0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

IEC 62418:2010 ED1

Semiconductor devices - Metallization stress void test
22. 4. 2010.

Опште информације

60.60     22. 4. 2010.

IEC

TC 47

Međunarodni standard

31.080.01  

engleski   francuski  

Kupovina

Objavljen

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

IEC 62418:2010 describes a method of metallization stress void test and associated criteria. It is applicable to aluminium (Al) or copper (Cu) metallization.

Životni ciklus

TRENUTNO

OBJAVLJEN
IEC 62418:2010 ED1
60.60 Standard objavljen
22. 4. 2010.