0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 63284:2022 ED1

Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
21. 4. 2022.

Опште информације

60.60     21. 4. 2022.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.30  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 63284:2022 covers the protocol of performing a stress procedure and a corresponding test method to evaluate the reliability of gallium nitride (GaN) power transistors by inductive load switching, specifically hard-switching stress

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 63284:2022 ED1
60.60 Стандард објављен
21. 4. 2022.