0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-33:2004 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
9. 3. 2004.

Опште информације

60.60     9. 3. 2004.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски   шпански  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

The unbiased autoclave test is performed to evaluate the moisture resistance integrity of non-hermetically packaged solid-state devices using moisture condensing or moisture saturated steam environments. It is a highly accelerated test which employs conditions of pressure, humidity and temperature under condensing conditions to accelerate moisture penetration through the external protective material or along the interface between the external protective material and the metallic conductors passing through it.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC PAS 62172:2000 ED1

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-33:2004 ED1
60.60 Стандард објављен
9. 3. 2004.