0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 63185:2020 ED1

Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method
8. 12. 2020.

Опште информације

99.60     19. 3. 2025.

IEC

TC 46/SC 46F

Међународни стандард

33.120.30  

енглески   француски   шпански  

Куповина

Ревидиран

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 63185:2020 relates to a measurement method for complex permittivity of a dielectric substrates at microwave and millimeter-wave frequencies. This method has been developed to evaluate the dielectric properties of low-loss materials used in microwave and millimeter-wave circuits and devices. It uses higher-order modes of a balanced-type circular disk resonator and provides broadband measurements of dielectric substrates by using one resonator, where the effect of excitation holes is taken into account accurately on the basis of the mode-matching analysis.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC 63185:2020 ED1
99.60 Повлачење ступило на снагу
19. 3. 2025.

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
IEC 63185:2025 ED2

Национална преузимања

SRPS EN IEC 63185:2021  
ISS

Мерење комплексне пермитивности диелектричких супстрата са малим губицима применом методе са кружним диск-резонатором

60.60   Стандард објављен

N086 Сазнај више