0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 62374:2007 ED1

Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
29. 3. 2007.

Опште информације

60.60     29. 3. 2007.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.99  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Provides a test method of Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) for gate dielectric films on semiconductor devices and a product lifetime estimation method of TDDB failure

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 62374:2007 ED1
60.60 Стандард објављен
29. 3. 2007.