0 Stavka

Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd

Glavni meni

IEC 62416:2010 ED1

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors

Datum objavljivanja: 26. 4. 2010.

Опште информације

Trenutna faza: 60.60 Effective date: 26. 4. 2010.

Inicijator: IEC

Pripada: TC 47

Vrsta: Međunarodni standard

ICS: 31.080.30

Jezik: engleski francuski

Kupovina

Status: Objavljen

PDF

Papir

PDF i papir

Jezik

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.

Životni ciklus

TRENUTNO

OBJAVLJEN
IEC 62416:2010 ED1
60.60 Standard objavljen
26. 4. 2010.