Пројекти
Претражите српске, европске и међународне стандарде. Одредите организацију која је доносилац стандарда, изаберите ознаку стандарда или кључну реч и завршите жељену претрагу. Можете додати и фазу у изради стандарда или комитет/комисију која је израдила стандард.
Multimedia security - Guideline for privacy protection of equipment and systems in and out of use - Part 1: General
60.60
Стандард објављен
Safety of machinery - Application of protective equipment to detect the presence of persons
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 1: Terms and definitions
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
60.60
Стандард објављен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: Bend - and shear - type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 16: Test methods for determining residual stresses of MEMS films - Wafer curvature and cantilever beam deflection methods
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 19: Electronic compasses
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 20: Gyroscopes
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
60.60
Стандард објављен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 25: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area
60.60
Стандард објављен
