0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 63616:2025 ED1

Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method
28. 11. 2025.

Опште информације

60.60     28. 11. 2025.

IEC

TC 46/SC 46F

Међународни стандард

17.220.20     29.050  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 63616:2025 relates to a conductivity measurement method of thin metal films at microwave and millimeter-wave frequencies. This method has been developed to evaluate the conductivity of a metal foil used for adhering to a substrate or the interfacial conductivity of a metal layer formed on a dielectric substrate. It uses higher-order modes of a balanced-type circular disk resonator and provides broadband conductivity measurements by using a single resonator.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 63616:2025 ED1
60.60 Стандард објављен
28. 11. 2025.

Национална преузимања

SRPS EN IEC 63616:2026  
ISS

Мерење проводљивости танких металних филмова на фреквенцијама микро и милиметарских таласних дужина – Метода балансираног резонатора са кружним диском

60.60   Стандард објављен

N086 Сазнај више