0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-16:2003 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
17. 1. 2003.

Опште информације

60.60     17. 1. 2003.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски   шпански  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Defines a test aiming at detecting the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills).

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC PAS 62171:2000 ED1

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-16:2003 ED1
60.60 Стандард објављен
17. 1. 2003.