IEC 62899-202-13 ED1 specifies a test pattern as well as resistance and thickness measurement methods for the conductive layer in printed and in-mould-electronics.
ПРОЈЕКАТ
IEC 62899-202-13 ED1
50.20
Почетак поступка одобравања дефинитивног текста нацрта стандарда
31. 7. 2026.
Да бисте видели цео садржај, морате се регистровати или пријавити помоћу корисничког имена које већ имате.