0 Ставка
Мој налог
Телефон: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Продаја стандарда: prodaja@iss.rs Семинари, обуке: iss-edukacija@iss.rs Информације о стандардима: infocentar@iss.rs
Стевана Бракуса 2, 11030 Београд
Главни мени

IEC 62374-1:2010 ED1

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
29. 9. 2010.

Опште информације

60.60     29. 9. 2010.

IEC

TC 47

Међународни стандард

31.080.99  

енглески   француски  

Куповина

Објављен

Језик на коме желите да примите документ.

Апстракт

IEC 62374-1:2010 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices.

Животни циклус

ТРЕНУТНО

ОБЈАВЉЕН
IEC 62374-1:2010 ED1
60.60 Стандард објављен
29. 9. 2010.