Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs Сертификационо тело: sertifikaciono.telo@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

Пројекти

Претражите српске, европске и међународне стандарде. Одредите организацију која је доносилац стандарда, изаберите ознаку стандарда или кључну реч и завршите жељену претрагу. Можете додати и фазу у изради стандарда или комитет/комисију која је израдила стандард.

LED Light sources – Performance requirements

50.00   Евидентирање података о дефинитивном тексту нацрта стандарда

TC 34/SC 34A Сазнај више

Coupled-stress acceleration test sequence for photovoltaic modules and materials

50.20   Почетак поступка одобравања дефинитивног текста нацрта стандарда

Concentric lay overhead electrical stranded conductors

40.20   Нацрт на јавној расправи 60 дана

Germicidal equipment - Excimer sources - Safety

40.20   Нацрт на јавној расправи 60 дана

Measurement of ozone generation from UV-C radiation sources and luminaires

30.20   Почетак изјашњавања о нацрту комисије стандарда

Germicidal equipment - Low-pressure mercury UV radiation sources for germicidal purpose - Safety

40.00   Допуњавање и евидентирање података о нацрту стандарда

Electrical safety of Snow melting photovoltaic (Snow PV) module - Requirements for construction and testing

40.99   Нацрт стандарда прихвата се као дефинитивни текст нацрта стандарда

Visual comfort of display terminals - Part 1: Introduction

40.99   Нацрт стандарда прихвата се као дефинитивни текст нацрта стандарда

Semiconductor devices - Performance evaluation of semiconductor processing components and inspection equipment - Part 1: Transmittance evaluation method of EUV pellicle

50.00   Евидентирање података о дефинитивном тексту нацрта стандарда

Semiconductor devices - Performance evaluation of semiconductor processing components and inspection equipment - Part 3: Nano-scale wafer surface inspection method using UV light

40.20   Нацрт на јавној расправи 60 дана

Semiconductor devices - Performance evaluation of semiconductor processing components and inspection equipment - Part 4: Evaluation methods for dimensional accuracy of laser dicing process

40.60   Завршетак јавне расправе

Quantum Interconnect – Part 1: Introduction and roadmap for standardization

50.20   Почетак поступка одобравања дефинитивног текста нацрта стандарда

High-level test description table for development of production test programs

50.00   Евидентирање података о дефинитивном тексту нацрта стандарда

High-level test description table for development of production test programs - General Principles

50.00   Евидентирање података о дефинитивном тексту нацрта стандарда

Rotating electrical machines for the traction of road vehicles

40.00   Допуњавање и евидентирање података о нацрту стандарда

Nuclear power plants - Instrumentation, control and electrical power systems - System software vulnerability and system software end-of-support management

50.60   Завршетак поступка одобравања дефинитивног текста нацрта стандарда

TC 45/SC 45A Сазнај више

Design principles and validation methods for the maintenance of microbial control for non-disposable fluid paths of dialysis equipment

20.99   Преднацрт стандарда прихвата се као нацрт стандарда

TC 62/SC 62D Сазнај више

Prosumer plugs and prosumer inlets for household and similar purposes - Part 1: General requirements –

20.99   Преднацрт стандарда прихвата се као нацрт стандарда

TC 23/SC 23B Сазнај више