0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-18:2002 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
13. 12. 2002.

Опште информације

99.60     10. 4. 2019.

WPUB   

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски   шпански  

Куповина

Ревидиран

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Provides a test procedure for defining requirements for testing packaged semiconductor integrated circuits and discrete semiconductor devices for ionizing radiation (total dose) effects from a cobalt-60 gamma ray source.
Proposes an accelerated annealing test for estimating low dose rate ionizing radiation effects on devices. This annealing test is important for low dose rate or certain other applications in which devices may exhibit significant time-dependent effects.
It is intended for military- and space-related applications.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749-18:2002 ED1
99.60 Повлачење ступило на снагу
10. 4. 2019.

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-18:2019 ED2