0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 62418:2010 ED1

Semiconductor devices - Metallization stress void test
22. 4. 2010.

Опште информације

60.60     22. 4. 2010.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 62418:2010 describes a method of metallization stress void test and associated criteria. It is applicable to aluminium (Al) or copper (Cu) metallization.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 62418:2010 ED1
60.60 Стандард објављен
22. 4. 2010.