0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 62047-44:2024 ED1

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices
22. 2. 2024.

Опште информације

60.60     22. 2. 2024.

IEC

TC 47/SC 47F

Међународни стандард

31.080.99  

енглески  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 62047-44:2024 describes terminology, definitions and test methods that are used to evaluate and determine the dynamic performance of MEMS (Micro-Electromechanical Systems) resonant electric‑field‑sensitive devices. It also specifies sample requirements and test equipment for dynamic performances of MEMS resonant electric‑field‑sensitive devices. The statements made in this document are also applicable to MEMS resonant electric‑field‑sensitive devices with various driving mechanisms such as electrostatic, electrothermal, electromagnetic, piezoelectric, etc.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 62047-44:2024 ED1
60.60 Стандард објављен
22. 2. 2024.