Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-13:2018 ED2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
15. 2. 2018.

Опште информације

60.60     15. 2. 2018.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 60749-13:2018 describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices specified for a marine environment. The salt atmosphere test is considered destructive.
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
a) alignment with MIL-STD-883J Method 1009.8, Salt Atmosphere (Corrosion), including information on conditioning and maintenance of the test chamber and mounting of test specimens (including explanatory figures).

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749-13:2002 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749-13:2002/COR1:2003 ED1

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-13:2018 ED2
60.60 Стандард објављен
15. 2. 2018.

Национална преузимања

Poluprovodničke komponente – Metode mehaničkih i klimatskih ispitivanja – Deo 13: Slana magla

60.60   Стандард објављен