0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749:1996 ED2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
10. 4. 2002.
95.99   Повучен   21. 5. 2004.

Опште информације

95.99     21. 5. 2004.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски  

Куповина

Замењен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Establishes uniform preferred test methods with preferred values for stress levels for judging the environmental properties of semiconductor devices.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1984 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1984/AMD1:1991 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1984/AMD2:1993 ED1

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1996 ED2
95.99 Повучен
21. 5. 2004.

ИСПРАВКЕ / ИЗМЕНЕ

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1996/AMD1:2000 ED2

ПОВУЧЕН
IEC 60749:1996/AMD2:2001 ED2

РЕВИДИРАН ОД

ПОВУЧЕН
IEC 60749-3:2002 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749-4:2002 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749-7:2002 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749-9:2002 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749-10:2002 ED1

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-11:2002 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749-12:2002 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749-13:2002 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749-21:2004 ED1

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-19:2003 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749-6:2002 ED1

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-36:2003 ED1

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-14:2003 ED1

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-25:2003 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749-24:2004 ED1

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-8:2002 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749-20:2002 ED1

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-31:2002 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749-22:2002 ED1

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-32:2002 ED1

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-1:2002 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749-15:2003 ED1

ПОВУЧЕН
IEC 60749-5:2003 ED1

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-2:2002 ED1