0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC PAS 62162:2000 ED1

Field-induced charged-device model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components
22. 8. 2000.
95.99   Повучен   3. 5. 2017.

Опште информације

95.99     3. 5. 2017.

IEC

TC 47

Јавно доступна спецификација

31.080.01  

енглески  

Куповина

Замењен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Describes a uniform method for establishing charged-device model (CDM) electrostatic discharge (ESD) withstand thresholds. All packages semiconductor components, thin film circuits, surface acoustic wave (SAW) components, opto-electronic components, hybrid integrated circuits (HICS), and multi-chip modules (MCMs) containing any of these components are to be evaluated according to this standard. IEC/PAS 62162 will be re-issued in the form of IEC international standard under reference IEC 60748-20.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC PAS 62162:2000 ED1
95.99 Повучен
3. 5. 2017.

РЕВИДИРАН ОД

ПОВУЧЕН
IEC 60749-28:2017 ED1