0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 63287-2:2023 ED1

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile
29. 3. 2023.

Опште информације

60.60     29. 3. 2023.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 63287-2:2023 gives guidelines for the development of reliability qualification plans using the concept of mission profile, based on the environmental conditioning and proposed usage of the product. This document is not intended for military- and space-related applications.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 63287-2:2023 ED1
60.60 Стандард објављен
29. 3. 2023.

Национална преузимања

SRPS EN IEC 63287-2:2023  
ISS

Полупроводнички уређаји – Смернице за планирање квалификација поузданости – Део 2: Концепт профила мисије

60.60   Стандард објављен

N022 Сазнај више