0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

IEC 62374:2007 ED1

Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
29. 3. 2007.

Опште информације

60.60     29. 3. 2007.

IEC

TC 47

Međunarodni standard

31.080.99  

engleski   francuski  

Kupovina

Objavljen

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

Provides a test method of Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) for gate dielectric films on semiconductor devices and a product lifetime estimation method of TDDB failure

Životni ciklus

TRENUTNO

OBJAVLJEN
IEC 62374:2007 ED1
60.60 Standard objavljen
29. 3. 2007.