0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

IEC 60749-16:2003 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
17. 1. 2003.

Опште информације

60.60     17. 1. 2003.

IEC

TC 47

Međunarodni standard

31.080.01  

engleski   francuski   španski  

Kupovina

Objavljen

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

Defines a test aiming at detecting the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills).

Životni ciklus

PRETHODNO

POVUČEN
IEC PAS 62171:2000 ED1

TRENUTNO

OBJAVLJEN
IEC 60749-16:2003 ED1
60.60 Standard objavljen
17. 1. 2003.