нема информација

  српски
  

  луминисценција (5.2) узрокована апсорпцијом оптичког зрачења

• 5.4. фотолуминисцентна спектроскопија photoluminescence spectroscopy
  енглески
  

  PL spectroscopy spectroscopy of adsorbed and re-radiated photons

  српски
  Нема информација

  српски
  

  PL спектроскопија

  спектроскопија апсорбованих и реемитованих фотона

• 5.5. флуоресцентна спектроскопија fluorescence spectroscopy
  енглески
  

  spectroscopy whereby a light source is used to excite the electrons in a substance, which causes them to emit light, typically, but not necessarily, visible light

  српски
  Нема информација

  српски
  

  спектроскопија у којој се извор светлости користи да побуђује електроне у супстанци, што доводи до емисије светлости, обично, али не нужно, видљиве светлости

• 5.6. UV-VIS спектроскопија ultraviolet-visible spectroscopy
  енглески
  

  UV-Vis spectroscopy spectroscopy of radiation that consists of electromagnetic radiation with wavelengths in the ultraviolet and/or visible regions

  српски
  Нема информација

  српски
  

  спектроскопија зрачења које се састоји од електромагнетног зрачења таласних дужина у ултраљубичастом и/или видљивом делу спектра

• 5.7. флуоресцентна корелативна спектроскопија fluorescence correlation spectroscopy
  енглески
  

  FCS spectroscopy using a correlation analysis of the fluctuation in the fluorescence (4.5.12) intensity Note 1 to entry: The analysis gives the average number of fluorescent particles (3.9) and average diffusion time, when the particle is passing through the measurement volume. Eventually, both the concentration and size of the particle (molecule) are determined.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  FCS

  спектроскопија која користи корелациону анализу за опис промена у интензитету флуоресценције (4.5.12)

  Напомена 1 уз термин:   Анализа даје средњи броj флуоресцентних честица (3.9) и средње време дифузије, онда када честица пролази кроз мерну запремину. Понекад могу бити одређене и концентрација и величина честица (молекула).

• 5.8. инфрацрвена спектроскопија са Фуријеовом трансформацијом Fourier transform infrared spectroscopy
  енглески
  

  FTIR spectroscopy in which a sample is subjected to excitation of molecular bonds by pulsed, broad-band infra-red radiation, and the Fourier transform mathematical method is used to obtain an absorption spectrum.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  FTIR

  спектроскопија у којој се у узорку побуђују вибрације атома око веза у молекулу помоћу пулсног инфрацрвеног зрачења широког спектралног опсега, а Фуријеова математичка трансформација се користи за обраду резултата и добијање апсорпционог спектра

• 5.9. Раманов ефекат Raman effect
  енглески
  

  emitted radiation, associated with molecules illuminated with monochromatic radiation, characterized by an energy loss or gain arising from rotational or vibrational excitations

  српски
  Нема информација

  српски
  

  емитовано зрачење које потиче од молекула осветљених монохроматским зрачењем, са карактеристичним порастом или смањењем енергије које потиче од ротационог или вибрационог побуђивања

• 6.1.1. микровага са кварцним кристалом quartz crystal microbalance
  енглески
  

  QCM measuring instrument in which the change in the frequency of a quartz crystal resonator is measured to determine a change in mass Note 1 to entry: It can be used under vacuum, in a gas phase or in liquid environments.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  QCM

  мерни инструмент чији се рад заснива на промени фреквенције резонатора кристала кварца да би се одредила промена масе

  Напомена 1 уз термин:   Вага може да се користи у вакууму, у гасовитој или у течној средини.

• 6.1.2. термогравиметрија thermogravimetry
  енглески
  

  TG thermal gravimetric analysis TGA method in which the change in the mass of a sample is measured as a function of temperature while the sample is subjected to a controlled temperature programme.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  TG

  метода у којој се промена масе узорка мери у функцији температуре која је контролисана температурним програмом.

• 6.1.3. мерење резонантне масе resonant mass measurement
  енглески
  

  RMM method in which particles (3.9) in a suspension (3.13) are flowed one by one through a resonating hollow structure, and where the presence of the particle causes a shift in the resonant frequency of the structure which is proportional to the mass of the particle Note 1 to entry: The equivalent spherical diameter of each particle can be determined from its mass and knowing its density. Note 2 to entry: Depending on the density and mass of the particles, theoretically, a particle size (4.1.1) range from approximately 300 nm to 5 μm can be measured.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  RMM

  метода у којој честице (3.9) у суспензији (3.13) пролазе једна по једна кроз резонантну шупљу структуру и где присуство честице изазива померање резонантне фреквенције структуре која је пропорционална маси честице

  Напомена 1 уз термин:   Еквивалентни сферни пречник сваке честице може се одредити из њене масе и познавања њене густине.

  Напомена 2 уз термин:   Теоретски, величина честица (4.1.1) у распону од 300 nm до 5 μm može да се измери у зависности од густине и масе честица.

