0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

IEC 62373:2006 ED1

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
18. 7. 2006.

Опште информације

60.60     18. 7. 2006.

IEC

TC 47

Međunarodni standard

31.080.30  

engleski   francuski  

Kupovina

Objavljen

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Životni ciklus

TRENUTNO

OBJAVLJEN
IEC 62373:2006 ED1
60.60 Standard objavljen
18. 7. 2006.