0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 62416:2010 ED1

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
26. 4. 2010.

Опште информације

60.60     26. 4. 2010.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.30  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 62416:2010 ED1
60.60 Стандард објављен
26. 4. 2010.