0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 62899-503-3:2021 ED1

Printed electronics - Part 503-3: Quality assessment - Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor - Transfer length method
24. 8. 2021.

Опште информације

60.60     24. 8. 2021.

IEC

TC 119

Међународни стандард

29.045     31.080.30  

енглески  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 62899-503-3:2021(E) specifies a measuring method of contact resistance for printed thin film transistors (TFTs) by the transfer length method (TLM). The method requires the fabrication of a test element group (TEG) with varying channel length (L) between source and drain electrodes. The method is intended for quality assessment of TFT electrode contacts and is suited for determining whether the contact resistance lies within a desired range.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 62899-503-3:2021 ED1
60.60 Стандард објављен
24. 8. 2021.