• 6.2.1. диференцијална скенирајућа калориметрија differential scanning calorimetry
  енглески
  

  DSC method in which the difference in energy inputs into a substance and a reference material is measured as a function of temperature while the substance and reference material are subjected to a controlled temperature programme.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  DSC

  метода у којој се мери разлика између енергије која се преноси у узорак и оне која се преноси у референтни материјал као функција температуре, при чему се температура узорка и референтног материјала подвргава контролисаном температурном програму

• 6.3.1. дифракција Х-зрака X-ray diffraction
  енглески
  

  XRD technique to obtain crystallographic information about a sample by observing the diffraction pattern due to an X-ray beam hitting a sample Note 1 to entry: The method can be used to estimate the size and shape of coherent scattering regions, and phase composition of materials incorporating nano-objects (3.2).

  српски
  Нема информација

  српски
  

  метода за добијање кристалографских информација о узорку преко дифракционог спектра добијеног након удара снопа Х-зрака у узорак

  Напомена 1 уз термин:   Метода може да се користи и за одређивање величине и облика кохерентне запремине расејања и фазног састава материјала који укључују нанообјекте (3.2).

• 6.3.2. дифракција повратно расејаних електрона electron backscatter diffraction
  енглески
  

  EBSD diffraction process that arises between the backscattered electrons and the atomic planes of a highly tilted crystalline specimen when illuminated by a stationary incident electron beam.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  EBSD

  дифракциони процес који настаје сударом повратно расејаних електрона и атомских равни високо нагнутог кристалног узорка када се озрачи стационарним упадним електронским снопом

• 6.3.3. електронска дифракција у изабраној површини selected area electron diffraction
  енглески
  

  SAED transmission high energy electron diffraction THEED technique in which the crystalline structure of a sample area selected by an aperture is examined by the diffraction of transmitted electrons resulting in a diffraction pattern Note 1 to entry: The electrons used typically have energies of 10 keV to 200 keV. Note 2 to entry: The diffraction pattern represents an image of the reciprocal lattice and therefore contains information about crystal structure.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  SAED

  трансмисиона дифракција електрона велике енергије (transmission high energy electron diffraction, THEED)

  THEED

  техника у којој се кристална структура површине узорка изабрана отвором испитује дифракцијом  пропуштених  електрона што резултира појавом дифрактограма

  Напомена 1 уз термин:   Коришћени електрони обично имају енергије од 10 keV до 200 keV.

  Напомена 2 уз термин:   Дифрактограм представља слику реципрочне решетке и стога садржи информације о кристалној структури.

• 6.4.1. електрофореза electrophoresis
  енглески
  

  movement of charged colloidal particles (3.9) or polyelectrolytes, immersed in a liquid, under the influence of an external electric field

  српски
  Нема информација

  српски
  

  кретање наелектрисаних колоидних честица (3.9) или полиелектролита, потопљених у течност, под утицајем спољашњег електричног поља

• 6.4.2. брзина електрофорезе electrophoretic velocity
  енглески
  

  particle (3.9) velocity during electrophoresis (6.4.1) Note 1 to entry: Electrophoretic velocity is expressed in metres per second.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  брзина честица (3.9) током електрофорезе (6.4.1)

  Напомена 1 уз термин:   Брзина електрофорезе се изражава у метрима по секунди.

• 6.4.3. електрофоретска покретљивост electrophoretic mobility
  енглески
  

  electrophoretic velocity (6.4.2) per electric field strength Note 1 to entry: Electrophoretic mobility is positive if the particles (3.9) move toward lower potential (negative electrode) and negative in the opposite case. Note 2 to entry: Electrophoretic mobility is expressed in metres squared per volt second.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  брзина електрофорезе (6.4.2) при јединичној јачини поља

  НAПОМЕНА 1 уз термин:   Електрофоретска покретљивост је позитивна ако се честица (3.9) креће према нижем потенцијалу (негативна електрода), a негативна je у обрнутом смеру.

  НАПОМЕНА 2 уз термин:   Електрофоретска покретљивост се изражава у квадратним метрима по волтсекундама.

• 6.4.4. раван смицања shear plane
  енглески
  

  slipping plane abstract plane in the vicinity of the liquid/solid interface at which liquid starts to slide relative to the surface under influence of a shear stress

  српски
  Нема информација

  српски
  

  клизна раван

  апстрактна раван у непосредној близини границе фаза течно/чврсто у којој течност почиње да клизи у односу на површину под утицајем напона смицања

• 6.4.5. електрокинетички потенцијал electrokinetic potential
  енглески
  

  zeta potential difference in electric potential between that at the shear plane (6.4.4) and that of the bulk liquid Note 1 to entry: Electrokinetic potential is expressed in volts.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  зета-потенцијал

  разлика у електричном потенцијалу између равни смицања (6.4.4) и масе течности

  Напомена 1 уз термин:   Електрокинетички потенцијал се изражава у волтима.

• 6.4.6. густина електричног површинског наелектрисања electric surface charge density
  енглески
  

  charges on an interface per area due to specific adsorption of ions from the liquid bulk, or due to dissociation of the surface groups Note 1 to entry: Electric surface charge density is expressed in coulombs per square metre.

  српски
  Нема информација

  српски
  

  наелектрисање на граници фаза по јединичној површини као последица адсорпције јона из масе течности или дисоцијације на површини

  Напомена 1 уз термин: Густина електричног површинског наелектрисања се изражава у кулонима по квадратном метру.