0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC TR 63133:2017 ED1

Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
11. 10. 2017.

Опште информације

60.60     11. 10. 2017.

IEC

TC 47

Технички извештај

31.080.01  

енглески  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC TR 63133:2017(E) specifies a design technique of performance estimation storage element, which can monitor semiconductor ageing and characterize ageing level. The estimated ageing level can be used to improve the reliability of system.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC TR 63133:2017 ED1
60.60 Стандард објављен
11. 10. 2017.