0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 62373:2006 ED1

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
18. 7. 2006.

Опште информације

60.60     18. 7. 2006.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.30  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 62373:2006 ED1
60.60 Стандард објављен
18. 7. 2006.