0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-1:2002 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
30. 8. 2002.

Опште информације

60.60     30. 8. 2002.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски   шпански  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all the other parts of the series.

The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1996 ED2

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1996/AMD1:2000 ED2

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1996/AMD2:2001 ED2

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-1:2002 ED1
60.60 Стандард објављен
30. 8. 2002.

ИСПРАВКЕ / ИЗМЕНЕ

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-1:2002/COR1:2003 ED1