Пројекти

Semiconductor devices - Part 5-17: Optoelectronic devices - Light emitting diode - Measuring methods of optoelectronic parameters of micro scale light emitting diode array

30.99   Нацрт комисије стандарда одобрава се за јавну расправу

Semiconductor devices - Part 5-19: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the micro photoluminescence for chip wafers of micro light emitting diodes

50.99   Дефинитивни текст нацрта стандарда одобрен за објављивање

Amendment 1 - Semiconductor devices - Part 5-6: Optoelectronic devices - Light emitting diodes

30.99   Нацрт комисије стандарда одобрава се за јавну расправу

Amendment 2 - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors

30.20   Почетак изјашњавања о нацрту комисије стандарда

Amendment 1 - Semiconductor devices - Part 9: Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)

30.20   Почетак изјашњавања о нацрту комисије стандарда

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling

30.99   Нацрт комисије стандарда одобрава се за јавну расправу

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test

40.60   Завршетак јавне расправе

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

20.99   Преднацрт стандарда прихвата се као нацрт стандарда

Radiation protection instrumentation - Equipment for continuous monitoring of radioactivity in gaseous effluents - Part 1: General requirements

40.60   Завршетак јавне расправе

Nuclear facilities - Electrical equipment important to safety - Qualification

40.60   Завршетак јавне расправе

Optical fibres - Part 1-20: Measurement methods and test procedures - Fibre geometry

30.20   Почетак изјашњавања о нацрту комисије стандарда

Optical fibres - Part 1-21: Measurement methods and test procedures - Coating geometry

30.20   Почетак изјашњавања о нацрту комисије стандарда

Optical fibres - Part 1-47: Measurement methods and test procedures - Macrobending loss

40.60   Завршетак јавне расправе

Optical fibres - Part 1-49: Measurement methods and test procedures - Differential mode delay

20.99   Преднацрт стандарда прихвата се као нацрт стандарда

Optical fibres - Part 1-50: Measurement methods and test procedures - Damp heat (steady state) tests

40.60   Завршетак јавне расправе

Optical fibres - Part 1-51: Measurement methods and test procedures - Dry heat (steady state) tests

40.60   Завршетак јавне расправе

Optical fibres - Part 1-52: Measurement methods and test procedures - Change of temperature tests

40.60   Завршетак јавне расправе

Optical fibres - Part 1-53: Measurement methods and test procedures - Water immersion tests

40.60   Завршетак јавне расправе