0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-30:2005 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
10. 8. 2011.

Опште информације

99.60     17. 8. 2020.

WPUB   

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски  

Куповина

Ревидиран

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Establishes a standard procedure for determining the preconditioning of non-hermetic surface mount devices (SMDs) prior to reliability testing. The test method defines the preconditioning flow for non-hermetic solid-state SMDs representative of a typical industry multiple solder reflow operation. These SMDs should be subjected to the appropriate preconditioning sequence described in this standard prior to being submitted to specific in-house reliability testing in order to evaluate long term reliability.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC PAS 62182:2000 ED1

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749-30:2005 ED1
99.60 Повлачење ступило на снагу
17. 8. 2020.

ИСПРАВКЕ / ИЗМЕНЕ

ПОВУЧЕН
IEC 60749-30:2005/AMD1:2011 ED1

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-30:2020 ED2