IEC 62899-202-13 ED1 specifies a test pattern as well as resistance and thickness measurement methods for the conductive layer in printed and in-mould-electronics.
ПРОЈЕКАТ
IEC 62899-202-13 ED1
50.60
Завршетак поступка одобравања дефинитивног текста нацрта стандарда
11. 9. 2026.