0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-34:2004 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
10. 3. 2004.

Опште информације

99.60     28. 10. 2010.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски   шпански  

Куповина

Ревидиран

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Used to determine the resistance of a semiconductor device to thermal and mechanical stresses due to cycling the power dissipation of the internal semiconductor die and internal connectors. This happens when low-voltage operating biases for forward conduction (load currents) are periodically applied and removed causing rapid changes of temperature. The power cycling test is complementary to high temperature operating life.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC PAS 62206:2000 ED1

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749-34:2004 ED1
99.60 Повлачење ступило на снагу
28. 10. 2010.

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-34:2010 ED2