0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 60749-37:2008 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
30. 1. 2008.

Опште информације

99.60     12. 10. 2022.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.01  

енглески   француски  

Куповина

Ревидиран

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

Provides a test method that is intended to evaluate and compare drop performance of surface mount electronic components for handheld electronic product applications in an accelerated test environment, where excessive flexure of a circuit board causes product failure. The purpose is to standardize the test board and test methodology to provide a reproducible assessment of the drop test performance of surface-mounted components while producing the same failure modes normally observed during product level test.

Животни циклус

ПРЕТХОДНО

ПОВУЧЕН
IEC PAS 62050:2004 ED1

ТРЕНУТНО

ПОВУЧЕН
IEC 60749-37:2008 ED1
99.60 Повлачење ступило на снагу
12. 10. 2022.

РЕВИДИРАН ОД

ОБЈАВЉЕН
IEC 60749-37:2022 ED2